351484

Номер патента: 1044178

Опубликовано: 23.04.1985

Авторы: Константинов, Пальшау, Фролов, Юдин

МПК: G01T 1/36

Метки: времени, пролета, частиц, энергии, ядерных

...4, через вторую клемму трехклем" мового переключателя 12, т.е. в стоповом канале отсутствует линия задержки 11, Электрические импульсы от де- О тектара лазерного излучения 9 и стопового детектора 8 через смеситель 10 поступают на стоповый вход временного анализатора 4. Во временном анализаторе 4 записывают пик совпадений им пульсов запуска импульсного лазера 2 и детектора 9, а также пик совпадений импульсов от стартового детектора 1 и-стоповаго детектора в исходном положении ,положение А) стопового 20 детектора 8 и подвижного зеркала 6. Далее между выходом смесителя 10 и стоповым входом временного анализатора 4 включают линию задержки 11 и подвижное зеркало 6 вместе со стопа вым детектором перемещают по направляющим в положение А,...

Номер патента: 317969

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Абрамов, Барышников

МПК: G01N 23/00

Метки: анализаторов, градуировки, заряженных, магнитных, частиц, энергии

...используют несколько ядерных реакций, одновременно идущих на ядрах мишени при одной энергии падающих частиц и приводящих к образованию ядра продукта в основном и возбужденном состоянии, с одновременной регистрацией детектором энергии продуктов всех реакций. Разность энергии продуктов реакции определяется только энергией уровней ядра продукта и,поэтому для используемой ядерной реакции точно известна и не зависит от энергии первичных частиц. Градуировка проводится по этой известной разности энергий продуктов реакций и по положениям пиков продуктов реакции на зарегистрированном спектре.По линии относительной энергетической градуировки можно определить сдвиг пиков аппаратурного спектра по шкале энергии ХЕ,2при уменьшении энергии...

Номер патента: 774522

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Бехтев, Бойко, Воронков, Селезнев, Синельщиков

МПК: H05H 7/02

Метки: заряженных, последовательности, сгустков, формирования, частиц

...заряженныхчастиц, следующих с частотой, кратной частоте модуляции исходного пучка, изменением напряженияна емкостном зазоре, через который пропускаыт пучок, задерживают часть эаряжен О ных частиц на одном из электродов зазора, а частоту следования сгустковрегулируют статическим напряжениемна зазоре и изменением постояннойвремени .спада модулируыщего потенциала.На фиг. 1 схематично показан емкостный зазор, образованный прозрачной для частиц проводящей поверхностью и полупрозрачной проводящейповерхностью; на фиг. 2 - изменение 2 О во времени электрического потенциала П (С). иа зазоре и формированиевыходных сгустков.Пучок заряженных частиц попадаетв емкостный заэОр через поверхность1 и выходит из него через поверхность 2. Заряд,...

Номер патента: 654058

Опубликовано: 05.01.1980

Авторы: Дворцов, Ломидзе, Филипчиков

МПК: H05H 7/00

Метки: амплитуд, заряженных, многорезонаторном, полей, ускорителе, ускоряющих, установки, фаз, частиц

...пор, пока фаза суммарного поляпучка и ВЧ-генератора не сдвинетсяотносительно фазы поля при выключенном ВЧ-генераторе на расчетную величиНуНа чертеже изображена структурнаясхема установки для осуществленияпредлагаемого способа.Установка содержит фазовый детектор1, фазовращатель 2 первый датчик 3гармоники тока пучка, настраиваемыйрезонатор 4, второй датчик 5 гармоники тока пучка, фазовый детектор 6,оконечный каскад 7 ВЧ-генератора, фазовращатели 8,9 и ключ 10.По предлагаемому способу для установки фазы и амплитуды ускоряющегополя проводят следующие операции.Вначале оконечный каскад 7 генератора выключается, а через настроенныйускоряющий резонатор 4 пропускают пучок небольшой интенсивности. Фазовращатели 8 и 2 устанавливают твк,...

Номер патента: 789054

Опубликовано: 07.02.1982

Автор: Дворцов

МПК: H05H 7/00

Метки: амплитуд, заряженных, многорезонаторном, полей, ускорителе, ускоряющих, установки, фаз, частиц

...в области максимального изменения пролетного угла частиц до тех пор, пока это изменение на одном пролетном расстоянии не совпадет с расчетным максимальным изменением. Регулирование фазы и амплитуды в области максимального изменения пролетного угла обусловлено тем, что величина этого изменения чувствительна к изменениюамплитуды в большей степени, чем наклонпрямой изменяемой фазы. Кроме того,чувствительность величины максимальногоизменения незначительно снижается приувеличении скорости ускоряемых частиц.Например, изменение амплитуды поляна 1% приводит к отклонению величинымаксимального изменения на 2 ОО в первыхрезонаторах второй части линейного ускорителя ИЯИ АН СССР и на 0,5% в последних резонаторах этого ускорителя. Такимобразом,...