Способ регулирования межэлектродного зазора при электрохимической обработке

Номер патента: 1214351

Авторы: Атрощенко, Ганцев, Калабугина, Мухутдинов

ZIP архив

Текст

СО 1 ОЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИ 4 ЕОКИРЕСПУБЛИН 514 В 23 Н 7 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ЕТЕЛЬСТВ АВТОРСКОМУ 8ЛенСер а ав рдж Р.Х,Г .Муху (086, тельс иов о ССС 1980,ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ ССПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТ(71) Уфимский орденационный институт им,никидзе(54) (57) СПОСОБ РЕГУЛИРОВАНИЯ МЕЖ - ЭЛЕКТРОДНОГО ЗАЗОРА ПРИ ЭЛЕКТРОХИМИ ЧЕСКОИ ОБРАБОТКЕ по авт.св. 1891311 о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности регулирования, вводят циклы искусственного снижения давления струи электролита на входе в рабочую зону межэлект родного зазора и совмещают их с цик лами измерения вероятностных характеристик высокочастотных сигналов.1 12Изобретение относится к электрофизическим и электрохимическим методам обработки, в частности касается способов регулирования межэлектродного зазора при электрохимической обработке и .является дополнительным к основному авт,св.И 9 391311,Цель изобретения - повышение точ -ности регулирования зазора путемвыполнения измерений величин, косвенно определяющих зазор в условияй,максимально приближенных к режимамвозникновения крайних замыканий.На чертеже приведены зависимостивыходного сигнала схемы измерениявероятностных характеристик высокочастотных колебаний напряжения Бот величины зазора 3 при постоянномдавлении струи электролита на входев рабочую зону межэлектродного зазора (кривая 1) и при совмещении цикла измерения с циклом искусственного снижения давления электролитана выходе в рабочую зону межэлектродного зазора (кривая 2),Способ реализуется следующим образом.На равных интервалах времениопределяют текущие значения вероятностных характеристик высокочастотных сигналов, сравнивают со значе -нием, измеренных в начале обработки на первом интервале и принятымза эталон, после чего по результатам сравнения производят регулирование межэлектродного зазора, причем измерение текущих значений вероятностных характеристик высокочастотных сигналов производят путем поочередного измерения на каждоминтервале времени вероятностных характеоистик смеси высокочастотныхсигналов и помех при рабочем напряжении выше напряжения возникновения высокочастотных сигналов взазоре и вероятностных характеристик помех при рабочем напряжении ниже напряжения возникновения высокочастотных сигналов в зазоре с последующим вычитанием измеренных значений и использованием полученной величины в качестве параметра регулирования.При этом, циклы измерений совпадают с циклами искусственного снижения давления струи электролита на входе в зону межэлектродного зазора.14351 О 5 20 25 ЗО 35 40 45 50 55 В процессе обработки высокочастотные колебания напряжения в зазореобразуются вследствие локальных микропробоев межэлектродного промежутка. Микропробои происходят по пузырькам газа, который образуется врезультате химической реакции, протекающей в зазоре, а также эа счетнагрева электролита. При этом, интенсивность микропробоев определяется как величиной зазора, таки концентрацией газовых пузырьковв зазоре, Поэтому при высоком давлении электролита на входе в межэлектродный зазор из-за низкой концентрации газовых пузырьков интенсивностьвысокочастотных колебаний недостаточна для обеспечения требуемой точности регулирования.Использование пониженного давления электролита на входе в межэлектродный зазор увеличивает концентрацию газовых пузырьков, а следовательно и интенсивность высокочастотных колебаний, но ухудшает показателикачества процесса обработки,Кратковременное снижение давления практически не ухудшает качества процесса обработки, а увеличениеинтенсивности высокочастотных колебаний в момент снижения давленияпозволяет оценивать межэлектроднь 1 йзазор с достаточной точностью.Частоту циклов снижения давления выбирают так, чтобы за счетобработки при пониженном давлениине ухудшалось качество обработки.Время, на которое снижается давление, должно быть достаточным длятолько инициирования высокочастотныхколебаний в зазоре.Чувствительносгь способа измерения величины межэлектродного зазораопределяется на чертеже, как тангенс угла наклона к кривой зависимости выходного напряжения от зазора,Как видно на чертеже, при осуществлении способа при искусственномснижении давления чувствительностьизмерения зазора всегда выше, чемпри работе без изменения давления,Таким образом, повышение чувствительности измерения параметров, косвенно определяющих межэлектродныйзазор, реализуемое в способе обеспечивает повьшение точности регулирования межэлектродного зазора, а следовательно и точность обработки.

Смотреть

Заявка

3797847, 09.10.1984

УФИМСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. СЕРГО ОРДЖОНИКИДЗЕ

АТРОЩЕНКО ВАЛЕРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, ГАНЦЕВ РУСТЕМ ХАЛИМОВИЧ, КАЛАБУГИНА ЕЛЕНА МИХАЙЛОВНА, МУХУТДИНОВ РАФАИЛЬ РАМЗИСОВИЧ

МПК / Метки

МПК: B23H 7/18

Метки: зазора, межэлектродного, обработке, электрохимической

Опубликовано: 28.02.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1214351-sposob-regulirovaniya-mezhehlektrodnogo-zazora-pri-ehlektrokhimicheskojj-obrabotke.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ регулирования межэлектродного зазора при электрохимической обработке</a>

Похожие патенты