Способ поиска залежей цеолитов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
111Изобретение относится к области поисков и разведки месторождений цеолитов, может быть использовано при определении диаметра входных окон цеолитов и их минераЛогического типа.Известен способ поиска залежей цеолитов, включающий выявление цеолитоперспективных отложений, определение в отложениях содержаний тория и выявление залежей цеолитов по аномально повышенным содержаниям тория.Этот способ эффективен при поисках осадочно-туфогенных цеолитов, генетически связанных с вулканической деятельностью, поставляющей торий в значительных количествах 111,Однако при поисках других типов цеолитов, например осадочно-диагенетических и эпигенетических, образовавшихся в условиях дефицита тория, данный способ не всегда может быть реализован. Наиболее близким к изобретению является способ поиска залежей цеолитов, включающий выявление цеолитоперспективных отложений, отбор образцов отложений из их разреза, выявление в отложениях ситового эффекта путем изучения сорбции ими адсорбатов с различными размерами наименьших частиц, причем в качестве адсорбатов используют молекулы воды, нормального гексана и циклогексана и выявляют залежи цеолитов по наличию ситового эффекта 21,Основным недостатком известного способа является необходимость выполнения при его реализации такой трудоемкой и дорогостояшей операции,как отбор образцов отложений, что обусловливает низкую производительность труда.Целью изобретения является повышение производительности труда.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу поиска залежей цеолитов, включаюшему выявление цеолитоперспективных отложений, определение в них содержаний адсорбатов с различаюшимися размерами наименьших частиц, вы 3358явление ситового эффекта и суждение по его наличию о наличии залежи цеолитов, в качестве адсорбатов используют ионы радиоактивных элементов, а наличие ситового эффекта определяют непосредственно в точке исследования.Изобретение основано на том, что всетипы цеолитов, независимо от их генезиса, минералогического состава и структуры пустотного пространства (диаметра входных .окон) характеризуются выраженным ситовым эффектом, т,е. способндстью сорбировать адсорбаты, ионные радиусы которых меньше диаметра входных окон цеолитов, и, наоборот, не .сорбировать адсорбаты, ионные радиусы которых больше диаметра входных окон цеолитов. Использование в качестве адсорбатов ионов радиоактивных элементов позволяет оценивать ситовой эффект путем определения содержания этих радиоактивных элементов по разрезу от О ложений гамма-спектрометрическим методом, т.е. без отбора образцов отложений.Способ реализуется следуюшим образом,По разрезу скважины гамма-спектрометрическим методом определяют содержания радиоактивных элементов, напримеркалия и урана.В том случае, когда калий, обладаюшийбольшим ионным радиусом (266 А), характеризуется пониженным содержаниемв исследуемых интервалах, а уран, обладаюший меньшим ионным радиусом (1;66 -1,86 А), содержится в максимальных количествах, делают вывод о наличии ситовогоэффекта, и, как следствие, о наличии залежей цеолитов,Использования при определении содержаний радиоактивных элементов в цеолитоспективных отложениях гамма-спектрометрического метода повышает производительность труда при массовых поисках40 цеолитов, так как позволяет осуществлятьего в условиях естественного залегания отложений (в скважине, канаве, обнажениии т.д.) без отбора образцов.Составитель Э. Волконский Редактор В. Данко Техред И. Верес Корректор В. Бутяга Заказ 9833/39 Тираж 748 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
СмотретьЗаявка
3633891, 17.08.1983
БЕЛОРУССКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ГЕОЛОГОРАЗВЕДОЧНЫЙ ИНСТИТУТ
МАСЮКОВ ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ, ТЮМЕНЦЕВ ВИТАЛИЙ ЛЕОНИДОВИЧ
МПК / Метки
Метки: залежей, поиска, цеолитов
Опубликовано: 07.01.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1133578-sposob-poiska-zalezhejj-ceolitov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ поиска залежей цеолитов</a>
Способ автономного выявления точечных аномалий при гидрогеохимических поисках рудных месторождений
Номер патента: 1296974
Опубликовано: 15.03.1987
МПК: G01V 9/00
Метки: автономного, аномалий, выявления, гидрогеохимических, месторождений, поисках, рудных, точечных
...изводят отбор проб воды с интервалом Л если для данной точки опробования вели-2 сут на протяжении 15-30 сут. В чина 8 меньше 0,5, то ее следует классифицировать как аномальную. случае постоянства погодных условий(отсутствие осадков) отбор проб про- Способ позволит значительно умень- водят через 2 сут в течение 30 дн, шить объемы полевых работ, поскольку Если погодные условия не устойчивые дает возможность оценить аномальность (периодическое выпадение осадков) любой точки опробования по всем поиспробы воды берутся ежедневно на про- ковым признакам без предварительного тяжении 15 дн. Отобранные пробы воды расчета фоновых значений этих призна- подвергаются общему химическому ана- ков (последнее требует опробования лизу (оцределяют...
Устройство для ввода элементов, например, радиоактивных реперов, в стенку скважины
Номер патента: 678906
Опубликовано: 25.02.1980
МПК: E21B 23/00, E21B 47/00, E21B 49/00, G01V 5/00
Метки: ввода, например, радиоактивных, реперов, скважины, стенку, элементов
...выступом,Устройство спускается в скважинуприпомощи герметично соединенных между собой звеньев труб, например буровыхштанг для закачки в скважину глинистогораствора, первое звено 24 которых жест 15 ко н герметично присоединено к верхнеЯчасти гидроцилиндра 1, а последнее звеноприсоединено к нагнетательной установке.3Принцип работы устройства состоит вследующем,Перед вводом репера в,.стенку сква жины при помощи регулировочных гаек 17задают требуемый угол наклона направляющего кожуха 11, то есть угол введения датчика 7 в стенку скважины. Репер 7 соединяют с конечным звеном 6,для чего хвостовик репера с наружнымвыступом вводят в зацепление с внутренним выступом собачки 21 внутри цилиндра 20, при этом упорная втулка 23 выведена из...
Устройство для укладки элементов тоннельной обделки в своды камер большого диаметра
Номер патента: 128895
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Иванов, Лебедев, Салов, Ходош, Чижов
МПК: E21D 11/40
Метки: большого, диаметра, камер, обделки, своды, тоннельной, укладки, элементов
...по рельсам, проложенным ня пл ятфоръ 1 е, В сВою Очередь передвигеемо по ним вдоь камеры.На чертеже устройство показано устансвлечным в камере.Элементы 1 тоннельной обделкц подвозятся под эректор 2 с позоротныл захватом 3 на тележке 4, перемещающейся вдоль камеры 5 п: рельсам о.Камера 5 имеет свод 12 большого диаметра и в поперетНоя ссчс ;и, КЯК ЭТО ВИДНО ИЗ тЕРТЕ)КЯ, На КОТОРОМ ПОЛ КалЕРЫ ОООЗНЯЧЕН ПОЗИЦИЕЙ 7, является лишь частью круга этого диаметра.Для работы в камере с такой минимальной высотой свода при его большом диаметре эректор 2 выполнен с Возможностью перемещения в поперечном направлении, для чего он смонтирован на самоходной тележке 8, которая Може перезещяться ПО рельсаги 9, про,Ожс 1 н 1; н;1 платформе...
Измерительный элемент к устройству для автоматического контроля среднего диаметра наружных резьб
Номер патента: 688812
Опубликовано: 30.09.1979
Автор: Кульчицкий
МПК: G01B 3/40
Метки: диаметра, измерительный, наружных, резьб, среднего, устройству, элемент
...является повышение производительности контроля,Для этого в предлагаемом устройстве наружные поверхности выступов гребенок выполнены наклонными к оси гребенок под углом, превышающим угол трения, ц разно- направлены у каждой из гребенок.На чертеже изображена рабочая ч предложенного измерительного элемент ругого на вслцчццу половины шага коцтролируемой резьбы.Наружные повсрхностп 3 выступов грсбенок 1 и 2 выполнены наклонцымц к оси О - О гребенок под углом р, прсвь:шакпциц угол трения. Направление наклона поверхностей 3 и 4 у каждой цз гребенок выбрацо протцвоположчым.Работает измерительный элемент следующим образом.Устанавливают деталь 5 мсжд, грсбсцкамц 1 ц 2.Если при зведенцц контролцр,: мой детали 5 между гребенками 1 и 2,...
Способ контроля входных окон для фотоэлектронных умножителей
Номер патента: 1341688
Опубликовано: 30.09.1987
Авторы: Макеев, Петров, Смелянский, Трубицын
МПК: H01J 5/04
Метки: входных, окон, умножителей, фотоэлектронных
...сигналов регистрируемого к черенковскому в зависимости от границы светопропускания ВО в коротковолновой областиспектра и по значению их отношения определяют соответствие параметровВО заданным критериям. 4 ил,41688 3 13Оценку входного окна проводят изусловияЛ, сйфр 0 1 ф 7что для данного случая составляет560 нмЪ й 625 нм,Предлагаемый способ контроля входных окон ФЭУ позволяет достичь "1 ООЕэффективности отбора входных окон дляФЭУ, работающих в полях ионизирующихизлучений; повысить в 2-5 раз точность измерения световых сигналовпутем увеличения отношения сигнал/помеха в условиях воздействия ионизирующего излучения,Формула изобретения Способ контроля входных окон для фотоэлектронных умножителей, работающих в полях ионизирующих...
Предыдущий патент: Устройство для каротажа магнитной восприимчивости
Следующий патент: Способ определения нефтегазонасыщенности пород
Случайный патент: Корпус прибора