Способ определения координат дефекта в материале

Номер патента: 1147961

Автор: Дубянский

ZIP архив

Текст

(51) С 01 Б 23/ ТЕН ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(5 б) Авторское свидетельство СССР ф 7985 б 8 кл. (3 01 1 Ч 23/181979Рети П, Неразрушающие методы контроля металлов. М Машиностроение, 1972, с,18 (прототип), (54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КООРДИНАТ.ДЕФЕКТА В МАТЕРИАПЕ, заключающийся в том, что в фиксированной пространственной системе координат устанавливают два источника проникаю щего изЛучения на одном уровне относительно одной из координатных плоскостей, вводят в материал метку, освещают дефект и метку и фиксируют положение теней от метки и дефекта на светочувствительном слое, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью повышения информативности,один из источников проникающегоизлучения помещают на одной координатной оси, а второй - на координатной плоскости, проходящей черезпервый источник излучения,светочувствительный слой. совмещают с координатной плоскостью, перпендикулярнойоси размещения первого источника,метку устанавливают в начале координат, устанавливают вторую меткутак,что она является проекцией второго источника излучения на координатную плоскость,где расположен све. точувствительный.слой,измеряют рас- щ.стояние от меток до тени от дефекта,ближайшей к началу координат, измеряют расстояние между тенями от дефекта и полученные данные используют Спри определении координат дефекта,1147961 п 5 -К +258 215 Е)1 в ф 6+ 1 п 4 6- К) (в+Ц 5-т к ) 1 (5 Е) 25 Составитель Е.ЩелинаРедактор Н.Киштулинсц Техред Т,Маточка Корректор М,Пожо Заказ 1568/36 Тираж 897 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб ц.4/5 Филиал ППП Патент, г,Ужгород, ул.Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении координатдефекта в материале при помощи проникающего, например, рентгеновского,излучения,Целью изобретения является повышение информативности.На чертеже показана схема реализации способа,На схеме приняты обозначения;дефект 1, источники 2 и 3 проникающего, преимущественно, рентгеновского излучения, прямоугольная системакоординат х,у,г, в которой требуется определить координаты дефекта 1, светочувствительный слой 4совмещен с координатной плоскостью уох, метки 5 и 6, тени 7 и 8от дефекта.Способ осуществляется следующим образом,Источники 2 и 3. проникающегоизлучения устанавливает на одномуровне относительно одной из координатных плоскостей причем одиниз источников 2 помещают на однойкоординатной оси, а второй источник3 - на координатной плоскости, проходящей через первый источник 2излучения. Светочувствительный слой4 совмещают с координатной плоскостью, перпендикулярной оси размещения первого источника. Устанавливают метку 5 в начале координат,устанавливают вторую метку б так,что она является проекцией второгоисточника излучения на координатную плоскость, где расположен светочувствительный слой 4, Освещаютдефект и метки и фиксируют положениетеней 7 и 8 от меток и дефекта насветочувствительном слое. Измеряютрасстояние между тенями 7 и 8, отближайшей к началу координат тени7 до метки 5 и до метки б и определяют коррдинаты дефекта по следующим соотношениям где 1 - расстояние между тенями 7и 8;щ - расстояние от ближайшей кначалу координат тени 7 дометки 5;расстояние от ближайшей кначалу координат тени 7 дометки б;б - расстояние между источниками 2 и 3 проникающегоизлучения, равное расстоянию между метками 5 и б;расстояние от источника 2,или 3 до светочувствительного слоя 4 (координатнойплоскости хоу), т.е. расстояние от источника 2 дометки 5, равное расстояниюот источника 3 до метки бРасстояния Б и Ь измеряют при установке источника 2 и 3 и меток 5 и б.

Смотреть

Заявка

3471122, 20.07.1982

МАКЕЕВСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-СТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ

ДУБЯНСКИЙ ИГОРЬ СЕМЕНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 23/18

Метки: дефекта, координат, материале

Опубликовано: 30.03.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1147961-sposob-opredeleniya-koordinat-defekta-v-materiale.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения координат дефекта в материале</a>

Похожие патенты