Способ определения погрешностей калибровки абсолютных радиометров

Номер патента: 1174999

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Ашурков, Гаврилкина, Гусейнов, Мельников, Прикупец, Салкин

МПК: H01J 61/36, H01K 3/20

Метки: высокоинтенсивных, излучения, источников, кварцевое, оболочек, стекло, токоввода

...40 клея (связующего) . Размол порошка 502 проводится до размеров частиц 1-2 мкм, что обеспечивает более рав, номерное распределение их в полимере для лучшей адгезии и, в последую щем, получение хорошего спая с кварцевой основой горелки.Покрытие, состоящее из ЯО 2 и г 02, имеет промежуточный КТР меж 1 ду молибденом и оксидом кремния 50 ( 1 У)-кварцевым стеклом, так как 7 гО в диапазоне рабочих температур внешнего звена 200-300 С имеет КТР, практически совпадающий с молибденом 5-7) 10 1/ С.55Неорганический полимер получают путем выпаривания при кипячении ЬО 7,-ного водного раствора оксинитра. а циркония до плотности 1,65- ,70 г/см (при 20-22 С), Оксинитрат иркония Ег 0 ( ЙО 1 2 Н О ири длительом кипячении образует...

Номер патента: 1122901

Опубликовано: 07.11.1984

Авторы: Абакумов, Захаров, Малкин, Матвеева, Якупова

МПК: G01J 3/10

Метки: излучения, источник, света, спектроскопический

...совпадает с ребром двугранного угла.Иа Фиг.1 изображен предлагаемыйспектроскопический источник излучения света; на фиг.2 - разрез А-А наФиг,1; на фиг,3 - разрез Б-Б наФиг,2 на Фиг.й - аксонометрическаяпроекция источника излучения.Спектроскопический источник излучения света содержит генератор 1искрового разряда, электроды 2, диэлектрическую подложку 3 с разрядног".зоной. К торцам 4 полости диэлектрической подложки приложены электроды 2,Спектроскопический источник излучения света работает следующим образом.Высокое напряжение от генератора1, приложенное к электроцам 2, возбуждает в разрядной полости, образованной плоскостями двугранного угла, между электродами скользящийискровой разряд, который точно локализуется на ребре двугранного...

Номер патента: 1339904

Опубликовано: 23.09.1987

Авторы: Осинчук, Стаднык, Яцишин

МПК: H05B 39/00

Метки: включения, излучения, источников, накала, телом, электрических

...к электротехнике, в частности к способам эксплуатации электрических источников излучения, имеющих тело накала.Целью изобретения является повышение ресурса работы тела накала источников излучения.Способ осуществляют следующим образом.На источник излучения в течение 15-60 мин подают начальное напряжение питания, обеспечивающее нагрев его тела накала до начальной температуры, лежащей в диапазоне его полигонизационных температур.На данном этапе температура тела накала должна соответствовать средней температуре Т диапазона полигонизационных температур материала тела накала с допуском +15 Т.Например, для вольфрамового тела накала этот диапазон составляет (1000+150) С, а для вольфрамрениевого - (1200+ 180) С.Границы указанных температурных...

Номер патента: 783735

Опубликовано: 30.11.1980

Авторы: Баженов, Савельев

МПК: G01T 1/16

Метки: излучения, источников, калибровки, рентгеновского

...и нахоцят ве- щличину потока фотонов калибруемогоисточника по формуле где Ф,( - поток фотонов калибруемогоисточника рентгеновскогоизлучения;Ф - поток фотонов вспомогательного источника ретгеновского излучения, определенный методом 4 П - Х-счета,Ф - поток фотонов вторичногоионизирующего излучения, проникающий в П-счетчик, ккоторому вспомогательный источник повернут стороной,противоположной рабочей поверхности,Ф - поток фотонов вторичногоионизирующего излучения,проникающий в П-счетчик,к которому калибруемый источник повернут стороной, протипоположнои рабочей поверхности,Способ был реализован для случаякалибровки источников КХ-излучения снуклидом 55 Ге на установке с газораэрядным пропорциональным 4 П-Х-счетчиком, в котором...

Номер патента: 1339412

Опубликовано: 23.09.1987

Авторы: Иванов, Китаева, Михайлин, Пенин, Шепелев

МПК: G01J 3/10

Метки: излучения, источника, калибровки, плотности, спектральной, энергетической, эталон, яркости

...известно а/д =Ьс /,где- постоянная Планка;с - скорость света;длина волны,)Измерив отношение ИЦ( /1)(а, и знаяц/а, можно определить В - яркостьсветового поля,Предлагаемый эталон содержит источник 1 синхротронного излучения,модулятор 2, лазер 3, нелинейныйкристалл 4, спектральный прибор 5,фотоприемник б, систему 7 обработкиинформации, пучок 8 излучения из ускорителя, пучок 9 излучения лазера,пучок 10 параметрической люминесценции, пучок 11 эталонированного излучения ускорителя,.измеритель 12 энергии, измеритель 13 частоты, измеритель 14 тока.Эталон спектральной плотностиэнергетической яркости (СПЭЯ) работает следующим образом. Пучок 8 излучения из ускорителя 1 падает на нелинейный кристалл 4, На пути излучения, идущего из ускорителя,...