Дифференциальный рефрактометр

Номер патента: 562756

Авторы: Мичурина, Степин

ZIP архив

Текст

(О П И С А Н И Е 11562756ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик) 21381891 с присоединением заявкиГосударственный комитет Совета Министров СССР7. Бюллетень2 по делам изобретении и открытий(45) Дата опубликования описания 19.09,77 Авторыизобретени тепин и Г. Н, Мичурина Заявитель 54) ДИффЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ РЕФРАКТОМЕТ тносится к оптическому дифференциий источник ями, исследуческий микрорвгистрируоктометра явий вследствие щели, который ва оптических з исследуемой их через разтра. ормула пзобретенп Целью изобретенияточности измерений.,Поставленная цель доптический микрометр споворота на 180 вокругтива. еренциальный рефрактометр и 2104, о т л и ч а ю щ и й с я тем, овышения точности измерений, микрометр нониального совме механизмом поворота на 180 в рного объектива,является повышечп Дифф св.29 целью п 0 ческий снабжен осп камечто, с опти. стигается тем, чтонабжен механизмом си камерного объекения круг Изобретение оборостроению.По ав, св.292104 известенальный рефрактометр, содержащсвета, щель, два экрана с прореемую и эталонную призмы, оптиметр нониального совмещения ищую систему,Недостатком данного рефраляется низкая точность измеренпараллакса двух изображенийвозникает вследсгвие неравенсгпутей двух лучей, вышедших ии эталонной призм, и проходящные части оптического микроме лнительное к авт. свид-ву292104 Устройство работает слвдующим образом.Снимают отсчет по шкале микрометра вмомент нониального совмещения двух изображений щели, соответствующих одной и той же длине волны света. Этот отсчет содержит ошибку из-за параллакса. Затем поворачивают микрометр на 180 и снимают второй отсчет, содержащий ошибку параллакса, но противоположного знака. Вычисляют среднее 0 значение двух отсчетов, которое свободно отошибки из-за параллакса.Использование изобретения позволяет повысить точность измерений.

Смотреть

Заявка

2138189, 28.05.1975

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681

СТЕПИН ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, МИЧУРИНА ГАЛИНА НИКОЛАЕВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 21/46

Метки: дифференциальный, рефрактометр

Опубликовано: 25.06.1977

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-562756-differencialnyjj-refraktometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Дифференциальный рефрактометр</a>

Похожие патенты