Способ обнаружения объектов в контролируемом протяженном пространстве

Номер патента: 1084637

Опубликовано: 07.04.1984

Авторы: Бачегов, Ченцов, Шаров

МПК: G01M 3/24

Метки: контролируемого, координат, объекта, течи

...управления коммутатором и выходом блока измерения отношения сигналов, входы которого соединены с входами коммутатора и выходами соответствующих регулируемых усилителей, управляющие входы которых соединены с выходом коммутатора, а управляющий вход последнего соединен с выходом блока управления коммутатором, снабжено вторым идентичным каналом, преобразователи которого расположены диаметрально по периферии на другой оси контролируемого объекта, генератором шума с преобразователем, который предназначен для установки непосредственно или через волновод в акустическом центре объекта и выход которого подключен к входу одного из регулируемых усилителей обоих каналов, двумя дополнительными коммутаторами и двумя компараторами, причем входы...

Номер патента: 1753262

Опубликовано: 07.08.1992

Автор: Ляликов

МПК: G01B 11/26

Метки: голограмму, зарегистрированном, лучей, объекте, отклонения, углов, фазовом

...Выбирают п-й, например, третий источник света и с помощью его Формируют коллимированный пучок, которым освещают голограмму 3. В плоскости щелеаой диафрагмы 5 с помощью второго объектива 4 формируют изображение источника а первом порядке дифракции на голограмме, Для устранения цветной визуализации из-за некогерентности излучения источников щель 5 ориентирована перпендикулярно полосам на голограмме, а порядки дифракции расходятся в плоскости перпендикулярной плоскости чертежа, В плоскости экрана 6 наблюдают светящиеся зоны фазового объекта, зарегистрированного на голограмму 3, в которых угол отклонения лучей имеет строго определенную величину, которая определяется положением изображения точечного источника относительно щели 5, Смещают...

Номер патента: 1093890

Опубликовано: 23.05.1984

Авторы: Веретенченко, Козак, Ромоданов

МПК: G01B 11/27

Метки: анализатор, луча, объекта, положения, центрировании

...элементов 2 и 3, каждый из которых сос=05 1 оь для нижней соста гональности крисяющей в силу лографическ 3тавлен из двух прямоугольных кристаллических пластин, и поляризатора 4, приемник 5 излучения. Прямоугольные кристаллические пластины представляют собой одноосные кристаллы группы дигидрофосфатов. Электрическое поле к пластинам подводится с помощью прозрачных электродов (не показаны).Анализатор работает следующим образом. 1 ОЛазерный луч, проходя четвертьволновую пластину 1, приобретает круговую поляризацию и попадает далее на электрооптический элемент 3, который при приложении переменного электрического поля вдоль оси я кристалла делит луч на две составляющие с эллиптической поляризацией - верхнюю и нижнюю, причем...

Номер патента: 1587552

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Баскин, Гордиенко, Королюк, Русын

МПК: G06K 9/00

Метки: края, объекта, прямого, распознавания

...сигнал с выхода одновибратора 38, на вход которого поступает сигнал с выхода второго элемента И 35.Пусть при скацировании вдоль строки растра не обнаружены элементы изображения. На счетный вход первого счетчика 50 строчных импульсов блока 14 управления поступит один имггульс с третьего выхода блока 13 синхронизации (строчный синхроимпульс) и увеличит на единицу код на выходе счетчика 50, Первый счетчик 67 тактовых импульсов блока 14 управления, установленный первоначально в состояние, предшествующее нулевому, досчитает до величины, на едигпюцу меньшей количества элементов в строке растра. Сигнал с его выхода не запишется в первый регистр 39 координаты У, так как не появится сигнал на выходе второго элемента И 35, соединенном с входом...

Номер патента: 1748516

Опубликовано: 15.07.1994

Авторы: Калинчев, Рубцов

МПК: G01S 5/02

Метки: двух, координат, объектов, относительных

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНЫХ КООРДИНАТ ДВУХ ОБЪЕКТОВ, включающий измерение на первом объекте дальностей Di до M точек пространства с известными координатами, i= , и вычисление относительных координат двух объектов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения относительных координат, одновременно с измерением дальностей Di измеряют разности дальностей Di от каждой из M точек пространства до первого и второго объектов, определяют координаты M точек пространства Xi ,