Электромагнитный структуроскоп

Номер патента: 1000889

Авторы: Барабашкин, Берестова, Сандовский, Степанова

ZIP архив

Текст

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Соева Советски кСфциапистическикРеспублик(23)Приорнтет(5 ) МКд. 6 01 й 27/90 Гевударстееяяьк кфавтет Опубликовано 28,02,83 Бюллетень РВ 8 ав мим ямбретекк я вткрытий. 14 (088. 8) Вата опубликования описания 28 02 83 В.А. Сандовский, В.М;Барабашкин, Г.И.Сте аной:.":,:г,и Е.С,Берестовай(71) Заявитель Институт физики металлов Уральского научногоАН СССР(54) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ СТРУКТУРОСКОП 1Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля качества термической обработки и механическихсвойств сталей.Известен электромагнитный структу- ьроскоп, содержащий последовательносоединенные генератор гармоническоготока,.трансформаторный электромагнит..ный преобразователь, анализатор гармоник и индикатор 1 ,Недостаток известного устройствасостоит в низкой производительностиконтроля, что связано со сложностьюразбраковки на несколько классовпо показаниям индикатора,Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности являетсяэлектромагнитный .структуроскоп, содержащий последовательно соединенные20генератор переменного тока, трансформаторный электромагнитный преобразователь, цастотно-фазовый анализа .тор и индикатор 2 1. 2Однако и этот электромагнитный структуроскоп не обладает требуемой производительностью контроля, что также связано со сложностью разбраковки по показаниям индикатора при одноканальном анализе сигналов электромагнитного преобразователя.Цель изобретения - повышение производительности. контроля.Поставленная цель достигается тем, что электромагнитный дефектоскоп снабжен последовательно соединенными амплитудным анализатором матричного типа и блоком разбраковки, а также вторым индикатором, подключенным к второму выходу амплитудного анализатора матричного типа, входы последнего соединены с соответствующими выходами частотно-фазового анализатора, выполненного многоканальным.На чертеже представлена структурная схема электромагнитного структуроскопа.89 10008 Формула изобретения каэ 1369/4 ж 871 Подписное ИИ филиал ППП "Патент", г Ужгород, ул . Проектная, 4 3Электромагнитный, структуроскоп состоит из последовательно соединенных генератора 1 переменного еока, трансформагорного электромагнитного преобразователя 2, многоканального частотно"фазового анализатора 3, амплитудногоанализатора 4 матричного типа и блока 5 разбраковки, а также индикаторов 6 и 7, подключенных к вторым выходам амплитудного анализа" 1 в тора 4 матричного типа и многоканального, частотно-Фазового анализатора 3 соответственно.Электромагнитный структуроскоп работает следующим образом. 13Генератор 1 переменного тока питает возбуждающую обмотку трансфор" маторного электромагнитного преобра- . зователя 2, взаимодействующего с контролируемым объектом. С выхода р электромагнитного преобразователя 2 сигнал поступает на многоканальный частотно-фазовый анализатор 3, на выходе которого Формируется Й постоянных напряжений, пропорцио- д нальных амплитудам, и М постоянных напряжений, пропорциональных Фазам составляющих спектра сигналаИ равно числу используемыхгармоник,а М ( И. С целью промежуточного Зр контроля работы структуроскопа величина амплитуд и фаз гармоник может быть измерена с помощью инди,катора 7. С выхода многоканального частот 35 но-фазового анализатора 3 И + Я постоянных напряжений поступают в амплитудный анализатор 4 матричного типа, состоящий иэ рядов ячеек. Число этих рядов равно числу классов раэбраковки. Каждая ячейка анализирует величину постоянного напряжения, .поступающего", на ее вход, Если величина этого напряжения оказывается в пределах, установленных для данной45 яцейки, на ее выходе появляется сигнал "Да".Ячейки, расположенные в одном ряду, анализируют напряжения, приходящие по различным каналам. Они соответ-: , ствуют одному и томч же классу. Если фф на выходе всех ячеек, относящихсяк одному классу, присутствует сигнал"Да", то на выходе этого ряда такжепоявляется сигнал "Да". Это означает,что напряжения, приходящие по всемканалам, находятся в интервалах,соответствующих данному классу. Поэтому изделие может быть отнесено кданному классу. Сигналы, снимаемыес выходов рядов ячеек, поступают насоответствующие входы индикатора 6,при этом загорается световое таблосоответствующего класса,Этот же сигнал поступает на блок5 разбраковки. На нем имеются переключатели, с помощью которых выбира.ют класс или классы ), подлежащиезабраковке, или задается программасортировки по классам,Предлагаемый структуроскоп позволяет автоматически рассортировыватьконтролируемые объекты на заданноечисло классов, цто существенно повышает производительность контроля. Электромагнитный структуроскоп,содержащий последовательно соединенные генератор переменного тона,трансформаторный электромагнитныйпреобразователь, частотно-фазовыйанализатор и индикатор, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности контроля,он снабжен последовательно соединенными амплитудным анализатором матричного типа и блоком разбраковки, атакже вторым индикатором, подключеннымк второму выходу амплитудного анализатора матрицного типа, входы последнего соединены с соответствующими выходами частотно-фазового анализатора,выполненного многоканальным,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. "Дефектоскопия", 1971 й" 5,с. 127.2. Авторское свидетельство СССРУ 492796, кл. 6 01 й 27/90, 1975

Смотреть

Заявка

2803889, 13.07.1979

ИНСТИТУТ ФИЗИКИ МЕТАЛЛОВ УРАЛЬСКОГО НАУЧНОГО ЦЕНТРА АН СССР

САНДОВСКИЙ ВЛАДИМИР АРОНОВИЧ, БАРАБАШКИН ВЛАДИМИР МИХАЙЛОВИЧ, СТЕПАНОВА ГАЛИНА ИВАНОВНА, БЕРЕСТОВА ЕЛЕНА СЕРГЕЕВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 27/90

Метки: структуроскоп, электромагнитный

Опубликовано: 28.02.1983

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1000889-ehlektromagnitnyjj-strukturoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный структуроскоп</a>

Похожие патенты