Способ обнаружения дефектов в керамических конденсаторах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51 ГО УДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПР ГКНТ СССР ОМУ С Т ЕЛЬС(2 1) 4 (22) 0 (46) 2 5-2 5,09,88 3.11,90. Б И.П. Томи 43.247(08 айнберг го металл юл. Г 1 ови .8)Ф Пр овы- пердок об- ста- тов, Шабу 53) 556) В боры и мет ия, - М.: М физи 973,ес .2 8 226вторское 86981, кл СПОСОБ РАМИЧЕ Изобрете дительно жения де свидетельства СС 6 01 М 27/02, 198 БНАРУЖЕНИЯ Д КИХ КОНДЕНСАТ ие позволяет пов ь труда, достове фектов и упрости ЕФЕКТОВОРАХсить проность обь способ. ется тро(57) изв нар способ ии неод обнару керами ние относится фектов локализ цов, в частнос раковин и пор зивная абра тора прекра тка исследуается и абраго осмотраикроскопомедований. мого конденсаец передается бнаруженного для физико-хиоб- родния ких ения де й образ нару наст дефе канд ля визуаль ефекта под ических ис тов тип нсатор елью и роизво резул ин и пообретения яв ительности тр атов поиска в керамичес ется павышеда и достоверефектов типа х конденсатониенастрака риал ной одно прот ляци изме мые ции. дефе скачк гистр р и м е р. При сошлифовывании мате- образца в плоскости, перпендикулярлоскостям обкладок конденсатора, ременно контролируется величина совления изоляции. Сопротивление изои конденсатора практически не яется при шлифовке, если стачиваебьемы не содержат дефектов изоляри вскрытии в процессе шлифования та сопротивление изоляции образца м увеличивается, чта фиксируется рерующим прибором. После этого абраДля этого измерение электропроводн производят непрерывно и одновремен абразивной обработкой путем сашлиф вания материала образца в плоскости, пендикулярной плоскостям обкла конденсатора. Сопротивление изоляци разца практически не изменяется, если чиваемые объемы не содержат дефе изоляции. При вскрытии в процессе шл вания дефекта сопротивление изоляции разца увеличивается, что фиксиру прибором, к которому при помощи алек дов подключен исследуемый конденса После этого абразивную обработку кан сатора прекращают. Формула изобретения Способ обнаружения дефектов в керамических конденсаторах, заключающийся в том, что подключают к испытуемому образцу токопроводящие электроды, измеряют электропроводность, по величине которой судят о наличии дефектов типа раковин и пор, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности труда, достоверности обнаружения дефектов и упрощения способа, измерение электроправодности производят непрерывно и одновременно с абразивной обработкой испытуемого конденсатора. а а наличии дефекта судят по скачкообразному изменению величины электропроводности.
СмотретьЗаявка
4479340, 05.09.1988
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2969
ТОМИЛОВ ИГОРЬ ПАВЛОВИЧ, ШАБУНИН ВАЛЕРИЙ ДМИТРИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/02
Метки: дефектов, керамических, конденсаторах, обнаружения
Опубликовано: 23.11.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-1608547-sposob-obnaruzheniya-defektov-v-keramicheskikh-kondensatorakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ обнаружения дефектов в керамических конденсаторах</a>
Предыдущий патент: Способ приготовления омических электродов для контакта лед металл
Следующий патент: Кондуктометрический анализатор концентрации солей
Случайный патент: Способ управления коронным разрядом в многопольных и многоступенчатых электрофильтрах