G01M 11/02 — испытание оптических свойств

Аппарат для испытания стекол на свильность

Загрузка...

Номер патента: 14649

Опубликовано: 31.03.1930

Автор: Левкович

МПК: G01M 11/02

Метки: испытания, стекол, аппарат, свильность

...аппарата сбоку с частичным разрезом; фиг, 2 - вид его спереди; фиг, 8 и 4 - его детали.Предлагаемый аппарат состоит из горизонтальной ванны 1, укрепленной на чугунной постели 2, Между ванной 1 и постедью 2 зажимается на резиновых про кладках лист толстого стекла, который является днищем д ванны. На выступающих краях постели насажена каретка 4, несущая поперечный суппорт б, 6, 10. На суппорте укрепляется стереотруба 8, 9 с источником света и диафрагмой 11. Руко. ятка 7 служит для передвижения суппорта марта 1930 года, Действие патентат от 31 марта 1930 года,Вв поперечном направлении, а рукоятка 12 ддя ее передвижения в продольном направлении. Ванна 1 снабжена краном ддя спуска жидкости.На фиг, и изображена часть стода вертикального...

Прибор для измерения эксцентриситета линз

Загрузка...

Номер патента: 34790

Опубликовано: 28.02.1934

Автор: Козлов

МПК: G01M 11/02

Метки: прибор, эксцентриситета, линз

...19, установленные на расстоянии четверти окружности друг от друга в кольце 20, удерживаемом подвижным кольцом 21. Для регулировки прибора надо иметь две линзы: одну, имеющую предельный положительный радиуса другую - отрицательный. Желательно, чтобы эти линзы были тщательно пентрированы. Регулировка производится следующим образом. Прежде всего приводят в вертикальное положение (по уровне + 10 - 20") направляющую для столика 9 и в горизонтальное положение - основание 12. Затем посредством винтов 74 устанавливают вертикально плунжер столика,Вращая столик, центрируют его, ведя наблюдение через микроскоп 17. Затем подымают столик вверх по шкале на величину+Я и помещают на патрон 1 б столика эталонную линзу положительной сферой вверх,...

Устройство для испытания прожекторных отражателей

Загрузка...

Номер патента: 40008

Опубликовано: 30.11.1934

Авторы: Павлов, Новиков

МПК: G01M 11/02

Метки: прожекторных, испытания, отражателей

...изображение креста, центр еерекрестия которого будет совпадать с центром самого креста нри любом удалении креста от отражателя.Если оптическая ось отражателя совмещена с визирной осью установки, то лапки указанного изображения креста будут иметь одинаковую величину и располагаться симметрично относительно самого креста, что в свою очередь легко определяется помощью изображений прямолинейной сет и,2. Качественное испытание отражателей, Наличие в установке щита с сеткой и фотокамеры позволяет произвести исследование качества всей поверхности отражателя, и, в слу:ае необходимости - сделать фотоснимок,3. фиксирование точки двойного фокусного расстояния. Если отражатель сплошной, т. е. не имеет в центре слепого отверстия, то для...

Прибор для контроля защитных стекол для секстанов

Загрузка...

Номер патента: 44706

Опубликовано: 31.10.1935

Автор: Борисов

МПК: G01M 11/02

Метки: стекол, секстанов, прибор, защитных

...вокруг вертикальной оси. Эта пластинка поворачивается с помощью винта 4, барабан 11 которого поворачивается наблюдателем, не сходящим с места. Деления барабана градуированы в секундах или долях секунд угла клина. Зрительная труба имеет объективы 8. Труоы объективов 8 отделены друг от друга. Перед окуляром помещены призмы Гельмгольца 9, которые, разделяя поле зрения, приводят изображение щелей обоих коллиматоров в соприкосновение,При нулевом положении плоско-параллельной пластинки в окуляре 10 видны обе щели, расположенные на одной прямой, Поворачивая плоско-параллельную пластинку 3, можно заметить смещение нижнего изображения относительно верхнего. Такое же смещение верх. ней щели может быть вызвана помещением за верхним коллиматором...

Способ центрировки стекол объектива

Загрузка...

Номер патента: 49374

Опубликовано: 31.08.1936

Автор: Максутов

МПК: G01M 11/02

Метки: стекол, центрировки, объектива

...при проверке; фиг. 2 - вид экрана; фиг. 3 - 5 - различные моменты поверки центрировки стекол объектива.Предлагаемое для осуществления указанного способа простое приспособление позволяет довести процесс центрировки объектива до весьма быстрой и простой операции надлежащей точности, причем самое приспособление может быть изготовлено из куска ватманской бумаги, на котором начерчентушью крест и сделан прокол иглой в центре креста.Для проверки центрировки исследуемый объектив А и осветитель В в виде источника монохроматического света (например, ртутной дуги) разделяются экраном С, заслоняющим объектив от непосредственных лучей источника, Белая или окрашенная пластинка В для диффузионного отражения света с отверстием в центре и с...

Способ классификации свилей в стекле

Загрузка...

Номер патента: 59985

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Максутов

МПК: G01M 11/02

Метки: свилей, классификации, стекле

...а расстояния постоянны; 3) диаметр точки постоянный, а расстояния изменяются.Предметом изобретения является способ классификации свилей по методу точки при постоянных диаметре точки и расстояниях от нее до стекла и до экрана, отличающийся тем, что производится ослабление освещенности экрана путем введения нейтрального клина вблизи точечного отверстия либо путем поляризации пучка света в двух пунктах.Благодаря снижению контрастной чувствительности глаза, вызываемому ослаблением освещенности экрана, свили перестают быть видимыми на экране, причем исчезают прежде всего слабые свили и под конец, при почти темном экране, самые грубые, Анализатор (либо клишин) моПрименяемая оптическая схема такова. Свет точечной лампы собирается...

Способ определения качества коррекции микрообъектива

Загрузка...

Номер патента: 60129

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01M 11/02, G01B 9/02

Метки: качества, микрообъектива, коррекции

...линз, посеребренных или алюминировачных, с целью получения большего количества света.Описываемый интерферометр можно навинтить на тубус обыкновенного микроскопа вместо объектива.Свет от источника 1 собирается конденсором 2 на отверстие диафрагмы 3, находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и б, Пластина 4 разделяет на два пучка расходящиеся лучи, подающие на нее. Пучки эти затем собираются объективами 5 и б в точках 9 и 10, с которыми совмещаются центры кривизны или поверх:Ости сферических зеркал 7 и 8. Вследствие этого, отразившись ог зеркал, пучки БозвряШяются к пластине 4 те)1 и путями, какими шли От нее, и соединяются ею в один пучок.При хорошей юстнровке прибора и окуляр микроскопа Бид;о о.,но резкое...

Устройство для определения координат оптического центра полулинз

Загрузка...

Номер патента: 61078

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Скарин

МПК: G01M 11/02

Метки: координат, оптического, полулинз, центра

...падают на сферическое зеркало и, по отражении от него, возвращаются в трубу.Лучи, прошедшие эталонную полулинзу 1 и собранные ею в ее главном фокусе 7, будут возвращаться в трубу по тому же направлению 3, по которому они из нее вышли, и дадут изображение источника в главном фокусе трубы.Лучи, которые были собраны испытуемой полулинзой 2 в ее главном фокусе 7, будут возвращаться в трубу по направлению 9 из точки 8, которая является изображением точки б в сферическом зеркале 10, и дадут изображение источника, лежащее вне главного фокуса трубы. По смещению обоих изображений, образуемых возвращающимися в трубу лучами, можно судить о расстоянии между оптическими центрами 4 и б полулинз, а следовательно, и об относительных координатах...

Устройство для определения координат оптического центра полулинз

Загрузка...

Номер патента: 61600

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Скарин

МПК: G01M 11/02

Метки: оптического, координат, центра, полулинз

...лучи падают на сферическое зеркало 10 и, отразившись от него, возвр а щ а ются в трубу.Лучи, прошедшие через эталонную полулинзу 1 и сооранные в ее главном фокусе 7 (он же центр кривизны сферического зеркала 10), будут возвращаться в трубу по тому же направлению 3, по которому они вышли из трубы, и дадут изооражение источника в главном фокусе трубы.Лучи, собранные испытуемой полулинзой в ее главном фокусе 6, будут возвращаться в трубу по направленшо 9 из точки 8, которая является изображением точки 6 в сферическом зеркале. Эти лучи дадут изображение источника, лежащее вне главного фокуса трубы.По смещению обоих изображений, которые дают возвращающиеся в труоу лучи, можно судить о расстоянии между оптическими центрами 4 и 5 полулинз,...

Устройство для сравнения фокусных отрезков объективов

Загрузка...

Номер патента: 65652

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Юдин

МПК: G01M 11/02

Метки: отрезков, фокусных, объективов, сравнения

...С (Чокуецы лИ раССтОяиняМИ,лежащим:1 внури задангых пределов, шкала Ш Имеет ряд штриховС ПрОМЕжуТКаМИ, ОцрЕДЕЯЕЧЫ:лИвеличиной допуска внутри, даннойгруппы (фиг. 4). Совместив нижниештрихи О 5 еих шкал, нгблюдательопределяет, против какого промежутка находятся верхние штрихишкалы Ш 1, итем самьв определяет, в какую группу необходимоотнести испытуемый Об ьекпв.Ниже приводится в качестве при,;ера ргсчст шкалы для объектива" =-120 мм при условии, чтс макС(МЛллНОЕ От(. ОНЕНИЕ фОКуСНОГОрасстояния от номинала равно0,051"; обьективы должны бытьразбиты на групы, внутри каждойгруппы 11 окусное рассто 1 иИе должно быть постоянным и пределах+0,01.Примем увеличение зрительнойтрубы равным 6. Видимое угловоерасстояние между штрихами эталонной шкалы,...

Способ исследования бесформенных кусков стекла на свили

Загрузка...

Номер патента: 67168

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Максутов

МПК: G01M 11/02

Метки: кусков, стекла, свили, бесформенных, исследования

...стапполя с .счечпым отверстием 5, располагают исследуемое стекла против яркого протяженного источника света и наблюдают в нем свили с помощью лупы 7, как изложено выше.Чтобы выравнять освещенность галя, уменьшить влияние резких неправильностей поверхностей стекла и общей неправильности его формы, предлагается следующее видоизменение способа (фиг. 2), Осветитель 4 создает изображениеМо 67168 исследуемыи кусок стекла помещают в оптическую кювету с жид, костью высокого показателя пре/1)/2 о Типография Госпланиздага точки внутри кюветы 9, заполнен. ной керосином 11 и содержащей в себе исследуемое стекло, В случае отсутствия светосильной оптической системы 4 с хорошо исправленными аберрациями можно диафрагму выполнить в виДе пластинки...

Способ и прибор для измерения аберрации и фокусировки по зонам оптических систем коллиматорного типа

Загрузка...

Номер патента: 67224

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Лебедев

МПК: G01M 11/02

Метки: зонам, оптических, фокусировки, типа, прибор, аберрации, коллиматорного, систем

...удаления естественного или искусственного бесконечно удаленного предмета. Аберрации эталонного объектива предварительно измеряются путем определения удаления предмета приразличных положениях диафрагмы 2. 1 Способ измерения аберрации и фокусировки по зонам оптических систем коллиматорного типа путем измерения сходимости двух диаметрально и 1, гпвположРых пучков, выделенных д:афрагмой, отличающийся тем, то указанные пучки направляют в стереоскопический измерительный прибор, которым проводят измерения.2, Прибор для осуществления способа по п. 1, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что он выполнен в виде стереоскопического бинокулярного приоора с измерительными марками или компенсаторами в окулярных ветвях и одним объективом, перед которым...

Интерферометр для измерения точных асферических пластин шмидта

Загрузка...

Номер патента: 78572

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Курицкий

МПК: G01B 9/02, G01M 11/02

Метки: интерферометр, шмидта, пластин, точных, асферических

...центром в фокусе зеркала 4. Отразившись от зеркала 5, лучи идут обратно и, пройдя вторично через пластинку 1, отражаются .от наклонной плоскопараллельной пластинки б и направляются в зрительную трубу 7.Часть лучей из коллиматора 2 плоскопараллельная пластинка б направляет непосредственно на эталонное плоское зеркало 8, от которого, отразившись, лучи также попадают в зрительную трубу 7, где интерферируют с лучами, дважды прошедшими через испытуемую пластинку 1. По интерференционной картине в зрительной трубе судят о качестве и параметрах испытуемой пластинки 1.Для уменьшения габаритов устройства испытание пластинки 1 можно вести по участкам, используя передвижные промежуточные оптические элементы между коллиматором 2 и...

Установка для исследования нарушений гомоцентричности световых пучков

Загрузка...

Номер патента: 80686

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Папиянц

МПК: G01M 11/02

Метки: пучков, световых, нарушений, исследования, гомоцентричности

...призмами, поставленными перед и сзади двух колл им аторов, в фокаль. ной плоскости одного из которых и между ними установлены перпендикулярно одна к другой две щели.На фиг, 1 показана установка в разрезе; на фиг. 2 - процесс об.,разования кривой аберраций, наблюдаемой в окуляр установки.Лучи света от источника 1 (фиг. 1) проходят через щель 2, монохроматор 3 и образуют в фокапьной плоскости 4 коллиматора 5 сплошной спектр. Выйдя из колли:матора 5 и пройдя щель б, лучи параллельным пучком направляются во встречный коллиматор 7 и через щель 8, призму 9 и зрительную трубку 10 небольшого увеличения попадают в глаз наблюдателя. Исследуемая оптическая деталь 1 или система) 11 помещается в параллельном пучке лучей и в промежутке между...

Диоптрийная трубка

Загрузка...

Номер патента: 84052

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Бураго

МПК: G01M 11/02

Метки: диоптрийная, трубка

...что параллельно диоптрийной цкалс установлена вторая линейная равномерная шкала, с целью облегчения нахождения величины поправки к отсчету по диоптрийной шкале в случаях значительного отклонения фактической величины расстояния объектива трубкц от последней поверхности испытуемой оптической системы по сравнению с расчетным расстоянием, на которое рассчитана диоптрийцая шкала трубки.На чертеже показана схема измерения диоптрийной трубкой.К испытуемой системе 1 приставляется диоптрцйная трубка 2, имеющая определенное расстояние А от нулевого положения объектива 3 трубки до последней ближайшей поверхности испытуемой системы. Пунктиром изображено некоторое положение объектива, полученное при измерении. Величина а, отсчитываемая по...

Прибор для количественного определения качества отражателей в светооптическом отношении

Загрузка...

Номер патента: 84210

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Новиков, Скрипкарь

МПК: G01M 11/02, G01J 1/18

Метки: количественного, отражателей, прибор, качества, отношении, светооптическом

...812 Ов шаре сравнения Е,Согласно теории ццтсгрцрук)щего шаря:ьх мест в указацных шарах будст равна 5,р 1щ,"освещенность и дикяторВ приемном шаре Ре )в- = - рЕ где .5,р - плоцадь пРиемного шаРа;,с - площадь шара сравц( цця;1- и --- коэффициенты, показывяк)цис, какя доля сферывл 1 щ)тся интегратором:) - коэффцццснт отражения окраски шаров;.ТЦ ФОРМУЛЫ 51 ВЯОТСЯ ОС 1 ОВЦЫМИ И ИСПОЛЬЗУ 10 ТСЯ КЯК:1,.Я ВЦ 3 У яльцого, так ц для объективного способа измерения.ля визуаыого способа измерения прибор имеет фотометрцческую головку 5 с фотометрическцм клином 6, которым регулируется яркость индикаторного поля шара сравнения. Таким образом, яркостифотомстрцческцх цолец сравнения будут отвечать выраж-циям:у приемного шара ВК,о)Ршаря сравнения В...

Мира для определения разрешающей способности оптики для цветной съемки

Загрузка...

Номер патента: 85538

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Сахаров

МПК: G01M 11/02, G03C 5/02

Метки: оптики, разрешающей, мира, способности, съемки, цветной

...1 ссрапиыми друг с другом пс дают материала для количсстпепой оценки качсстя Ооъск п)0Оу)кдснии Об цх ири 0 ног и; всех )гдов ироиОдствсипой работы Е ооласти цветного кино.ОЕисывас)еая мира позволяет устранит, указяпиыс недостатки тл, ч со, с целью выявления по цей хроматической псиралспиостц объсктиов, она выпо;пена пз чередующихся Есс)-с)слых и цветных поеос, цстиость которых подобрана по зинам сеисиоилизации исгятпвпого матерсала и соотвстствует сенсибилизации одного из слоев негативной илек, .сьса или цяолеодеицс мира произодится 1 е только ери Ос 10.) с;)стс, по секжс ири освещсипп последовательно через цвстпыс ссто 11)игьтр) зоны иропусканця которых соответствуют тем сисктральс пым зонам, ца раооту в которых расчитаны отдельные...

Испытательная таблица для определения разрешающей способности объективов

Загрузка...

Номер патента: 88227

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Сахаров

МПК: G01M 11/02

Метки: испытательная, разрешающей, объективов, способности, таблица

...по мере приближсния и цснтру. либо параллел нов виде )юскольких групп со штрнхягми рязл)чп 01 ш 1 ри);ы. Прп испытаниях фотографическим путем такие таб;)ицы располагаются перед объектиВом в одной плоскости в 5, 9 или 13 различных точках снимаемого поля. Расстояние между объективом и испытательными таалицами подбирается таки. образом, чтобы изображе;ше штрихов имело строго определенные размеры, что облегчает последующее определение величины разрешающей способности. С целью контра;я постаяпстВя услоВий экспозиции и проявления, на таблицу нанесено нейтрально серое поле пли 1 сйтрально серая шкала, 1 Лзготовле. нис таблиц осуществляется путем наложения узких полос белой или чсаной оумяги ня нейтральна серый клн)., лиао путем совмещения...

Аберрометр для измерения угловых сферических аберраций

Загрузка...

Номер патента: 88246

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Орлов

МПК: G01M 11/02

Метки: аберраций, аберрометр, угловых, сферических

...лучей, исходящих из участков на кочцах диаметра зоны исследуемой лцнзь 1, будут восприниматься при наблюдении через окуляры как стереоскопический параллакс, поэтому изображение миры, видимое через окуляры, покажется висящим в воздухе на известном расстоянии от наблюдателя.Оценить это расстояние, а следовательно, и угловые аоеррации, можно одним из методов, применявшихся в стереодальномерах, например методом шкалы в иоле зрения илц подвижной марки. Шкала или деления механизма подвижной марки градуцруются непосредственно в угловых аберрациях,Точность измерения определяется теоретической точностью стереоскопической методики и может быть доведена до 1 О угловых секунд, что превосходит точность, требующуюся при исследовании цростецшей...

Испытательные тесты для контроля микроскопов

Загрузка...

Номер патента: 91875

Опубликовано: 01.01.1951

Автор: Бурмистров

МПК: G02B 21/14, G01N 21/41, G01M 11/02 ...

Метки: тесты, микроскопов, испытательные

...хрома, коцдецсироваРРого и вакууме ш фоОГ 3)дфпЧСС 1(ИС Ц;ООРЯЖСЦИЯ 1 ССОВ Цс ХРОМ ИРОВЯПП 1 Х СЛ 05 Х Ко;1. гОИ,ОБ 13;Смол., рУГс слои ( воск и рдзлицыс Грмпт 11) цри цсОбхо,Тимох ллитсги цом травлении и осооенцо выцслачивди осгаот от с.кла, 3 1 остепеццым опускаисм Б кСлоту фазового клип;1 пс и)лу чаются 3 з-зд действия капиллярных сцл ца смдч 133 схост, сгеклд в х ких 1 ромсжугкх (е)к (у птр 1 хя 13. ) )р 3 с 3 елль,.,л 51 пог 31 р(13.13 ии фдзоОГО кли 133 т 11)к( цс Го )5 1 С 51 пз.зд пслосттоГН 01 их твеРДОСТ 1.11 Г) с л м с т п 3 0 б р с т с и и 511. И(п 1 т(;ццье (.с 1;л 5 коптрол 51и к Г)оско 0, ы пол псцв иыс и Би;с системы штрихов, цацсссццых ца прозра цуо основу и рясполо)ксцньх рупца.1 и 0 чсть 11)см ияправлениям к...

Прибор для количественного определения качества отражателя в светооптическом отношении

Загрузка...

Номер патента: 91877

Опубликовано: 01.01.1951

Автор: Новиков

МПК: G01M 11/02

Метки: количественного, светооптическом, отражателя, качества, отношении, прибор

...В осветителе устанавливается электрическая лампа моцгностьк 15 - 25 вт.М 9187Осветитель крепится шарнирно на оси, которая параллельна плоскости входного отверстия интегратора и располО)кена несколько Впереди и ниже этого отверстия. В ходе измерений осветитель устанавливается поочередно в двух положениях: В нижнем, когда его световой пучок освещает испытуемый отражатель (фиг. 1) и верхнем, когда световой пучок осветителя"Входит непосредственно в приемное отверстие интегратора (фиг, 2). Следует отметить, что световой пучок осветителя должеп представлять собой четко ограниченный конус световых лучей с углом при вершине 60, Это проверяется путем наблюдения светового пятна, даваемого осветителем на вертикальном экране. Дл 5 получения...

Интерференционная установка для проверки вогнутых параболических зеркал

Загрузка...

Номер патента: 97595

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Курицкий

МПК: G02B 5/30, G01B 11/30, G01M 11/02 ...

Метки: интерференционная, зеркал, параболических, проверки, вогнутых

...которого, отражаясь от проверюмой поверхности, параллельным пучком падают на объектив, в фокальной плоскости которого расположена полупрозрачная пластинка с точечным отверстием,Благодарзя гочечному отверстию ь полупрозрачном слое пластинкамивозннкаст когерентная сферическая волна.В случае общего или местного отклонения поверхности контролируемого зеркала от правильной параболической форьмы отраженныелучи проходят через пластиноку негомоцентрическим пучком, благодарячему когеоентная волна интерфергирует с осталцньэми лучами,Интерференнионная картина, соответствующая отклонениям отправильной геометрической фор 1 мы контро,.гиругмого параболическогозеркала, наблюдается либО непосед,",твенно, либо с номон 1 ью вспомогательной зрительной...

Прибор для контроля крышеобразных призм

Загрузка...

Номер патента: 99121

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Чунин

МПК: G01M 11/02, G01J 1/04

Метки: прибор, крышеобразных, призм

...и ее знака, в фокусе объектива коллиматора установлена щель переменной ширины, изображения которой через контролируемую призму рассматриваются в зрительную трубу с градуированной сеткой для определения веметом изооретения является для контроля крышсобразизм, состоящий из коллима- располохкен 1 лОЙ под п 1 эямым ( нему зрительной трубы.лага емый прибор одповрес контролем призм на двосозволяет определять велич - ак ошибки угла крыши призНа фиг. 1 изображена схема прибора; иа фиг. 2 - разрез по ЛА иа 1 лиг. 1. Прибор состоит из коллиматора 1, в фокусе объектива которого имеется щель 2. Щель регулируется микрометрическим винтом 3, позволяющим изменять величину щели в зависимости от допуска на угол крыши призмы, и освещается осветителем 4...

Устройство для регистрации аберраций оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 100631

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Линник

МПК: G01M 11/02

Метки: аберраций, оптических, систем, регистрации

...зависеть от этой аоеррации,Если па осциллограф, развертка которого синхронизирована с дви,жением отверстия 5 на зрачке системы, подавать ток от фотоэлемента 2,запись осциллографа будет представлять собой кривую поперечной сферической аберрации системы в зависимости от высоты входа луча в зра.чок силемь.Если применить катодный осциллоскоп и осуществить периодическиповторяющееся движение отверстия по зрачку, например. при помощивращающегося оотюратора, синхронизированное с разверткой осциллоскопа, то нз его экране можно получить постоянно Видимуео кривуОаоерраций.Так как продольная сферическая аберрация 1 связана с поперечной(аберрацией соотношением /=:, где / - фокусное расстояние систеА /мы, а / - Вьсота входа луча над осью, можно...

Способ измерения световых характеристик фотоэлектронных приборов

Загрузка...

Номер патента: 102753

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Храбан

МПК: G01M 11/02, G01J 1/26

Метки: световых, приборов, фотоэлектронных, характеристик

...1 ЭП, гок и пени которого измеряется приборос 1. Н.личина свстс)вого потока сз)сгиотсс в иео)ходимых иргхглзх переменсии и гс рого клииз С 1, 1 игло иоложеций клипа об)у лацливси сз я и оо.и.сип,) количеством точек, для по троспия исследуемо)с хоритерцтики. При к);до)с по.ИИКсцсц СС 1 Н)ГО Кдцна Ио Ирнюру 1;Г- лзстгя два отсчета - один ири светогюм потоке, Оглаолгнном введеппсм всиомога- тел пи ОГО 1 а ь 1)а Ф, дру 1 кцс при по" токе осз в десс)с, 1)иль р. Ув лик,псе светового потока при отсутствии вспомогательного Фильтра сопровождают соотвстствснным уменыпенпем чувствтелысостсс ирпбо)а 1, дл 5 чего к:ячаи 1 ъ вклочз)от ,шуцт П(.(.оглзсно второму варианту, схема измерений остаиется прежней, однако, кратные световые потоки получают...

Прибор для контроля центрировки линз

Загрузка...

Номер патента: 115930

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Горбунков

МПК: G01M 11/02

Метки: центрировки, линз, прибор

...оптическая схема прибора, Источник света 1 конденсором 2 проецируется через отверстие зеркала 3, на контролируемую систему линз 4, поверхности которых создают его изображения 5, и 5 з вдоль оптической оси,Точки 5 5 и др расположенные на различных расстояниях друг от ДРъгсч Рассм 11 ТРива 10 тсЯ ПРи пом 01 цн зеР 11 ла 3, ста 1 ловленного под Уг лом к оптической оси и микроскопа, перед объективом которого установлена коническая линза 5, Коническая линза сводит в предметную плоскость объектива микроскопа изображения точек 5 5 и др., полученных ранее при отражении от поверхностей исследуемой оптической системы. При совпадет 11 лн о.11 п 1 еспх о:ей 1:сех линз исследуемой системы эти изображения накладываются друг на друга, а при...

Способ определения разрешающей силы оптических систем, например фотографических объективов

Загрузка...

Номер патента: 120663

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Матвеев

МПК: G01M 11/02

Метки: силы, оптических, фотографических, разрешающей, систем, объективов, например

...проходит через матовсменные миры 3 для проверки разрешающей силы по цеиспытуемого объектива, смонтированные на щите 4, и чмый объектив б. В плоскости изображения миры находитспесенный на стекле и представляющий особую точную кония миры с тем же шагом и той же толщиной штриха. Расв колебательное движение в своей плоскости по стрелкеной частотой. Фотоумножитель 7 регистрирует световой пфотоумножителя, пройдя через усилитель 8, подается на она экране которого наблюдается кривая модуляции тока.Если объектив разрешает примененную миру, то прирастра создается модуляция светового потока, если же нето модуляции не будет. птических объектив я ются дл разрешаю- производия осуще ое стекло 2 и итру и краям ерез испытуея растр б, напию изображетр...

Способ контроля вершинной рефракции неастигматических очковых линз и прибор для осуществления этого способа

Загрузка...

Номер патента: 122628

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Коломийцев, Инюшин, Фролов

МПК: G01M 11/02

Метки: рефракции, прибор, неастигматических, способа, вершинной, линз, очковых, этого

...к кресту диафрагмы И, так, как это показано на фиг. 2 а. При этом на фотоэлемент свет не попадает. При вращении диска с линзами иэображение креста диафрагмы 5 перемещается В направлении стрелки и в некоторый момент времени достигает положения, показанного на фиг. 26. При этом на фотоэлемент 15 попадает свотовой поток от горизонтальной линии креста диафрагмы 5, Если отклонение дноприйности линзы 8 лежит в пределах допуска, то этот поток гроко. дит через горизонтальную щель креста диафрагмы И почти полностью и усиленный усилителем фототок заставляет сработать первое реле, которое выключает вращение диска с линзами и включает радиальное перемещение диска. Это перемещение вызывает смещение изображения креста диафрагмыв направлении,...

Способ изготовления штриховых мир с помощью электронно оптической системы

Загрузка...

Номер патента: 124677

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Новиков, Семенов

МПК: G03C 5/00, G01M 11/02, H01J 31/50 ...

Метки: помощью, электронно, оптической, мир, штриховых, системы

...разрешающей способностью от 3 дс 200,11 и,л.11. Изготовить миры с более вьсокой рязрешя 0 цей способ;о. стью с помощью обычной оптики це представляется возможным цз-за о". - раниченцц вследствие аберрации спгпссксй с стемы, с помошыс ксгсРой Изгставливастс 5:511 РЫ,Описываемый способ цсзвсл 5 ст получить разрешающую способность до 300 - 350 ан 1111 и визуально 550 - 600,шн,11,1)1, для чего электронное изссрахкеппе стагд 2 ртцсй ъ 1 рь 1, полученноепсмсцью термс- пли фотоэмцссци, проектрук:Мсцокр;стяллпческий экра и строго фокусируют, после чего экран убирают и ня это место ставят фстспластинкм. Фсксирсвка электронноо пзосражени 5 на экран Осущес и вляется изменением общего питаОщсгс цпряхксция и потенциала сре,- :его электрода...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 146529

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Пуряев, Шапочкин

МПК: G01M 11/02, G01B 9/02

Метки: интерферометр

...поверхность б.Параллельный пучок лучей 7, попадая на полупрозрачную пластину, разделяется на два параллельных пучка 8 и 9, один из которых, попав на зеркало 4, отражается от него и идет в обратном направлении. Другой пучок попадает на объектив 5 и после его прохождения в зависимости от формы контролируемой поверхности принимает форму сходящегося или расходящегося пучка. Контролируемая поверхность б устанавливается так, чтобы один из ее фокусов г, совпадал с задним фокусом Р, объектива, а другой фокус Рз - с центром кривизны О последней полупрозрачной сферической поверхности. После отражения от гиперболической или эллиптической поверхности лучи света идут нормально к полупрозрачной сферической поверхности объектива 5 и, от146529нв...