Двуслойная диэлектрическая структура и способ ее получения
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание
2. Способ получения двуслойной диэлектрической структуры на германиевой подложке, включающий окисление подложки германия при 820 - 870 К в течение 5 - 60 мин, осаждение слоя нитрида кремния, отличающийся тем, что после окисления подложки германия проводят отжиг структуры в аммиаке при 900 - 1000 К и атмосферном давлении в течение 10 - 50 мин.
Заявка
4002997/25, 03.01.1986
Институт физики полупроводников СО АН СССР
Горохов Е. Б, Шалапаев С. Н
МПК / Метки
МПК: H01L 21/316
Метки: двуслойная, диэлектрическая, структура
Опубликовано: 20.05.2000
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1426352-dvuslojjnaya-diehlektricheskaya-struktura-i-sposob-ee-polucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Двуслойная диэлектрическая структура и способ ее получения</a>
Предыдущий патент: Устройство тревожной сигнализации
Следующий патент: Многоканальное устройство считывания на приборах с зарядовой связью
Случайный патент: Магнитная подвеска ротора