G01N 21/39 — с помощью настраиваемых лазеров

Способ определения величины поглощения излучения

Загрузка...

Номер патента: 713246

Опубликовано: 07.10.1983

Авторы: Докучаев, Глебов

МПК: G01N 21/39

Метки: излучения, величины, поглощения

...или полупроводниками. 5Известны способы определения величины поглощения излучения 1 .Наиболее близким техническим решением является калориметрический термопарный способ определения ве" 10 личины поглощения излучения Я , включающий нагрев образца излучениемеОднако отмечается сложность способа обусловленная .требованием йзготовления образцов специальной сложной конфигурации и помещением образца и термопары в теплоизолирующую камеру.Целью изобретения является упроще. 20 ние способа при сохранении чувствительности и точности. Эта цель достигается благодаря тому, что область нагрева ограничи вают диаметром пучка облучающего излучения, пропускают через образец поляризованное оптическое излучение и по изменению поляризации судят о...

Лазерный атомно-флуоресцентный спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1061004

Опубликовано: 15.12.1983

Авторы: Дмитриев, Спицын, Чередниченко, Соловьев, Копылов, Серегин

МПК: G01N 21/39

Метки: спектрометр, лазерный, атомно-флуоресцентный

...первый из которых установлен за монохроматором и подключен кусилителю, а второй оптически связанс лазером и подключен к системе обработки сигналов. Высокая спектральная яркость лазерного"излучения позволяет анализировать содержание химических элементов с пределом обнаружения до 10- 10"фЪ, а воэможностьизменения длины волны лазерного излучения позволяет анализировать раэлич ные химические элементы при помощиодного источника излучения 2 ,1Недостатком данного лазерногоатомно-Флуоресцентного спектрометраявляется низкая производительностьпри последовательном анализе различныХ химических элементов, вызваннаядлительной (по сравнению со временеМанализа, составляющей 1-2 мин) процедурой настройки, которая включает 6 Оустанонку длины волны...

Способ измерения пространственного распределения атомных концентраций

Загрузка...

Номер патента: 1092387

Опубликовано: 15.05.1984

Авторы: Турсунов, Эшкабилов

МПК: G01N 21/39

Метки: концентраций, атомных, распределения, пространственного

...лазерным излучением второй ступени, автоиониэационных состояний.Если направить излучения первого лазера и второго в двух взаимно перпендикулярных направлениях и совместить их максимумы интенсивности, то селективная ионизация атомов будет происходить только в области пересечения лазерных лучей, причем преимущественно в области совмещенных максимумов интенсивностей. Точку пересечения максимумов интенсивностей можно сканировать в пространстве по трем координатам, координаты этой точки являются координатами зоны, где мы хотим измерить пространственное распределение атомных концентраций. Координаты точки пересечения нетрудно измерить, исходя из данных о пространственных координатах лазерного луча. Более высокая чувствительность метода...

Устройство для фотоэлектрической регистрации спектра диспергированных сред

Загрузка...

Номер патента: 1100540

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Глазков, Скрипник, Гриб, Водотовка

МПК: G01N 21/39

Метки: диспергированных, регистрации, спектра, фотоэлектрической, сред

...каналов соединены с входами многоканального регистратора, введены светосоединительная ,пластинка, корректирующий канал, со . держащий последовательно соединенные четвертыи фотодетектор, оптически связанный со светоделительнойпластинкой, усилитель низкой частоты, фазо-. чувствительный выпрямитель и фильтр ,Зр нижних частот, выход которого соединен с первым управляющим входом блока поочередной генерации оптического излучения, управляющий генератор противофазных импульсов, выходами соединенный с управляющими входами фазочувствительных выпрямителей, блок скани-, рования, соединенный с вторым входом блока поочередной генерации оптического излучения и развертывающим вхо, дом многоканального регистратора,ф.С целью повышения...

Устройство для лазерного флуоресцентного детектирования единичных атомов и молекул

Загрузка...

Номер патента: 1122934

Опубликовано: 07.11.1984

Авторы: Прибытков, Матвеев

МПК: G01N 21/39

Метки: флуоресцентного, атомов, молекул, детектирования, единичных, лазерного

...атом 2, систему фокусировки вторичного излучения в виде объектива 3, фотоприемники 4, дискриминаторы 5, схему 6 совпадений, систему 7 счета сигналов совпадений.Схемы включения остальных пар светочувствительных элементов матричных детекторов аналогичны и условно не показаны. В случае появления в просвечиваемом лазерным излучением аналитичес"ком объеме 1 регистрируемого атома 2 возникает распространяющееся изотропно излучение флуоресценции. С помощью объективов 3 формируется. иэображение аналитического объема на поверхности матриц фотоприемников 4. Изображение регистрируемого атома,как центра излучения флуоресценции,буфет сформировано лишь на небольшойчасти площади (ячейке) координаточувствительных фотоприемников. Еслив схему 6...

Способ селективного лазерного анализа следов элементов в веществе (его варианты)

Загрузка...

Номер патента: 1124205

Опубликовано: 15.11.1984

Автор: Беков

МПК: G01N 21/39

Метки: элементов, его, следов, лазерного, варианты, веществе, анализа, селективного

...для отрица.тельного импульса,На фиг. 1 представлена схема иокизацииатомов и раздельной регистрации фоновыхионов и ионов исследуемого элемента.На схеме изображены ионизирующий им 30пульс 1 электрического поля, импульс 2электрического поля, электроды 3 и 4, атом.ный пучок 5, лазерные. лучи 6, селективныеионы 7, неселективкые ноны 8, детектор 9ионов, ионный сигнал 10 неселективных ионов.ионный сигнал 11 селективных ионов. 35На фиг, 2 показан другой вариант выделения из суммарного ионного сигнала селективного сигнала только пркмесиого элемента,На схеме изображены полОжительный понизирующий импульс 1 электрического поля, от-рицателькый импульс 12 электрического поля,электроды 3 и 4, атомный пучок 5, селективные ионы 7, детектор 9...

Способ определения параметров состояния молекулярных газов

Загрузка...

Номер патента: 1146586

Опубликовано: 23.03.1985

Авторы: Бахир, Симоньков, Шуралев

МПК: G01N 21/39

Метки: состояния, газов, молекулярных, параметров

...составляющей среды в интервалах частот а 1 . 0 на участках линий соптической толщиной Т 10, измеряютсуммарное поглощение йа этих учйстках излучение среды и определяютпо нему среднее значение функции План.ка Э , а среднее поглощение средыжнаходят иэ отношения , ут 1 оВПри этом эквивалентные ширинылиний исследуемых газов в кювете.выбирают в пределах 2 (й 6 - В,е к(1 сгде у и М - соответственно допплеровские полуширины и эквивалентные ширины спектральных линий в среде.На фиг. 1 изображено устройстводля реализации способа определенияск 1 с2 3 фФ2 Жи поглощает из,лучение среды в пределах горизон- "5тальных участков линий, которые всвязи с этим являются для него "квазичерными". Нижний предел Фограничивается допплеровской ширинойспектральных...

Способ лазерного атомно-ионизационного анализа

Загрузка...

Номер патента: 1155919

Опубликовано: 15.05.1985

Авторы: Кузяков, Новодворский, Волчков, Зоров, Чаплыгин

МПК: G01N 21/39

Метки: атомно-ионизационного, лазерного, анализа

...в зависимостиот концентрации труднолетучей матрицы. К тому же применение такогоохлаждаемого водой катода приводитк ухудшению предела обнаружения элементов в пламени, поскольку температура просвечиваемой лазером зоныпламени вблизи поверхности зондаснижается, что приводит к уменьшениювероятности столкновений возбужденных атомов определяемых элементов сокружающими их частицами пламении, в свою очередь, к уменьшениюстолкновительной ионизации.Цель изобретения - улучшение пределов обнаружения и чувствительностианализа элементов в труднолетучихи плохо проводящих электрическийток матрицах пробы путем предохранения зонда от образования на егоповерхности плохо проводящей электрический ток пленки,Поставленная цель достигается тем, что согласно...

Способ микроспектрального анализа химического состава вещества

Загрузка...

Номер патента: 1187035

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Ковтун, Лукашенко, Дашук, Мартиросов

МПК: G01N 21/67, G01N 21/39

Метки: состава, микроспектрального, химического, вещества, анализа

...напряжения на разрядном промежутке свыше 10 В/с разряд устойчиво формируетгся на поверхности диэлектрика в виде однорядного диффузорного разряда, и может формироваться на значительных площадях. При этом формирование скользящего разряда имеет место как при размещении диэлектрика в вакууме при давлении остаточного газа 1 10 Па, так и при наличии вблизи-%поверхности диэлектрика газовой среды с давлением 1 10 Па.бСкользящий разряд в незавершенной стадии в основном развивается на фронте импульса напряжения, На Фронте импульса напряжения имеет место максимальное значение вводимой в незавершенный разряд энергии 1 Еда на единицу длины разряда (Е - продольный градиент напряжения в разряде), так как значение тока 1, протекающего через...

Устройство для исследования короткоживущих нуклидов

Загрузка...

Номер патента: 1208499

Опубликовано: 30.01.1986

Авторы: Егоров, Солнышкин

МПК: G01N 21/39

Метки: исследования, короткоживущих, нуклидов

...радиоактивных нуклидов, получаемых на электромагнитных масс-сепараторах, работающих "в линию" с ускорителем.Цель изобретения - повышение чувствительности путем увеличения количества актов взаимодействия оптического излучения с атомами ис 4 Ои следуемых нуклидов и уменьшенияразмеров зоны взаимодействия,На фиг.1 приведена схема устройства для исследования короткоживущих нуклидов; на фиг,2 - временныедиаграммы движения ионов; на фиг,3временные диаграммы модулирующегонапряжения; на фиг.4 - временныедиаграммы лазерного излучения,устройство содержит масс- сепаратор 1 с ионным пучком 2 на выходе,замедляющий электрод 3, источниквысокого напряжения 4, модулирующий 2электрод 5, генератор импульсногомодулирующего напряжения 6,...

Абсорбционный спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1239558

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Казак, Надененко, Миклавская, Павленко, Лугина, Санников

МПК: G01N 21/39

Метки: абсорбционный, спектрометр

...Г - полуширина следующим образоме с, геД соз - соЗ - +Д 1 Ф - Еь -.-ц 1 З,чй со 5 - соз + й 5 ть - рь - ГР+ Р+ Р где- длина рабочей кюветы;Г, - длина нелинейного преобразователя 4 частоты205 пд др,суъ Фъ Р А Агде д - нелинейный коэффициент второго порядка; Г - внутрирезонаторнаяФ 25мощность излучения на частоте лазера-гетеродина; Г - скорость света;. р =РАЯ 1 ц, - коэффициенты отражения отражателя. 9 на частотах дополнительно введенного лазера и лазерагетеродина соответственно К - коэф- З 0Уфициент отражения отражателя 8 начастоте зондирующего излучения,В наиболее простом варианте исполнення абсорбционного спектрометра хаэер-гетеродин и дополнительно 35введенный лазер генерируют излуче,ние различных поляризаций и в качестве...

Оптический локатор для зондирования двуокиси азота в атмосфере

Загрузка...

Номер патента: 845582

Опубликовано: 07.11.1986

Авторы: Сильницкий, Козинцев, Гошоков, Макаров, Енгоян

МПК: G01J 3/26, G01N 21/39

Метки: азота, атмосфере, локатор, зондирования, двуокиси, оптический

...пятна с телескопа с входной щелью спектрального прибора, а также с потерями при возбуждении световолоконного блока; сложностью изготовления световолоконного блока; сложностью конструкции приемного блока, что приводит к большой трудоемкости при настройке.Цель изобретения - устранение указанных недостатков и повышение чувствительности измерений концентрации двуокиси азота в атмосфере,Цель достигается тем, что в качестве дисперсионного блока используется интерферометр Фабриеро,уст цовцс ццый между выходом входно -ГО 1 елекоп и компенсирующими клиньями, причем Однц фоток;)цемник ус -,отановлец НО;1 уг).омЧО к оптической Ок цриемнон истомы на входекнтерферометр, а н 7 Орой н Оптк -еской оск на выходе ицтерферометра.На фкг, 1 изображена...

Способ спектрального анализа твердых образцов

Загрузка...

Номер патента: 1283628

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Вазилло, Голиков, Акназаров

МПК: G01N 21/39

Метки: спектрального, твердых, образцов, анализа

...вещества лемент Содержание, Ж ина волн 1 нтенсивность ли Отношени Интенсив ность ли ний при 120 импульсах,Отношение числа имналитичесой линии,нм нтенсиностей нии при60 импульсов сах, усл.единицы еди ницы 1,58 2 2,05 е 1224 345 99,0 и 0,0 27,39 01 2,0 осуществить спектральныи высокой точностью и уменьо эталонов (стандартов),для градуирования сигпозволяеанализ сшить числнеобходимыхнала,ошения чи сивности линии от 45 установлена закономерность прямопропорционального изменения интенсивности аналитических линий от числа актов лазерней атомизации вещества, т,е. получено гРезультаты измерений свидетельствуют о достаточно четкой зависимости увеличения интенсивности аналитического сигнала от числа актов лазерной атомизации вещества.Для всех...

Устройство для лазерного атомно-абсорбционного и молекулярного абсорбционного анализа

Загрузка...

Номер патента: 1303908

Опубликовано: 15.04.1987

Авторы: Прибытков, Матвеев

МПК: G01N 21/39

Метки: анализа, молекулярного, абсорбционного, атомно-абсорбционного, лазерного

...дополнитель 8 2ного излучения равнаР, должна бытьвеличина Ч, для различных соотношений полуширины линий Ь=ь 4 /)1 вЗапишем условие равновесия длядвухуровневой системы в ячейке 5хеОЭш п)К 1 РЬ) 9,(1)й)=п 1 е тб КМ, К)оогде тч ш - концентрация соответственК 1но невозбужденных и возбужденныханализируемых атомов или молекул вячейке 5;- среднее время жизнивозбужденного состояния; б - сечениерезонансного поглощения в центре1линии поглощения Р М (1 ) -Р ь 1+2(-)1 ) Цгконтур линии поглощения; Р 1)И 1плотность мощности дополнительногоизлучения в спектральном интервале Ю,Для идеального случая плотностьмощности дополнительного излучениясосредоточена в бесконечно малойокрестности точкиР )= Р. (1- )1,),где 81- )1,) . дельта функция.Лазерное...

Способ атомно-флуоресцентного анализа твердых образцов

Загрузка...

Номер патента: 1305580

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Чернобродов, Закурдаев, Шерозия

МПК: G01N 21/64, G01N 21/39

Метки: атомно-флуоресцентного, анализа, твердых, образцов

...на длине волны 451,1 нм,Атомы Са возбуждаются на длиневолны 403,4 нм, а флуоресценция регистрируется надлине волны 417,2 нм.Предварительная калибровка показываетчто коэффициент пропорциональностимежду импульсом отдачи и сигналом ссистемы его измерения равен К,-4- 2 мВ2 см с, а коэффициент пропорциональности между количеством испаренных атомов и величиной сигнала7 -1флуоресценции К = 10 мВ , В экспегрименте зарегистрирован с системырегистрации отдачи сигнал 5 мВ, следовательно Р -.= К, 5 = 10 ч см с . Измерение средней скорости разлетасгустка, проведенное по регистрациисигнала флуоресценции атомов Са, даетвеличину 1,2 10 см сВсего испарено10 16 1,2106 69,7 1 6710 ф1305580 где К,коэффициент пропорциональности между импульсом...

Способ атомно-ионизационного анализа

Загрузка...

Номер патента: 1376013

Опубликовано: 23.02.1988

Автор: Матвеев

МПК: G01N 21/39

Метки: анализа, атомно-ионизационного

...трудноионизируемых в данномпламени элементов, например М эпламени пропан-бутан-воздух, при до.50вольно низком напряжении на зонде11 наступает режим насыщения велинасчины сигнала и при дальнейшем увеличении напряжения на зонде сигналпрактически не растет,При анализе легкоионизируемыхэлементов возле зонда вначале принапряжении 11 11У проводят накопление атомов возле зонда, а затем регистрацию сигнала при напряженииф 1 Ц(11 2 П нф При быстромпереключении напряжения с Б до У,за время( ЧЙ (Ч - скбростьдвижения атомизирующего газа; й -диаметр лазерного луча) накопленныевозле зонда атомы не успевают выйтиза счет диФФузии и конвективных пото .ков из просвечиваемой лазерным излучением зоны. При лазерной ионизацииатомов в пламени и...

Способ лазерного спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 1340324

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Джугурян, Власов

МПК: G01N 21/39

Метки: спектрального, лазерного, анализа

...направляют перпендикулярно молекулярному или атомному пучку 2 сканируютпоступательно со скоростью Ч, на 15расстояние П, где Ч - скорость частиц молекулярного (атомного) пучка,При иэмереии двухфотонных спектровперпендикулярно напранлению распространения лазерного пучка ставят зеркало Э и сканируют поступательностоячую световую волну, Частота лазерного излучения резонансна частотеодного из спектроскопических переходов атомов или молекул, 25Вследствие увеличения областивзаимодействия частиц молекулярного(атомного) пучка с лазерным пучком,время в течение которого частицы находятся в световом пучкеопределяется 30выражением пических переходов атома или молекулы, Лазерый пучок направлен перпендикулярно днижеию пучка атомов или молекул и...

Способ определения состава поглощающих включений

Загрузка...

Номер патента: 1522082

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Крутякова, Смирнов

МПК: G01N 21/39

Метки: включений, состава, поглощающих

...Д1 (1расстояние между ПВ, которое можноопределить, зная концентрацию включе"ний С, как 1 1/ с, то при о " (М, 8)возникнет несколько микроразрушений,каждое из которых будет обусловленонагревом наиболее опасных включений.Возникновение микроразрушений позволяет надежно и однозначно визуализировать включения, наиболее опасныес точки зрения оптической прочностипри данном режиме облучения,Далее облучают ту область материа-.ла которую хотят исследовать, с интенсивностью, околопороговой для визуализации наиболее опасных включений, т.е. (1-5) о (М,ь) - Ч ф (М)регистрируют спектр свечения, сопровождающий образование микроразрушений,и, поскольку спектр свечения в такомрежиме облучения отражает элементныйсостав вкжочений, определяют...

Способ спектрального анализа газов

Загрузка...

Номер патента: 1571477

Опубликовано: 15.06.1990

Авторы: Ошемков, Петров, Головенков, Большаков

МПК: G01N 21/39

Метки: спектрального, газов, анализа

...К рассчитывают. по формуле1 К= -о-л о где о - интенсивность насыщенной флуоресценции для двухкомпонентной смеси;Ь - та же величина для трехкомпонентной смеси с тем же содержанием определяемого компонента.Находят кривую насыщения флуоресценции анализируемого газа, определяют по этой кривой интенсивность насыщеннойфлуоресценции х и В/хууг По кривой поправок, используя ИхВ находят поправку Кх и .рассчитывают исправленную интенсивность насыщенной флуоресценции и х поП ; формуле11 х 1 1 х = - е 1 - Кх Используя 1 х по градуировочной зввиисимости, находят содержание определяемого компонента,Способ позволяет учесть влияние на интенсивность насыщенной флуоресценции параметров газового разряда, зависящих от содержания третьего компонента.П...

Способ спектрального анализа твердых проб

Загрузка...

Номер патента: 1603253

Опубликовано: 30.10.1990

Авторы: Бернардо, Гулецкий, Петров, Ежов, Ошемков, Артамонова

МПК: G01N 21/39

Метки: твердых, спектрального, проб, анализа

...теплового светового потока от пятна взаимодействия лазерного луча с пробой меняется лишь на 15-20 , т.е. устойчивее к вариациям мощности лазера примерно в 10 раз. В то время как вариации состава образцов приводили к изменению сигнала абсорбции в 2 - 3 раза, изменение отношения аналитического сигнала к величине теплового светового потока составило лишь 30 , т.е. оказалось устойчивее также примерно в10 раз.П р и м е р 2, Лазерную атомизацию исследуемого образца производили в вакуумной камере при остаточном давлении менее, 10 мм рт.ст, Прризводили облучение поверхности образца импульсным лазерным излучением с длительностью 20 - 10 нс, плотностью мощности на поверхности образца 10 - 10 Вт/см и в образующемся9 10 глазЕрном факеле с помощью...

Способ голографической спектроскопии твердого тела

Загрузка...

Номер патента: 1642331

Опубликовано: 15.04.1991

Автор: Кравец

МПК: G03H 1/00, G01N 21/39

Метки: твердого, тела, голографической, спектроскопии

...положения максимумов Х-, Р-, М-, К-, К-, /,полос поглощения, измеренные даннымспособом, 3, Я - длины волн записывающего и зондирующего лучей соответственно, В голограмме среднее значениеконцентрации Г-центров составляло2,6 10см, При угле 81 = 7 пространственныи период голографической решетки Л. = 1,81 мкм, Для Я = 1064 ниугол дифракции 8 = 17,6, Полуширинакривой угловой селекции голограммы,охлажденной до 24 С, составляла 2691, в в- 6,75, а ее толщина й=Л/2 Ь 61=920 мкм совпадала с глубиной окрашенного слоя кристалла, Полуширинакривой зависимости ДЭ от А , гдеЛ 9 - отклонение от условия Брэгга (О),составляла 2 И П = Ф И/й) Сс 8 О = 6,6 мм, (9) При измерении голографических спектров ширину щели монохроматора брали такой, чтобы Ь Я269,....

Способ измерения расхода жидкости или газа и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1673924

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Таланчук, Зайцев, Степченко, Шматко, Татаринцев, Голубков, Маслов

МПК: G01N 21/39, G01P 3/36

Метки: жидкости, газа, расхода

...элементов с независимыми оптическими свойствами. Таким элементом в лазерном парциальном расходомере является кювета 9 с движущимся по ней потоком среды, пересекающей лазерные лучи под углом, не равным 90. При этом изменение частоты встречных волн пропорционально интегральной по пути луча скорости потока. Изменение частоты регистрируется первым фотоприемником б и измеряется частотомером 11.Для контроля парциального расхода химической компоненты среды устанавливается длина волны излучения лазера, совпадающая с полосой поглощения определяемой компоненты, Спектроскопия поглощения внутри резонатора для колебательно-вращательных спектров мо где )(в) и )О(ь) - спектральные интенсивности излучения с поглощением компоненты среды в...

Способ определения элементного состава аэрозольных частиц

Загрузка...

Номер патента: 1718056

Опубликовано: 07.03.1992

Авторы: Быковский, Запов, Пронин, Узиенко, Ананьин, Жуков, Попов

МПК: G01N 21/39

Метки: элементного, аэрозольных, частиц, состава

...что для осуществления оптического пробоя в воздухе, не подвергавшемся специальной очистке, необходимыплотности потока лазерного излученияФ- 10 Вт/см . Повышение количест 9 10 2ва находящихся в воздухе пылинок ведет к 50уменьшению пороговых значений Ф и придостижении определенных концентрацийчастиц (Кпор) в среде развивается низкопороговый коллективный оптический пробой(НКОП). Известно, что для инициирования 55НКОП требуются потоки Ф Бт/см, чтоб 2на 3 - 5 порядков ниже Ф, необходимых дляинициирования пробоя в воздухе, Размерчастиц б и Кпор для каждого вида порошкаподбирается индивидуально. Как следует из проведенных исследований, рекомендуемыми являются следуюшзие параметры; б 10 мкм, Кпор 10 ч/см, Эмиссионныйзспектр из...

Способ измерения фоновых концентраций молекулярного водорода и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1095784

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Суровегин, Бунькин

МПК: G01N 21/39

Метки: концентраций, молекулярного, фоновых, водорода

...генератором. Оптическое излучение частоты д второго лазера выделяется спектрографом, регистрирует,ся, и после усиления поступает на входсинхронного детектора, выделяющегосоставляющую, соответствующую частотемодуляции Яо амплитуды первого лазера, амплитуда синхронного детектиро. ванного сигнала поступает на блоквывода информации,Ар Рг с А 0 еИ=К- -1ехр -- 1 п( - -") О, 12 Р А а Ьс 0 Ар ф э 2И 2 п 2 (1+и) ГУл 22 д16 вс д 1 дг 510%7 частоты 63 ), амплитуды другой волны также испытывает. модуляцию с частотой Яо , величины которой О Р/Р определяется по формуле:3 Р 2 -2 Й3216 н с И - 1 Ьу и (1+й) Г) РР дР "г 2 Ъ К недостаткам известного техничес" кого решения следует отнести невозможность его использования при дистанционных измерениях, так...

Способ контроля дефектности оптически прозрачных монокристаллических оксидов

Загрузка...

Номер патента: 1741025

Опубликовано: 15.06.1992

Авторы: Кабанова, Яковлев, Смирнов, Гриценко

МПК: G01N 21/39

Метки: оксидов, дефектности, прозрачных, монокристаллических, оптически

...материала, но также могут приводить к его разрушению. Для данного рода оксидов пороговая плотность мощности лазерного излучения, приводящая к разрушению материалов)за счет эффекта оптического пробоя), составляет порядка 10 Вт/см и выше, Поэтому для выявления структурных дефектов и выбора бездефектных заготовок для изготовления линз и других оптических элементов без разрушения материалы необходимо облу 2- чать образцы лучом лазера с с10 Вт/см . Предлагаемый способ контроля позволяет выявлять не только структурные макродефекты на поверхности и в объеме материала, но и микродефекты (дислокации и точечные), а также изучать их процесс образования и преобразования при лазерном воздействии, Особенно предлагаемый метод усиливает эффект...

Способ определения положения максимума коэффициента пропускания атмосферной трассы

Загрузка...

Номер патента: 1554572

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Небольсин, Шишигин, Коханов, Копытин, Левицкий

МПК: G01N 21/39

Метки: максимума, положения, атмосферной, трассы, пропускания, коэффициента

...111 ЗНЕ РГИИ И Э )1 УЧЕНИП Г . с с 1 )ЛТ.рГИ й ИМ 1 у,с (.В Е)ассе 1(1,г) э .ЛУЧЕ(с 1,Для каждого значения н.йде;ыхприращений с помоью нини 1 н 7 ычисляют их отнощение ) 1. ,.ГЕ , иСРаВНИВаЮт С ТНгаЕНИЕМ Г.(,),ссс, Затем устанавливают номер н цм(льса,Прн КОтОрОМ ВЫПОЛНЯЕТСЯ (с:(,с(;.Г(ЗО.; Есл 1 прц э 1 он .1(цл предыдущего и.соис)1 УЮ(сС(.О 1 НЦУПЬС( Я ЫЦОЛНЯЮТСЯ НЕ 1Г)Е 1 С) Ва: 6 Е,"(1(Г(.(1 Е о 1 пс (1) ) в 101 1 (1 расходим(ОГ Гь пучка излучения; площадь сечРния пучка В на .(але трассы,.)дают на трассу ряд импульсов излу-,нит с но Отонно изменяющимися знасниями энергий Е и = 1, 2, 3., л ,це трессь изс рют энергию Е" е 1 а по изобретения :. аз, Р, Раускал Подписно.и откртб., д,Заказ 8ОН 11 ИПИ Го.твенн11)0 и при 1 К 1Г т щ...

Способ определения концентрации газов и паров

Загрузка...

Номер патента: 1528123

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Пономарев, Кистенев

МПК: G01N 21/39

Метки: паров, газов, концентрации

Комбинационный лидар

Загрузка...

Номер патента: 1088468

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Копытин, Лазарев

МПК: G01N 21/39

Метки: комбинационный, лидар

...системы. Первая расположена на одном из выходов светоделительного устройства.2 и включает измеритель энергии лазерного из лучения, состоящий из плоскопараллельной пластины 6 и коаксиального фотоэлемента 7, а также передающий объектив 8. Вторая передающая оптическая система расположена на выходе поляризационного устрой ства 5 и включает также измеритель энергии лазерного излучения, состоящий из плоско- параллельной пластины 9 и коаксиального . фотоэлемента 10, и передающий объектив 11. Приемная оптическая система состоит из приемного объектива 12 и спектроанализатора 13, На выходе приемной оптической системы расположен анализатор поляризации 14, фоторегистрирующае устройство с блоком индикации 15. вход запуска которого связан с...

Лидар

Загрузка...

Номер патента: 1127424

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Маричев, Ельников

МПК: G01N 21/39

Метки: лидар

...расстоянию зондированияЙеп,Ео - координата фокуса приемного телескопа в плоскости изображения, причемприемный телескоп с помощью механизмапередачи соединен с двигателем.На чертеже схематически изображенпредлагаемый лидар.Лидар содержит передатчик 1 с источником многочастотного непрерывного оптического излучения, приемный телескоп 2,спектральное диспергирующее устройство3, платформа 4, направляющие 5, световоды6, фотоумножители 7, усилители постоянного тока 8, электромотор 9, самописец 10.Устройство работает следующим образом,Излучение, посылаемое передатчиком1, проходя через атмосферу, рассеивается ичасть рассеянного излучения, попадая наприемный телескоп 2, фокусируется в плоскости изображения 11. Небольшой...

Способ количественного микроспектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 1777052

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Каликов, Розанцев

МПК: G01N 21/39

Метки: анализа, количественного, микроспектрального

...дозы энергии лазерного излучения. Эту дозу принимают за 100%. В нашем случае величина дозы составляет 100 Дж. Уменьшая дозу по геометрической прогрессии со знаменателем 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 лазерного излучения по геометрической прогрессии со знаменателем 1= 3, равным 1,3,1030,б 0,190 Дж, каждый раз экспони руя спектры лазерной плазмы на той же фотопластинке.При этом параметры лазерного излуче ния и плотность потока остаются неизменными,Проводят химическую обработку фотопластинки, затем фотометрирование спектральной линии меди, Строят два графика;1 - зависимости интенсивности спектральной линии меди от изменения концентрации в эталонных образцах (изв. способ), (кривая 4 на фиг,2).2 - зависимости интенсивности спектральной...