Способ защиты рабочей поверхности солнечныхбатарей

Номер патента: 391418

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Всрс, Маринец, Осыка

МПК: G01J 3/40

Метки: преобразователей, световых, снятия, фотоэлектрических, характеристик

...характеристики каждой группы ФЭП и усложняет эксперимент.Цель изобретения - автоматизация процесса и получение непрерывной оветовой характеристики во всем диапазоне освещения ФЭП.Зто достигается тем, что пзменяюг интенсивность светового потока, падающего на фотоэлектронный преобразователь, путем вращения плоскости поляризации линейно поляризованного светового потока относительно неподвижного анализатора и выходной сигнал с фотоэлектронного преобразователя регистрируют синхронно с углом поворота плоскости поляризации,Предлагаемый способ автоматического снятия световых характеристик ФЭП заключается в следующем.Линейно поляризованный световой поток прохолит через анализатор и попадает на ФЗП. При повороте на некоторый угол гр...

Номер патента: 1040503

Опубликовано: 07.09.1983

Автор: Бражник

МПК: G08C 9/06

Метки: код, положения, фотоэлектрический

...друг другу, одна пара пластин установлена с возможностью перемещения, а другая - неподвижно, и размещены между сферическим зеркалом и светоделнтельной призмой, о,гражающая грань которой обращена к считывающим элементам и к отрюкакнцим граням подвижной пары зеркальных пластин.На фиг. 1 изображена схема предлааемого, фотоэлектрического лреобразова3104 теля; на фиг. 2 - принцип умножения ли- нейного перемещения; на фиг. 3 - ход лучей в системе зеркальных пластин в плоскости, перпендикулярной направлению перемещения; на фиг. 4 - схема пре- образователя углового положения; на фиг. 5 - принцип умножения углового перемещения.На пути распространения светового пера от источника 1 света (фиг. 1) рас положены конденсор 2, кодовый...

Номер патента: 609982

Опубликовано: 05.06.1978

Авторы: Буравой, Миндлин, Начкебия

МПК: G01K 19/00

Метки: градуировки, потока, преобразователей, теплового

...рабочей поверхности, как и преобразователь 4,Перед началом опыта задают перепад температур между блоками 2 и 1; соответствующийтребуемому значению пронизывающего тепловогопотока, перепад измеряется термопарами А и В,выведенными на блок холодных спаев 6, В процессе измерений определяют величины термоЭДС 10в цепях тепломера 5 и преобразователи 4, 0 и Опри помощи вольтметра 7, а также перепад температур на градуируемом преобразователе 4 -ЬТс помощью дифференциальной термопары СД. За.тем определяют величину пронизывающего преобразователь теплового потока 0 по формулет т 1 с (2)где Кт - коэффициент преобразования тепмера 5 ф 1- (определяется в независимом гра 20дуировочном опыте).т ф ц 5 С птп(Т, = Дэкгде Ст - теплоемкость тепломера 5...

Номер патента: 629456

Опубликовано: 25.10.1978

Авторы: Говор, Николаев, Плешаков

МПК: G01J 5/12

Метки: преобразователя, фотоэлектрического, чувствительности

...на фотоэлектри-ческий преобразователь 1, нагруженныйна регулируемое сопротивление 2. Амперметром 3 измеряют сигнал на выходепреобразователя. Относительную величинутемпературы фотоэлектрического преобра- гозователя измеряют с помощью термочувсгвительного элемента 4, состоящего избатареи дифференциальных термопар, соединенных с вольтметром.Способ реализуется следующим обра Ззом.При освещении фотоэлектрического преобразователя, нагруженного на сопротивление К, измеряют ток 6 на его выходе и относительную величину темпера- щтуры Я его поверхности, При этом элекг.рическая мощность, рассеиваемая на соп 20рогивление нагрузки, Р " Ь К . Изменяют величину сопротивления нагрузкии вновь повторяют измерения тока 23и температуры Фу, При этомгде-...

Номер патента: 285123

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Горн, Хазанов

МПК: G01T 1/36

Метки: высокой, протонов, спектрометр, энергии

...про жащий два дете 0 дый из которых Известны спектрометры протонов высокой энергии, содержащие два тонких детектора и электронную схему, регистрирующую амплитуду импульса первого детектора, пропорциональную величине линейных ионизационных 5 потерь энергии в нем, при условии временного совпадения этого.имнульса с импульсом второго детектора.Недостатком известных устройств является наличие фона, вызванного случайными савва дениями импульсов в первом и втором детекторах, вызванными регистрацией различных частиц, пересекших одновременно эти детекторы, а также фона, вызванного частицами низких энергий, пробег которых лишь незначи тельно превышает толщину первого детектора.Предлагаемый спектрометр позволяет уменьшить вероятность регистрации...