G01N 21/47 — дисперсионная способность, т.е. диффузионное отражение

Способ измерения средней полусферической освещенности

Загрузка...

Номер патента: 17795

Опубликовано: 30.09.1930

Авторы: Зеленков, Гершун

МПК: G01N 21/47

Метки: полусферической, освещенности, средней

...под полусферой из:рассеивающего материала, воспринимающего световой поток извне, тогда как в нижней части приспособления обеспечена световая непрогницаемость, Средняя полусферическая,освещейность найдется привведении : коэфициента рассеивающей оболочки,На чертеже фиг. 1 - схема, поясняющая предлагаемый способ, фиг. 2 - схема приспособления (вид сбоку).Еси Ю есть освещенность на эйменте И 8 полусферы радиуса т-, центр которой расположен в данной точке О, то величина средней полусферической освещенно 5 Е с 51930 года, Действие патен0 сентября 1930 года./. (пространства, характеризующийся тем,. что,измерение яркостй производят в однойиз. точек сферической поверхности, имеющей центрв данной точке, и световой ; поток, имеющийся в...

Прибор для определения светорассеяния

Загрузка...

Номер патента: 29052

Опубликовано: 31.01.1932

Автор: Франк

МПК: G01N 21/47

Метки: прибор, светорассеяния

...прикрывающих диафрагму перед фотоэлементами, При таком положении и форме заслонок оказывается лишним равномерное освещение испытуемых мутных сред даже при больших точностях измерения и в значительной мере обезвреживается ошибка от неравномерного распределения взвешенных частиц.Кюветка со сравниваемыми мутными средами (двойная кюветка или две одиночные) может поворачиваться вокруг вертикальной оси на 180 (или просто. переставляться), так что сравниваемые порции меняются местами, Измерение заключается в том, что делаются два отсчета: в основном положении и при повороте на 180, и результатом является разность отсчетов,Подставка для сравниваемых сред к прибору выполнена поворотной в целях возможности перемещения означенных сред....

Прибор для измерения коэффициента отражения поверхностей, обладающих диффузным или смешанным отражением

Загрузка...

Номер патента: 31655

Опубликовано: 31.08.1933

Авторы: Желоховцева, Гинзбург

МПК: G01N 21/47, G01J 1/04

Метки: обладающих, прибор, смешанным, коэффициента, отражения, отражением, поверхностей, диффузным

...5 см, длина осветителя 15 см).Предлагаемый прибор пртакже для измерения коэфицжения киноэкранов. едназначен иента.отра 1. Прибо та отражен диффузнымИзобретение касается прибора для измерения коэфициента отраженйя поверхностей, обладающих диффузным или смешанным отражением, в виде полого шара, полость которого выкрашена хорошо рассеивающей свет краской и который снабжен отверстием, служащим для приставления к исследуемой поверхности,Предлагаемый прибор снабжен прикрепленной к шару трубкой с. осветительной системой и трубкой, при помощи которой прибор надевают на люксметр или фотометр,Существующие приборы для измерения полного коэфициента отражения (рефлектометр Тэйлора и подобные ему) громоздки и требуют изготовления специальных...

Рефлектометр

Загрузка...

Номер патента: 39422

Опубликовано: 31.10.1934

Автор: Гуревич

МПК: G01J 1/38, G01N 21/47

Метки: рефлектометр

...большие преимущества, ужеиспользованные, напр., в авторских свидетельствах38343 и38344. Онисводятся к тому, что при измеренияхотпадает необходимость опасаться колебаний напрчжения йсточника тока, весьмаопасных для точности получаемого результата при работе с двумя источниками света, При этом оказывается возможным работать от осветительной сети(обычно применяются отдельные аккумуляторные батареи) и отпадает необходимость применять точно электроизмерительные приборы для контроля постоянства электрического режима источниковсвета.На чертеже фиг, 1 и 2 изображаютрефлектометр в двух взаимно перпендикулярных разрезах,Светоизмерительной частью прибораявляется серый нейтральный клин К,перемещающийся в особой коробке;клин К дает возможность...

Прибор для измерения относительной белизны бумаги и ее лоска

Загрузка...

Номер патента: 41222

Опубликовано: 31.01.1935

Авторы: Гутман, Поляков

МПК: G01N 21/47, G01J 1/38

Метки: лоска, прибор, относительной, бумаги, белизны

...на стойках 8 экран 7 имеет на одной своей плоскости белую или цветную пластинку 3 постояйного цвета, а на противоположной стороне установлены .зажимы 4 для удержания испытуемого образца бумаги. Ручка 6 оси 5 вращающегося экрана 7 выведена наружу, и ее угол поворота определяется шкалой, помещенной на наружной стенке футляра 1. Изменение тока фотоэлемента 2 фиксируется милливольтметром. Действие прибора заключается в том, что свет, падая на заложенный образец бумаги в зажимы 4 экрана 7, отра,; жаясь, падает на чувствительную поверхность фотоэлемента, что вызывает соответствующее отклонение стрелки милливольтметра, затем поворотом ручки 6 на 180 определяется действие фотоэлемента от пластинки 3 постоян-. ного цвета, каковая...

Прибор для определения коэффициента отражения поверхности диффузного света

Загрузка...

Номер патента: 43749

Опубликовано: 31.07.1935

Автор: Вейнберг

МПК: G01N 21/47

Метки: отражения, коэффициента, света, поверхности, диффузного, прибор

...экран 15. Для возможности установки фотоэлемента около него осветители раздвинуты шире.Работа с ром производится следующим обПосле того как лампы включены при открытом отверстии 2, в темной комнате производится установка гальванометра, соединенного с фотоэлементом, на нуль. Далее вынимают экран 75 и закрывают отверстие 2 пластинкой, окрашенной той же краской, что и вся внутренняя поверхность шара, и имеющей ряд мелких отверстий, площадь которых относится к площади всего отверстия 2 как площадь отверстий осветителей относится ко всей поверхности шара 7, Показание гальванометра, со. единенного с фотоэлементом, будет соответствовать коэфициенту отражения исследуемого материала, равному единице, В этом случае нетрудно показать, что...

Прибор для количественного определения качества отражателей в светооптическом отношении

Загрузка...

Номер патента: 44705

Опубликовано: 31.10.1935

Автор: Новиков

МПК: G01N 21/47

Метки: количественного, прибор, отражателей, качества, отношении, светооптическом

...в отражателе яркостьполей сравнения не будет одинакова, именьшей яркостью будет обладать яркость поля индикаторного полушара 2.Для того, чтобы получить фотометрическое равновесие со стороны полушарасравнения 1 вставляется фотометрический клин 8, отсчет по шкале которогоможет непосредственно давать значениеискомого коэфициента отражения.Из этой принципиальной схемы прибораясно видно, что его следует устанавливать- в районе двухфокусного расстояния ототражателя, причем оба полушара должны располагаться симметрично относительно оптической оси отражателя. Приэтом условии каустика отраженных лучей будет полностью перехватываться;индикаторным полушаром, Необходимо отметить, что если бы источник находился на оптической оси на двухфокусном...

Прибор для вычисления освещенности от светящихся поверхностей произвольной формы

Загрузка...

Номер патента: 50669

Опубликовано: 01.01.1937

Авторы: Люстих, Ратнер

МПК: G01N 21/47

Метки: прибор, произвольной, вычисления, поверхностей, формы, светящихся, освещенности

...контура светящейся поверхности штифтом, умножению показания счетного механизма на яркость этой поверхности и делению результата на величину (Ь+ а), где Ь - высота светящейся поверхности над освещаемой и а - константа прибора. Расчет освещенности с помощью предлагаемого интегратора настолько прост, что даже в простейсто муфт получить неподвижное соединение с соответствующими рейками, которые взамен того будут двигаться в направляющих, связанных с осью 5 или осью 10.При работе по вычислению освещенности прибор устанавливается на чертеже контура светящейся поверхности (чертеже потолка или пола освещаемого помещения с нанесенным контуром светящейся поверхности) так, чтобы центр оси 10 пришелся как раз над точкой Я (фиг, 1), являющейся...

Способ уменьшения коэффициента отражения поверхностей прозрачных оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 53519

Опубликовано: 01.01.1938

Авторы: Калиняк, Остроумов

МПК: G01N 21/47, G02B 1/11

Метки: прозрачных, коэффициента, поверхностей, уменьшения, отражения, оптических

...ления котор ниям теори я способн ается в нес качества и ть с исправ аносить на ости слои р П редмет изобретени. Зак. 2032 в 4 ип. Печатньп Известно, что нанесение на ность оптической детали тонко вещества с показателем прело меньшим, чем показатель прело детали, значительно понижает циентотражения. Для этой цел предложены различные вещества и различные методы получения из них пленок на поверхности оптических деталей. Предлагаемый авторами сухой способ нанесения прозрачных пленок как на металлические, так и на всякие другие, и в частности, на стеклянные поверхности, аналогичен методу, указанному Стронгом, и отличается от него подбором веществ и нанесением пленок из разных веществ как одно. временно, так и в последовательном порядке:...

Прибор для размещения световых точек на плане помещения при расчетах освещения

Загрузка...

Номер патента: 55360

Опубликовано: 01.01.1939

Автор: Чагин

МПК: G01N 21/47

Метки: прибор, световых, расчетах, размещения, точек, помещения, освещения, плане

...равными между собой.С задней стороны каждой из системы рычагов укреплены карточки 41 (фиг, 2) с кривыми 42, выражающими зависимость величины освещенности в световой точке на плане от высоты подвеса светильника: Е = 1 (Й); для различной арматуры имеются отдельные карточки (например, плафон-шар", люцетта о. св.", плафон", водо - пыленепроницаемая", люцетта цельная" и т, д.),Карточки 41 укреплены неподвиж. но относительно точек 1 б, 17, (8, 19 и 20,При определении мест расстановки светильников точка Б прибора устанавливается в левом верхнем углу плана помещения, а другая подвиж. ная точка, в зависимости от типа и числа выбираемых светильников, устанавливается в конце верхней горизонтальной линии плана. Например, при двух светильниках...

Способ объективного определения светоотражающей способности материалов

Загрузка...

Номер патента: 62174

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Песензон

МПК: G01N 21/47, G01J 1/04

Метки: светоотражающей, способности, объективного

...материал вращают вокруг оси, нормальной к его поверхности.На чертеже изображена примерная схема фотометра для осуществления предлагаемого способа,Фотометр снабжен электродвигателем 1, служащим для приведения во вращение площадки 2 для испытуемого образца 3 материала вокруг оси, нормальной к его поверхности.Испытуемый образец 3 освещается от источника света 4. Диффузно отраженные от образца 3 лучи света принимаются фотоэлементом 5, в цепь которого включен гальванометр 6, служащий указателем светоотражающей способности.Методика производства измерений светорассеивающей способности материалов, согласно предлагаемому способу, может быть следующая.На площадку 2 фотометра кладут эталон и, если есть в этом необходимость, приводят его...

Прибор для определения освещенности

Загрузка...

Номер патента: 66278

Опубликовано: 01.01.1946

Авторы: Юров, Ратнер

МПК: G01J 1/04, G01N 21/47

Метки: прибор, освещенности

...является возможность определять освещенность, пользуясь непосредственно архитектурными (строительньпи) чертежами, изображающими светящуюся поверхность,Примерная форма выполнения изобретения представлена на чертеже.На планшете 4. установленном на столе, находится прозрачная полусфера 1, выполненная из стекла. или т. п. материала. На ее поверхности нанесена сетка пересекающихся меридианов и параллелей,В центре полусферы 1 помещена лампа 2 с телом накала малых размеров, проектпрующая нанесенную на полусфере сетку на поверхность планшета 3, укрепленного по отношению к первому планшету 4 под прямым углом, На планшете д располагают контур 5 модели светящеися поверхности.Точечная лампа 2 с полусферой расположена на приспособлении,допускающем...

Фотоэлектрический индикатор для измерения белизны или тому подобных оптических свойств бумаги или иных материалов

Загрузка...

Номер патента: 71853

Опубликовано: 01.01.1948

Авторы: Бочкарев, Коровин

МПК: G01N 21/47

Метки: бумаги, тому, белизны, оптических, индикатор, свойств, подобных, иных, фотоэлектрический

...фотоэлемент индикатора выполнен в виде пластины с одним или несколькими отверстиями, расположенный под осветителем.Предлагаемый индикатор позволяет определять такжелюбой жидкости,На чертеже изображена схема индикатора, Фотоэлемент 1, имеющий, например, форму диска или какой-либо другой симметричной поверхности, с отверстием в центре, сочленяется с источником света 2, расположенным в тыловой части фотоэлемента 1 на оси, проходящей черезцентр. Такое сочленение фотоэлемента 1 с источником света 2 позволяетне только направленно освещать поверхность, но и направленно воспринимать отраженные световые лучи.Для производства измерений достаточно расположить индикаторнепосредственно над исследуемой поверхностью.В том случае, когда исследуется...

Прибор для измерения белизны или тому подобных оптических свойств бумаги или иных материалов

Загрузка...

Номер патента: 71854

Опубликовано: 01.01.1948

Авторы: Бочкарев, Коровин

МПК: G01J 1/44, G01N 21/47

Метки: оптических, подобных, бумаги, свойств, иных, белизны, прибор, тому

...и т. п.Сущность изобретения поясняется чертежом.Установка рабочего напряжения осуществляется при помощи реостата 3. Величина напряжения измеряется вольтметром 4.Белизна или отражающая способность исследуемого объекта 8 определяется путем компенсации отраженного и диффузно-рассеянного света 2, измеряемого фотоэлементом 1 до некоторой постоянной величины за счет изменения интенсивности МСТОЧНИКЗ света 2, т. е. измерение производится косвенным способом по величине сопротивле ния в Цепи источника света 2. Реостат 5 служит основным органом измерения. Сопротивление реостата 5 рассчитывается так, что его= равномерная шкала б при компенсации в приведенной схеме тока фотоэлемента. 1 отражает степень белизны исследуемого объекта 8...

Устройство для регулирования концентрации бумажной массы в резервуаре литьевой машины

Загрузка...

Номер патента: 120352

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Цейтлин

МПК: G01N 21/47

Метки: массы, резервуаре, бумажной, литьевой, концентрации

...измерительный блок, электронный усилитель и исполнительное реле, Измерительный блок собран по мостовой схеме и питается от лампы Л; фото- сопротивление Ри сопротивление Р 4 включены в смежные плечи моста.Между выходом измерительного блока и входом электронного усилителя стоит электрйческий демпфер Л,С 4 н Й 8 С, сглаживающий пульсации измеряемой величины.Электронный усилитель собран также по мостовой схеме на двойном триоде Л левая половина которого соединена сеткой через упомянутый демпфер с измерительным блоком и управляется подаваемым им сигналом отклонения измеряемой величины, а правая половина управляется напряжением упругой обратной связи, представляющей собой цепочку заряда - разряда конденсатора С в цепи сетки.В диагональ...

Прибор для измерения концентрации суспензий

Загрузка...

Номер патента: 121596

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Новаков

МПК: G01N 21/47

Метки: прибор, концентрации, суспензий

...имсющес центральное отверстие для пропуска иобладающее высокой чувствительностью и стабильностью,Для повышения точности измерения необходимо, цтобыствительный элемент падал свет, отраженный только отэтой целью пучок света от осветителя 1 направляется по тртовленной из непрозрачного электроизоляционного матеример эбонита) и пропущенной через центральное отверстие фления и отверстие стекла б, отделяющего фотосопросуспензии,Трубка 5 закрыта стеклом 7. Осветитель ищепы в герметичный корпус, к которому подвчасти прибора, где находятся микроамперметрточник питания. чнос-, ь стнь 1 ми повышает осопротнвлснпя ньч тит осветяию 2, папричувствнтель - 1 сктрическпй фотосопрока свет;. и па светочуг;- а сч нзии убке о, изгоала 1 напри-...

Фотоэлектрический прибор для определния мутности жидкостей

Загрузка...

Номер патента: 123344

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Фролов, Аксенов

МПК: G01N 21/47, G01J 1/34

Метки: определния, прибор, фотоэлектрический, мутности, жидкостей

...падает на матовое рассеивающее стекло 14.Отраженный от стекла 14 световой поток направляется зеркалом 15 на фотоэлемент 9. Переменная слагающая фототока через усилитель 1 б питает одну из обмоток реверсивного электродвигателя 17. Последний через редуктор 18 приводит в движение диафрагму 13, указатель 19 прибора и плунжер индуктивного датчика 20 вторичного прибора 21.Таким образом, на фотоэлемент 9 падают два световых потока: один от лампы 5, модулированный с частотой 50 периодов и другой от лампы 4, также модулированный с частотой 50 периодов, но сдвинутый по фазе на 180. Световые потоки вызывают в цепи фотоэлемента 50-периодные слагающие фототока; при равенстве световых потоков 50-периодные слагающие равны нулю. В случае нарушения...

Устройство для контроля коэффициента отражения сыпучих веществ, в частности муки

Загрузка...

Номер патента: 124165

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Мамбиш, Горбунов, Цветнов

МПК: G01N 21/47

Метки: сыпучих, коэффициента, муки, отражения, веществ, частности

...в схеме в результате различия коэффициентов отражения поверхностей 2 и 3, увеличивается усилителями 8 (постоянного тока) и 9 (переменного тока). На выходе усилителя 9 установлен реверсивный двигатель 10, который под действием усиленной разности потенциалов начинает врагцаться, причем направление вращения зависит от знака усиливаемого сигнала. С осью двигателя жестко связан сельсин-датчик 11, Последний электрически связан с сельсином-приемником 12, помещающимся в корпусе ФЭУ, Этот сельсин вращается синфазпо с датчиком и перемещает оптический клин И в сторону выравнивания световых потоков. Как только это выравнивание произойдет, разность потенциалов в мостовой схеме исчезает и двигатель 10 останавливается. На оси двигателя посажена...

Устройство для определения упругости паров и равновесия между жидкостью и паром

Загрузка...

Номер патента: 145062

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Городецкий, Олевский

МПК: G01N 25/14, G01N 21/47

Метки: между, упругости, равновесия, паром, паров, жидкостью

...3, приводимым в движение синхронным электромотором 4, через червячный редуктор 5. Исследуемый продукт подается шприцем через иглу б на нагретую поверхность корпуса 7 испарителя. Скоростной роторный испаритель состоит из корпуса 7 и ротора 8. Корпус, изготовляемый из нержавеющей стали, представляет собой перевернутый стакан с кони145062ческим углублением на наружной поверхности дна, являющейся поверхностью испарения. На внутренней поверхности дна смонтирована нагревательная спираль 9, Заданная температура рабочей поверхности испарителя автоматически поддерживается с помощью потенциометра, соединенного с термопарой 10, вмонтированной в корпус испарителя. Ротор грибовидной формы изготовлен из фторопласта. На рабочей поверхности ротор...

Фотоэлектрический прибор для измерения мутночти бактерийных взмесей

Загрузка...

Номер патента: 145698

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Фихман

МПК: G01J 1/42, G01N 21/47

Метки: бактерийных, фотоэлектрический, прибор, взмесей, мутночти

...с помощью прилагаемого к прибору постоянного неоседающего стандарта В мутности на 10 единиц мутности ГКИ.Интенсивность светового, потока регулируется с помощью диафрагмы 4, Между диафрагмой и кюветодержателем б установлен зеленый светофильтр 5 с максимумом светопропускания в оптимальной для человеческого глаза зоне видимого спектра (540 лмк).М 145698 В качестве закрывающихся стерилизующихся кювет 7 применены одинаковые по своему диаметру, толщине стенок и светопоглощению пробирки. Световой пучок (см. фиг. 2), проходя через прямоугольную ограничительную щель 2, попадает на объектив линзы 3, который проектирует нить накала осветителя 1 в пространство перед испытуемой пробирочной кюветой 7. Последняя служит одновременно фокусирующей...

Нефелометрический датчик

Загрузка...

Номер патента: 165005

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Союс, Чернов

МПК: G01J 1/42, G01N 21/47

Метки: нефелометрический, датчик

...ЛОТОК ПОП 2 ДаСТ На фОТОЭЛСМСПТ а. СРЕЗ ИЗМЕ- р 51 тсль 1 ы Световой поток Ф .Из 5 6, суд у с исследуемой культуроп, линзу 10 попа ает па фотоэлемент 4.В аподпых цепях фотоэлементов 3 и 4 содержатся лампы 1 и 12. Г 1 а сетку лампы 11, 15 работа 1 ощей в режиме усилителя-ограничителя, подается сипусоидальное напряжение риг. 2, а). На аподпо нагрузке Ы формп- РУ 1 ОТСЯ ИМПУЛЬСЫ ПР 51 МОУГО;ЫО 1 фоРМЫ (фиг. 2, б), которые с привязывающей цспоч ки. содержащей емкость 4 и диод 15, подаются па анод фотоэлеме 1;та 3, Так как фототок в гротоэлемеите возникает только прп наличии пол 05 к 1 Тельного напряые 1 ия на СГО аноде, то в первый полупериод фотоэлемент 3 25 не работает (фиг. 2, б).С нагрузки 3 сигнал подается на сеткулампы 12, на...

171134

Загрузка...

Номер патента: 171134

Опубликовано: 01.01.1965

МПК: G01J 1/42, G01N 21/47

Метки: 171134

...самотека также напротив окна.Экспонирующее устройство этих установок предназначено для непрерывного формирования поверхности контролируемого материала путем уплотнения, а фотометр - для измерения отражательной способности его.Предлагаемая установка обеспечивает стабилизацию отражающей поверхности материала путем его уплотнения с помощью вибрации и повышения, таким образом, точности контроля.Конструкция этой установки проще, Это преимушество достигнуто в результате выполнения экспонирующего устройства в виде связанного с виброприводом лотка, расположенного напротив стенки с окном под углом к вертикали и образующего с этой стенкой камеры клинообразный бункер с выходной щелью,На чертеже схематично изображена предлагаемая установка в...

192432

Загрузка...

Номер патента: 192432

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Литвинов, Каган, Иванин, Донецкий, Проектно

МПК: G01N 21/47, G01J 1/42

Метки: 192432

...света, На дне кюветы установлено зеркало, непрерывно омываемое струей жидкости и, следовательно, не подверженное загрязнению и запотеванию, Это повышает точность измерений.На чертеже показан датчик предлагаемого мутномер а.Непрозрачный У-образный сосуд-кювета 1 выполнен из стальных или пластмассовых труб. В основание 2 вмонтировано зеркало 8.жидкость в кювету поступает по входному патрубку 4 и выходит через сливные патрубки 5. Струя жидкости непрерывно омывает зеркало, предотвращая отложение осадков на его поверхности. В одном из колен кюветы расположены лампа-осветитель б, нейтральный светофильтр 7 и воспринимающий элемент (фотосопротивление) 8, в другом - второй воспринимающий элемент 9 (фотосопротивление). Кювета снабжена краном 10...

Способ исследования кинетики пропитки пористыхтел

Загрузка...

Номер патента: 209029

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Лаврентьев, Кореневска

МПК: G01N 21/47

Метки: пористыхтел, кинетики, пропитки, исследования

...которому, концы образца, расположенного на подставке, помещают в резервуар с исследуемой жидкостью.Предлагаемый способ отличается от извест ного тем, что, с целью повышения точности измерения, образец прижимают к основанию равнобедренной стеклянной призмы, освещают его световым потоком и по изменению полного внутреннего отражения светового потока 10 от основания призмы при соприкосновении жидкости с поверхностью стекла оценивают степень пропитки образца.На чертеже схематическидля реализации пр Способ исследования кинетики пропи ристых тел, по которому концы образ положенного на подставке, помещают вуар с исследуемой жидкостью, отлича тем, что, с целью повышения точности ния, образец прижимают к основанию бедренной стеклянной...

Способ определения светорассеивающей способности приземного слоя атмосферы

Загрузка...

Номер патента: 254817

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Кольцов

МПК: G01N 21/47

Метки: способности, светорассеивающей, слоя, атмосферы, приземного

...полученные от принятого рассеянного излучения, накапливают в течение времени, меньшего удвоенного времени прохождения импульсомэто го расстояния, и по суммарной нелишне накопленных сигналов судят об определяемом параметре.Светорассецвающую способность прцземного слоя атмосферы определяют по предлагае мому способу следующим образом.С летательного аппарата посылают в атмосферу по направлению к Земле импульс излучения ОКГ. Рассеянное атмосфсрои излучение, вернувшееся в пункт посылки, преобразуют в 15 электрические сигналы.Полученные электрические сигналы усиливают. Одновременно с посылкой импульса излучения ОКГ или до посылки этого импульса определяют расстояние от летательного аппа рата до Земли. Определять расстояние можноразличнымц...

Устройство для определения дисперсного состава взвешенных частиц

Загрузка...

Номер патента: 258712

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Трохан

МПК: G01N 15/02, G01N 21/47

Метки: состава, взвешенных, дисперсного, частиц

...2,многокольцевых диафрагм 3 и 4,линзы 5, фотоприемника (например, фотоум 5 ножителя) 6, узкополосных усилителей 7, пересчетного устройства 8 и регистрирующегоприбора 9.Устройство работает следующим образом.Тонкий луч света от источника света 1 проО ходит сквозь исследуемую среду и, рассеячный частицами среды, чроецируется с помощью объектива 2 на плоскость, в которой расположены две многокольцевые диафрагмы 3и 4, неподвижная и вращающаяся с постоян 5 ной скоростью. Ось вращения диафрагмы 4совпадает с направлением луча света.В каждом кольце диафрагм расположеныотверстия пли просветы определенной формы.Количество отверстий или просветов в кажО дом кольце различно. Таким образом, свет,258712 Предмет изобретения рассеянный на углы,...

Оптический способ определения дефектности хлопковб1х семян12

Загрузка...

Номер патента: 259467

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Заславский, Мардзелис, Исламкулова, Кириллов, Борисова, Центральный

МПК: G01N 21/47

Метки: семян12, оптический, дефектности, хлопковб1х

...междкоэффициентом отраце,1Изобретение относится к оптическим способам определения, а именно к определению дефектности хлопковых семян.Известны способы определения дефектности хлопковых семян с использованием в качестве исследуемой оптической характеристики цветового тона или чистоты тока. Однако цветовой тон ядра практически не изменяется при изменении дефектности семян.Цель изобретения - упрощение способа при обеспечении точности анализа, для чего в качестве исследуемой оптической характеристики используют коэффициент отражения света от ядер семян. Исследование ведут в монохром атическом свете с длиной волны 470 нм.Для измерения дефектности образец семян, например хлопковых, подвергают шелушению на дробильных вальцах. Шелуху и волокно...

Фотоэлектронное устройство для исследования пористой структурь ячеистого бетона

Загрузка...

Номер патента: 300815

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Орлов, Лисов, Баранов, Курбала, Полуэктова, Бахти

МПК: G01N 21/47

Метки: фотоэлектронное, структур, пористой, исследования, ячеистого, бетона

...Выход единен со входом воль х значений,5 Устройство работает следующим образом.Участок поверхности исследуемого изделия из ячеистого бетона освещается встречными косыми пучками света с помощью осветителей 5, благодаря чему создается оптический 10 контраст между сечениями пор и перегородками. При этом сечения пор оказываются затемненными, а перегородки - освещенными.Свет, отраженный перегородками, попадает и об ьектив 8, который создает на катоде фо тоумножителя 7 действительное изображениеучастка поверхности изделия. При этом на нагрузочном сопротивлении фотоумножителя создается электрическое напряжение, пропорциональное световому потоку, достигаю щему фотокатода. С помощью оборотнойпризмы 4, находящейся на одной оптической оси с...

Установка для исследования пористой структуры образца строительного материала

Загрузка...

Номер патента: 300816

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Московский

МПК: G01N 21/47

Метки: структуры, образца, исследования, строительного, пористой

...и повышения т втоматического с Достигается это тем, что выход сканирующего устройства соединен через согласующее устройство и устройство запуска, связанное с генератором эталонных импульсов, с блоком сортировки импульсов и электроимпульсными счетчиками.Предложенная установка изображена на чертеже,Она состоит из сканирующего устройства 1, выход которого соединен через согласующее устройство 2 с устройством запуска 3, причем последнее связано с генератором эталонных импульсов 4. Устройство запуска 3 соединено с блоком сортировки импульсов 5 и электро. импульсными счетчиками б,Установка работает следующим образом, Исследуемый шлиф образца помещают на предметном столике сканирующего устройства 1 и освещают, при этом встречные косые пучки...

Способ определения пористости ячеистых бетонов

Загрузка...

Номер патента: 306400

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Бахти, Логинов, Лисов, Полуэктова

МПК: G01N 21/47

Метки: пористости, бетонов, ячеистых

...встречными наклонными световыми пучками и преобразуют сканирующей системой отраженный световой поток в электрические сигналы.Изооретение ставит своей целью исключение сглаживания корреляции в значениях пористости на смежных участках поверхности исследуемого образца.Для этого образец подвергают дискретному вращению в горизонтальной плоскости и1 отсчитывают значения электрических сигналов в моменты остановок образца, осуществляемых через интервалы времени, которые смещены относительно друг друга на величину, соответствующую сдвигу элемента сканирования.Сущность способа заключается в следюр едм ет изобретения Способ определения пористости ячеистых бетонов, заключающийся в том, что образец освещают четырьмя встречными наклонными...