Способ определения демпфирующей способности объекта

Номер патента: 1837821

Опубликовано: 30.08.1993

Автор: Хельмут

МПК: A43B 13/14, A43B 17/00, A43B 19/00, A43B 5/00

Метки: вкладыш, низа, обуви, обувь, подошва, стелька

...этого вкладыша, во многих отношениях отличающегося от форм осуществления согласно фиг. 1 и 2;(а) В то время, как в передней зоне ноги 5 и в зоне каблука 7 соответственно в качестве профилирования предусмотрено попе 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 речное профилирование 2. эона геленка 6 имеет проходящее в продольном направлении вкладыша 1 продольное профилирование 8, которое на обоих продольных концах эоны каблука 6 через переходное поперечное профилирование 9 постепенно переходит в поперечное профилирование 2 передней зоны ноги 5 и зоны каблука 7.(Ь) Как поперечное профилирование 3, так и продольное профилирование 8, а также переходное поперечное профилирование 9 выполнены в виде зигзагообразного профиля, как показано на виде...

Номер патента: 132971

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Вербловский, Лаврентьев, Лукьянов, Магид, Медведев, Пузыня, Славин, Стрижов, Хомутовский, Цуккерман

МПК: A43D 11/12, A43D 25/06, A43D 37/00

Метки: агрегат, взъерошивания, гусариковой, заготовки, затяжной, колодке, кромки, обуви, подошв, приклейки, следа, формования, центрирования

...труда.Агрегат состоит: цз монтированного на станице враща(ошсгося в горизонтальной плоскости барабана включающего в себя шесть секций каждая из которых снабжена двумя диаметрально расположеццымц поворотными колодками и двумя пресс-формами для формовацця следа обуви и для приклеивания подошвы монтированной на станине переме. (цакнцейся каретки с закрепленными на ней механизмом для взъерошивания затяжной кромки заготовки, копирного устройства и привода.На фиг. 1 изображсна схема агрегата, вид сбоку; на фиг. 2 - вцд агрегата по стрелке А ца фиг. 1; на фиг. 3 - кинематичсская схема агрегата с приводом.На станине 1 агрсгата крепится вращающийся в горизонтальной плоскости барабан 2, кронштейн 3, каретка 4 с закреплеццым ца цей мс...

Номер патента: 1075184

Опубликовано: 23.02.1984

Авторы: Колесников, Косюк, Пашанин

МПК: G01R 25/00

Метки: инфранизких, низких, фазометр, частот

...опорногогенератора, 65 М - число подсчитанных импуль"сов,частота, на которой производятся измерения.Т.е. в этом случае необходимо знать частоту исследуемых сигналов, для чего частоту исследуемого сигнала измеряют частотомером, что приводит к увеличению времени измерения. Так как частота генератора счет. ных импульсов постоянна, то при измерении фазовых сдвигов в широком диапазоне частот число импульсов,поступающих различно для одного и того же фазового угла для различных частот. Кроме того, емкость счетчика должна быть очень большой, так как например, при изменении частоты от 10 ц до 100 Гц число импульсов для одного и того же фазового углаизменяется на четыре порядка, т.е, здесь необходим счетчик с большойемкостью, что вызывает...

Номер патента: 823843

Опубликовано: 23.04.1981

Авторы: Гугунишвили, Краснов

МПК: G01B 9/00

Метки: бесконтактного, микрообъектов, попе-речных, размеров

...объекта;С 0(сд - усредненная спектральная интенсивность.Истинное значение функции распределения числа частиц по размерам аппроксимируется выражением пк+пи Формула изобретения Устройство содержит квантовый генератор 1 расширитель 2 когерентного световогопучка, позитивный слайд3 с анализируемым изображением, кассету 4, двигатель 5 вращения кассеты 4, объектив б, узкополосныйфильтр-диафрагму 7, фотодиод 8, микрометрическую головку 9, инерционный гальванометр 10.Способ реализуется следующим образом,Оптический квантовой генератор 1с помощью расширителя 2 когерентногосветового пучка освещает позитивныйслайд 3 с анализируемым изображением,Слайд 3 крепится к кассете 4, вращаемой с помощью двигателя 5 в плоскости, перпендикулярной...

Номер патента: 861969

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Колесов, Нахутин, Полуэктов, Рубежный

МПК: G01H 9/00

Метки: вынужденных, исследуемого, колебаний, образца, резонанса

...1, испытуемое волокно 4, генератор 5, пьезокристалл б, подключенный к генератору 5 зажимом 7, в котором крепится волокно 4, зеркало 8, коллиматор, включающйй линзы 9,10, Фотоприемник 11 и соединенный с ним анализатор 12 спектра.устройство работает следующим образом.Излучение 3 лазера 1 фокусируется линзой.2 на нить испытуемого волокна 4, закрепленного в зажиме 7, установленном на пьезокристалле б. Нить волокна 4 воспринимает колебания через пьезокристалл б от генератора 5. Излучение 3 лазера 1, рассеянного нитью .волокна 4, поворачивается зеркалом на 90 и погадает через коллиматор с линзами 9,10 на фотоприемник 11.фокус линзы 9 должен находиться на нити волокна 4. Электрический сигнал с фотоприемника 11 поступает на авали- затор 12...