Способ измерения импульсных магнитных параметров ферритоеых плат

Номер патента: 238667

Авторы: Дерюгин, Дроботов

ZIP архив

Текст

, -1 о со к," -. 4 кд.О ГГМхоСА- Н - И Е Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства го Ь;л. 2 е, 3/10 Заявлено 05,1 т.967 (Лг. 1116827,26-24)с присоединением заявки МПриоритетОпубликовано 10,111.1969. Бюллетень М 10Дата опубликования описания 14,И 1.1969 МПК б 01 гУД 1 621,317.4(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совета В 3 инистров СССР,1 зобретен,;я 1 О. В. Дроботов и А. А, Дерюгин Заявитель СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИМПУЛЬСНЬХ МАГНИТНЬХ ПАРАМЕТРОВ фЕРРИТОВЬ 1 Х ПЛАТИзвестен способ измерения импульсных магнитных параметров ферритовых плат, памяти из материала с прямоугольной петлей гистерезиса по амгплитудным значениям э.д.с., наводимым,при перегчагничивании ячеек плат под воздействием импульсов тока, пропускаемых через проверяемую и контрольную платы.Г 1 редложенный способ отличается тем, что для повышения точности измерений при наличии температурной погрешности изменяют коэффициент усиления измерителя э.д.с. так, чтобы амплитуда э.д.с. с контрольной платы достигла значения, равного величине этой амплитуды до изменвния температуры.Сущность способа заключается в следующем:Г 1 рограмму импульсов тока подают как на ячейку проверяемой платы, так и на ячейку входящей в состав устройства контрольной ферритовой платы с известныхи параметрами, которая выполнена из того же материала, имеет такие же размеры и находит=я в одинаковых с проверяемой платой температурных условиях. Амплитудные значения э,д.с., считываемые с проверяемой ячейки, ус ливаются измерителем э.д.с. Периодически этим же измерителем усиливаются значения э.д.с., считываемые с контрольной ячейки, Прп измененни од в,.шянием изменения температуры ахплитуды э.д.с., считываемой с контрольной ячейки, коэффициент усиления измерителя э.д.с.изменяют таким образом, чтобы э.д.с., считываемая с ячейки контрольной платы, оставалась неизменной. В результате исключается вызванное воздействием ухода температуры изменение амплитуды э.д.с., считываемой с 10 ячеек проверяемой платы, поскольку характертемпературного изменения э.д.с. ячеек проверяемой и контрольноГ плат одинаков. Предмет изобретения15 Способ измерения импульсных магнитныхпараметров ферритовых плат из материала с прямоугольной петлей гистерезиса по амплитудам э,д.с., наводимым прн перемагннчнвани я 1 еск плат импу,ьсами тока, 1 трспускаехыми 20 через проверяемую и контрольную платы, от.гичаюигийся тем, что, с целью повышения точности измерений при наличи техпературног погрешности, изменяот коэффиц:гент усилени измерителя э.д.с., до величины, прн которой 25 амплитуда э.д.с. с контрольной платы досьчгает значения, равного величине этой амплитуды до изменения техпературы.

Смотреть

Заявка

1146827

Ю. В. Дроботов, А. А. Дерюгин

МПК / Метки

МПК: G01R 31/28, G11C 11/02, G11C 29/00

Метки: импульсных, магнитных, параметров, плат, ферритоеых

Опубликовано: 01.01.1969

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-238667-sposob-izmereniya-impulsnykh-magnitnykh-parametrov-ferritoeykh-plat.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения импульсных магнитных параметров ферритоеых плат</a>

Похожие патенты