G01J 3/02 — элементы конструкций

Прибор для сравнения сыпучих тел по их цвету

Загрузка...

Номер патента: 17799

Опубликовано: 30.09.1930

Автор: Самейт

МПК: G01J 1/02, G01J 3/46, G01J 3/02 ...

Метки: сравнения, сыпучих, цвету, прибор, тел

...1 и 2) на клетки 4, соприкасающиеся со сличительной клеткой 5. С наружной стороны клетки 4 и сличительные клетки 5 прнкрь 1 ты бесцветными прозрачными стеклами 12, вставленными,в. рамку .2.Края стекол 12 и рамки 2 прикрыты створчатой рамкой 6, одна сторона,которой;прикреплена, к рамке 2 петлями 7; а остальные стороны - зацепками (крюч ками) 8. Створчатая рамка 6 снабжена задвижками 9, Сличительные клетки 5 имеют выходные отверстия 10, через боковые стенки ящика, Отверстия 10 прикрыты снаружи заслонками 11.ЪПри пользовании прибором клетки 4 наполняются стандартными,. образцамиФ. Ж.,соответствующих видов сыйучих например сухих тертых красок, чего прикрываются стеклами 12 и с чатой рамкой 6, Подлежащий сли сыпучий материал засыпается чере...

Устройство для разборки шкурок по тонам их окраски

Загрузка...

Номер патента: 29620

Опубликовано: 31.03.1933

Автор: Платунов

МПК: G01J 3/02, G01J 3/51, G01J 1/02 ...

Метки: окраски, разборки, шкурок, тонам

...которого снабжена клиновидной щелью 11 (фиг. 4).Выделанные шкурки 18 (фиг, 1) укладываются вручную на определенных расстояниях друг от друга на полотно транспортера 1, которое может быть снабжено соответствующими отметками (прорезами). При периодическом перемещении полотна (перемещение на расстояние между двумя отметками может длиться, например, одну секунду, а стояние - две секунды) шкурки последовательно устанавливаются под нижним отверстием рефлектора 2. Свет, отраженный от испытываемой шкурки, падает через линзу 4 и диафрагмы на, фотоэлемент б; в то же время свет, отраженный от эталонной пластинки 7, падает соответственно на фотоэлемент 8,Фотоэлементы 6 и 8 включены навстречу друг другу, при чем уравнива тировкд шкурок...

Устройство для разборки шкурок мелких зверьков по тонам их окраски

Загрузка...

Номер патента: 29621

Опубликовано: 31.03.1933

Автор: Платунов

МПК: G01J 3/02, G01J 3/51, G01J 1/02 ...

Метки: окраски, зверьков, тонам, шкурок, мелких, разборки

...1 и 2) состоит из полуцилиндрического колпака-осветителя 7,в верхней части которого, на разных интервалах, расположены лампы 2 с акранами 3, обеспечивающими получение рассеянного света.В передней стенке колпака проделаны окна 4, прикрытые светофильтрами. Под колпаком 7 установлен конвейер 6 для настилки испытуемых шкурок 5, а параллельно конвейеру расположены наклон" ные полки 7 для образцовых шкурок 8верхнюю часть полотна конвейера б, вследствие чего для удерживания шкурок применены доски 9, накладываемые на головные части шкурок.Часть конвейера б выступает за пределы колпака 7 для удобства настилки шкурок и их предварительной браковки(фиг. 1). Под полотном конвейера установлены наклонные жолоба 70, по которым рассортироваиные...

Прибор для бинокулярного смешения цветов

Загрузка...

Номер патента: 41716

Опубликовано: 28.02.1935

Автор: Компанейский

МПК: G01J 3/02, G01J 3/46

Метки: бинокулярного, смешения, цветов, прибор

...обоими экранами перед призмами 7 и 8 на равном от обоих экрандв расстоянии перед стереоскопом помещен выдвижной стержень 3 с четырьмя укрепленными одча над другой призмами 14, 15, 16, 17 полного внутреннего отражения, расположенными таким образом, что грань между первой 14 и второй 15 призмами сверху находитсяна уровне осей двигателей. Стержень 13 выдвигается вверх настолько, чтобы при его выдвижении на уровне осей двигателей оказалась грань между третьей 16 и четвертой 17 призмою сверху. Призмы расположены так, чтобы правый глаз видел через. стереоскоп и через первую 14 или третью 16 призмы правый экран, а левый глаз видел через вторую 15 или четвертую 17 призму - левый экран.Со стороны, противоположной стороне, на которой...

Прибор для бинокулярного смешения цветов

Загрузка...

Номер патента: 41717

Опубликовано: 28.02.1935

Автор: Компанейский

МПК: G01J 3/02, G01J 3/50

Метки: цветов, прибор, смешения, бинокулярного

...18 и 19 включаются лампочки, имеющие только один какой-либо светофильтр. Реостаты 22, 23 включены паралле ьно, причем провода, идущие от обоих реостатов, соединяются в один 25, Один из полюсов лампочек без светофильтров включается в провод 26. Провод 25 соединяется с реостатом 27, в провод 26 - с реостатом 28; оба реостата имеют общую ручку 29, изменяющую сопротивление, аналогично тому, как изменяется сопротивление от движения ручки 24 реостатов 22 и 23. Реостаты 27 и 28 включены параллельно, причем провода, идущие от обоих реостатов, соединяются в один общий провод 30, проходящий через источник тока 31 и далее присоединяющийся к проводу 32, который соединяет все вторые полюса каждой из лампочек. Указанные выше соединения:.делаются...

Установка для сортировки легированных сталей методом спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 42715

Опубликовано: 30.04.1935

Авторы: Ландсберг, Тулянкин, Мандельштам, Цейден

МПК: G01J 3/14, G01J 3/02

Метки: сталей, сортировки, методом, спектрального, анализа, легированных

...бы затруднить плавное перемещение их по шинам р, К салазкам прикреплен защитный экран 5; предохраняющий аппарат от попадания в него пыли при крайних положениях салазок с окуляром. Для полной защиты аппарата от пыли головка снабжена еще крышками 8 ии, На крышке головки укреплена пластинка,.иа которой выгравированы риски и химические символы элементов Сг, Ч, Мп, Со, М, Ф, Мо, а окуляр снабжен указателем ю. При совпадении указателя с риской какого-,либо элемента. в ,поле зрения окуляра видны наиболее характерные линии данного элемента. Число химических элементов, подлежащих определению ври помощи этого прибора, может бытьв случае надобности расширено.Конструкция . конденсора (фиг 4) обеспечйвает быстрое иплавное .перемещение...

Объектив спектрографа

Загрузка...

Номер патента: 61495

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Кириллов

МПК: G02B 13/14, G01J 3/02

Метки: спектрографа, объектив

...автоколлимационном спектроИз теории оптических инструментов известно, что исправления кривизны поля можно достигнуть двумя путями: выбором материалов, из которых изготовляется объектив, и конструкцией объектива.Кривизна зависит от вторичного спектра, который обусловливается дисперсией входящих в систему материалов. Выбором конструкции объектива можно получить реально наименьшую кривизну, которая получается от применения того или иного материала.Применение фтористого лития может дать наименьшую кривизну благодаря тому, что он из всех известных материалов обладает наименьшей дисперсией для ультрафиолетовой области спектра,Наклон плоскости спектра к оптической оси камеры зависит (при одной и той же системе призм) исключительно от дисперсии...

Призма для спектральных приборов

Загрузка...

Номер патента: 74633

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Шугар

МПК: G02B 5/04, G01J 3/02

Метки: спектральных, приборов, призма

...позволяющей повысить ее разрешающую способность.Призма (фиг. 1) имеет форму прямоугольной трапеции и изготовляется из флинтгласса, Ее можно представить состоящей из призмы: АВС с преломляющим углом АВС, равным 45, призмы ВСО полного внутреннего отражения и призмы М)Е с преломляющим углом ВАЕ, равным 45.Чтобы уменьшить отражение лучей, падающих на грань АВ и сделать пучок более широким, приклеивается кронглассовая призма АМВ, а для того, чтобы лучи, отраженные от грани В 1), не отражались тактике и от грани АЕ, к грани АЕ приклеивается кронглассовая призма ЕНР. Благодаря большому преломляющему углу дисперсия призмы ЕИР должна быть почти вдвое больше, чем у призмы АВВЕ.Если призму АВОЕ удлинить вдвое (см. фиг. 2), то лучи испытают...

Цветной денситометр для определения цветных плотностей

Загрузка...

Номер патента: 79977

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Смирнов

МПК: G01J 3/51, G01J 1/06, G01J 3/02 ...

Метки: денситометр, цветной, цветных, плотностей

...его уставаюгтаот объект.Псею нзмерс 1 ттюгем ююрнбор юстпэуз ююо чдс"гм, дсбп юась юю, н с тца фотометрнческнх солей от светя, юнчюосредстценно оадитого ц кусик 2 и от с цетя .сучей 4 и 5. Дая эюгого урциицдют ююолс луча 4 с ююо"юзм кубика 2, закрынрдое входное откэсюююс сферы 3, и затем уэацютиянт ююсле луча 5, нре;Нюярптельтто зякэь;юю лею:ое ходпос отс рстие. Дл устрднеии ююотерь света чсрсз протицолеждпсие цходпыс отверстия последние расююолагднгюч и сфере 3 нод уюгюом друю к другу. При измерених тетюости луч с, ююротиедпптй через югрпборньн фильтры 7, является доююолнюттегттптюз и цвету исследусмого сктоого луча 4 (;юо белого). Измеренс пцетпости зяключаетс юю тсот, что регулироююю;ою заслонок с 1 ют 1 ьтэоюю 7 добпююднтст...

Фотоэлектрический колориметр

Загрузка...

Номер патента: 84069

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Куликов, Стрелков

МПК: G01J 3/46, G01J 3/02

Метки: фотоэлектрический, колориметр

...цзооражсцьЙ ц 2 фиг. 4, цсскогько Отличдтся От кОвстодсрждтсля, и 300 ра)ксццОГО ц;1 фцГ. 1, тс.1, то в лсВОЙ сГО 12 ст 1 имсстся паз 7 для свстофильтра.К 10 Вст 2 для мисроаналиЗОВ 1 фиг. 6) ц)сст СКВ 031.Ос цродольцос 0 еВсрстис для прохо)кдения свстовй 0 луча и ряд всртикалы 1 ьх ОтесрстЙ. В которые ВстаВлЯютс 51 прооики (фиГ. 7) с исслсдсмым )створом. ПОООИ 1)ка В кюВстс фикс 1 рустся 1) тсм цадВИГдция имс 01 цсГдся В сс кольце 8 выреза 9 ца штифт-фиксатор 10; эти штифты 10 установлсцы у кд)(дОГО ИЗ Вертикальных ОтвсрстиЙ 1(1 ОВсты.К 10 встд-сосуд для рсфрдктоъстрцчсского 2 П 2 л 33 111)1 Г. ь), выполнсцная из стекла и заполцясмая исслсдусмым раствором, сцабжсцд расДо 8.ЯОС 1 ПОЛОКЕННЫК Иа ПУТИ СЕСТОВОГО У 12 ЗИГЗ 2...

Держатель электрода прибора для спектрально микроанализа материалов

Загрузка...

Номер патента: 84536

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Беркович, Хрущев

МПК: G01J 3/02, G01J 3/28

Метки: прибора, электрода, держатель, микроанализа, спектрально

...5 постоянного состава.Образец, подлежащий испытанию, кладут иа предэ)етитяй Столик 1, которьш предварительно поворачивают в крайнее положение до упора. Рассматривая поверхность шлифа образца 6 в мшроскои и иерсдвитая столик при помощи двух винтов координатной подачи, находят место пробы и совмещают его с перекрестием нитей, Затем иа шлиф накладывают тонкую пластинку 7 изолирующего вещества (сго;(а) с отверстием 10 - 15 мк так, чтобы центр отверстия совпадал с, перекрестием, и н этом положении пластинку 7 посредством Объет(тоде 1)кате)Тя 8 фикс 11)у)от иа шлифе. Затем столик поворачивают до упора так, что с вь)бранной точкой иа шлифе будет совмещена ось электрода 5. Таким образом, искра оказывается строго направленной иа выбранцьш...

Призма для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 88487

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Гаргер

МПК: G02B 5/04, G01J 3/02

Метки: спектрального, призма, анализа

...а(ализа.Ди(Ьракциоицая решетка 1 (илц ес копия) усталиматорцой линзой 2 перпецдикулярцо оптцческВплотную или ца небольшом расстояциц от решетк 1бедренная призма .3.Пучок лучей, идущих от источицка света 4,еле прохокдеция через решетку рассеивается и п 1под цекоторым углом,.н(окио так подобрать постояцну 10 решетки, прсломляющий уго 1призмы и показатель преломлсция стекла, чтобы удовлетворить условиюядимсцьшсго Отклоцсцц 51 кслтых лучсй.Например, для 60 кроцгласовой призмы рси 1 еткя должца иметь7Л. И 811 С 17 Призма зе 1 ачнтельно уВелнпвает расхождение луче 1, создаВаемое решеткой. Если длину спектра только от призмы обозначить через (1, Отдельно От решеткР 1 - а, е От призмы х решетки 1 В том уке нОр 51 дке) -- а, то получится...

Штатив к спектрографу для анализа порошкообразных веществ

Загрузка...

Номер патента: 102392

Опубликовано: 01.01.1956

Авторы: Решетников, Лобанов

МПК: G01J 3/02

Метки: порошкообразных, анализа, штатив, веществ, спектрографу

...т 3 орСии 111(л 33 в к сикг 333 ра(1 у;лн анализа 1 р(3. 3;333313 ивк И( стВ. о т л и и а о и Й ( н т(а. чтк с 1 ель 1 о ПОВывсния к,(чес(3 и )до.(ства рацоты, нижний ектрд. Нрепазначеииыи;ьи иомепе - ; и а 3 ч порошкеорзны:. (еиеств. сы ио,и Ои в 3(и;с;ис 331, Н 1(пв(ь 311(г( ВО 3(13131(313з;3 Ши 1 и (33 н(ть 3,Ни;кн и 5(,ект 133.3 н(тат 3 Ва, 3133 к(т Из( и(3 кругкности 1 ас(1 И 3 гализируемого вещества. вь еи 13 33 де диска ) иг. т(и и(3. И 13131 киви Г 13 33; 3 И(1 ТС и аи;и ( о 1 ен изОитируитатива Нзоосто 33(5 я.1 ястся штат(в к снсктрографу., пре,изиачен(ь 1;1,53 3(иал 33 путем с;3;иг(пя в пламени д 1 п Ирой и( - рошкоооразиык веществ, рассьшаинык топк 3 ".и 1 Иа иоьчи(и( м ни;пм . л 3; - 3 ООДС.Про,;31(асзй 133(л(т 333 33,1 3;(е...

Штатив к микроинтерферометрам и подобным им приборам

Загрузка...

Номер патента: 102667

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Левин

МПК: G01B 9/02, G01J 3/02

Метки: штатив, подобным, микроинтерферометрам, приборам

...1)срометр) (1) в непосредственной близости от оптической оси об ьектггва имеет пяту Г 2), которая может быть выполнена в виде сФеры, цилиндра, тора и т. д.Опорная поверкность пяты ирполизптельно совпадает г гглв готьго наилу пней паводки микроскопа или микроинтсрферометра. Благодаря этому в ряде случаев ири контакте пяты с испытуемой поверкностью автоматически обеспечивается наводка п в поле зрения появляются интереренционные полосы. Держатель (3) прибо 1)а (или сам прибор) выполняется в в)где достаточно длинной штанги, связанной с основанием штатива пружинным шарниром ),4). Црп перемещении держателя (3), например, с помощьго крсмальсры, или при перемещении столика (5) возникает контакт опорной пяты (2) с поверкностьго...

Устройство для ослабления яркости света

Загрузка...

Номер патента: 107411

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Бортников

МПК: G01J 3/02, G02B 19/00

Метки: яркости, ослабления, света

...4, диафрагма - 6 ,римежу точного изображения источника, диафрагма щслп - 6 и щель спектографа - 7.В системс трсхлипзового коиденсоря ряспОлягаотся две системы логарифмической объемной диафрагмы.Первая из них находится между первой и второй линзами конденсора в составе логарифмической объемной диафрпмы Я и вспомогательных диафрагм обычного типа с прямоуголь. ными отверстиями 9 и 6.Вторая система расположена между второй и третьей линзами кондснсоря и составе логарифмической объемной диафрагмы 10 и вспомогательных диафрагм обычного типа с прямоугольными отверстиями 11 и 12.Действие системы трехлинзового КОНДСНСОРЯ СОСТОИТ В ТОМ, ЧТО ЛИНЗЯ 2 проецирует увеличенное изображение источника светя 1 на плоскость линзы 3, а линза 3 проецирует...

Приспособление к спектроскопу для визуальной спектрометрии окрашенных растворов

Загрузка...

Номер патента: 112400

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Покровский

МПК: G01J 3/46, G01J 3/02

Метки: визуальной, спектрометрии, окрашенных, спектроскопу, растворов

...1., и. ;303 ВС;):Птс(1)13 Г. 1 ).ж 5 я кгп 1 О:;25 косст ),с этз;1 ОцИЫ); ЯС ГВС)ОЗ ".СЯ:3 ЛИВЯСТСЯ П 1)ОТИ:3 ПИ:КИСГ 07 С 3 П:Ь, СВС, ОБОИ ИС. ЛИ С.СК(Росно 32 . 3 ЬПО(Сиа С)с,Яс)10 П 13Опи,)0 тсг.ьц 031 Яп 1)ЯЯГСЦИИ, посредством зуб.атои переда и цс показана ца чсргсже . Вс)хняя кс Ло 112400вета 2 с плоскопараллельными стенками, заполняемая исследуемым раствором, закрепляется неподвижно по"редством зажимов в вертикальном положении против верхней половины световой щели спектроскопа. К нижней части клиновидной кюветы прикреплена миллиметровая шкала 3, посредством которой определяется положение кюветы относительно световой щели спектроскопа.Во втором варианте (фиг, 2) обе кюветы имеют одинаковую длину, причем клиновидную кювету...

Теневой прибор для одновременной регистрации двух теневых картин

Загрузка...

Номер патента: 119698

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Ефимов, Губель

МПК: G02B 27/14, G01J 3/02

Метки: теневой, регистрации, одновременной, двух, теневых, картин, прибор

...фокальной плоскости приемной части установлены два взаимно перпендикулярных ножа 7 и 8, каждый из которых имеет самостоятельный механизм поворота и передвижения. Лезвия этих ножей устанавливаются параллельно относительно изображений двух щелей. Изображения щели, перпендикулярные лезвию ножа, погашаются при помощи поляризующих устройств, состоящих из призм Рошона 9 в коллиматоре и поляроидов 10 в приемной части, Оба световых потока проходят одни и те же точки и сечения просматриваемого поля, что обеспечивается применением в оптической системе прибора элементов 11 типа призмы-куб, имеющих светоделительный слой. Эти элементы сводят оба пучка света в один. В оптической системе имеются, кроме того, конденсаторы, откидные зеркала и две...

Способ спектрального определения микроэлементов

Загрузка...

Номер патента: 126291

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Гвирцман

МПК: G01N 33/50, G01J 3/02

Метки: спектрального, микроэлементов

...фигурной фрезы. Он помещается между угольными электродами 3 и 4.Тигель-электрод 1 имеет емкость до 0,2,я.г с тем, чтобы все манипуляции с биосредами (высушивание, озоление, ооработка кислотами) могли производиться в том же тигле, в котором потом навеска сжигается в вольтовой дуге.Для снижения теплоотдачи сжигаемой навески окружаметам угольный тигель-электрод 1, заполненный биосредамливается на очень тонком графитовом стержне, защищенрого сгорания углублением на нижнем угольном электродеруется между электродами 3 и 4 с помощью тонких термизолирующих алундовых трубок Б.Укрепленный между угольными электродами угольный тигель-электрод 1 равномерно прогревается и испарение в нем микроэлементов биосред происходит за несколько секунд. При этом...

Прибор для спектрального анализа света, отраженного от рудных минералов, углей и т. п. объектов

Загрузка...

Номер патента: 134048

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Лукин, Пономарева, Марьенко, Ионин

МПК: G01J 3/02

Метки: рудных, отраженного, прибор, анализа, объектов, света, минералов, углей, спектрального

...рамка со щелями требуемых размеров.Основные детали конструкции прибора показаны на чертеже. Здесь.1 - осветительное устройство; 2 - нижняя часть полярцзационного микроскопа; 3 - подвикный столик; 4 - Г-образный тубус; 5 - откидной окуляр; 6 -- дцспергирующая система и 7 - фотоумножитель.Нияя ас 2 поляризационного микроскопа заканчивается диафрагмой (не показано на чертеже) и откидным окуляром 5, установленным перед щелью дцспсргирующей системы 6, что 1 юзволяет вести п." риодцческий визуальныи контроль поступающего в дцспсргцрующую систему света, За диспсргируюшей системой 6 перед фотоумножителем 7 в приборе установлена подвижная окулярная рамка (не показана ця чертеже) с передвигаемой в ней пластинкой со щелями требуемых...

Способ отбора проб расплава для спектрального анализа и их транспортировка к спектроскопу

Загрузка...

Номер патента: 135648

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Якоби

МПК: G01N 1/10, G01J 3/02

Метки: отбора, проб, спектрального, анализа, расплава, транспортировка, спектроскопу

...перематывается с катушки 2 ца катушку 3, проходя прц этом через ролики 4, 5 и б. Ролик 5 фиксирует положение проволоки 1 над поверхностью расплавленного металла 7, Генератор 8 служит для электроискрового отбора пробы расплавленного металла на проволоку 1. Напряжение от генератора 9, который служит для возбужденцч спектра, подается ца проволоку 1 и контрэлектрод 10, находящийся ца оптической осп спектрографа 11.При производстве анализа на проволоку 1, проходящую над расплавом, электроискровым способом переносится проба металла. Отобранная ца проволоку проба металла транспортируется к спектрографу 11, где с помощью генератора 9 возбуждается дуга между коцтрэлектродом 10 и проволокой 1 и производится спектральный анализ пробы.При...

Аппарат для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 146075

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Русанов

МПК: G01J 3/02

Метки: анализа, спектрального, аппарат

...над дугой трубки или производится обдув дуги снизу широкой струей воздуха.Воздух в камеру подается вентилятором, установленным в ящике. Давление воздуха в камере, не превышающее 7 мм вод. ст., автоматически поддерживается, независимо от количества поступающего в камеру воздуха, с помощью гидравлического затвора 7. Последний соединяется с камерой трубкой 8.Верхняя крышка и одна из соединенных с ней стенок камеры откидываются на шарнире вместе с укрепленной на крышке трубкой 5. Это обеспечивает возможность быстрой смены дисков в камере и очистки трубки э, через которую осуществляется вынос порошка в пламя. В трубке почти не остается порошка, и при анализе веществ очистка трубки обычно не производится,Насыпание порошка на диски...

162339

Загрузка...

Номер патента: 162339

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01J 3/02, G01J 3/18

Метки: 162339

...щели в исходном и конечном положении последней на фокяльно круге 7, так как длина рычага 11 постоянна и равна расстояниюОсяи 8 и 17, Следоватслыо, во всех полокен 5 х;1 яфрягмы 4 с щелью 5 на фокяльном круге канал щели д всегдя Оудет направлен на неподвижный полюс дифракционной решетки 3. 1-1 а чертеже показано двя положе пя рычага 9, отличающиеся на угол а,При использовании сменных дифракционрсшеток, пмеОщих ряз;Иные ряд 5 усы кривизны, в описанное устройство не вносится каких-либо конструктивных изменений, так как рычаг 11 может свободно перемещаться по плоскости гайки 14.Для уменьшения трения в точке соприкосновения рычагов 11 и 12 опорный палец 19 может быть заменен роликовой опорой.Предмет изобретенияУстройство для непрерывной...

Электрострикционное устройство для юстировки, перемещения и крепления пластин фабри-перо

Загрузка...

Номер патента: 195657

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Германска, Иностранец

МПК: G01J 3/26, G01J 3/02

Метки: крепления, фабри-перо, перемещения, юстировки, электрострикционное, пластин

...поверхность перемычек нанесен проводящий слой 15, Участки покрытия на наружных поверхностях перемычек изолированы друг От друга.К электропроводящсму слою 15 перемычек подается напряжение, Регулируя напряжение на каждой перемычке, можно изменить угол клина между пластинами 12, 13, про изводя гаким образом юстировку прибора.Прилагая одинаковое напряжение ко всем трем участкам электропроводящего покрытия перемычек можно плавно менять расстояние мехкду пластинами при сохранении угла клина,На опоре 1 б (см, фиг. 2) находятся перемещаемые по направляющей 17 салазки 18, к которым прикреплены две параллельные Опоры 19, 20 с вырезами 21, 22, расположенные под поямым углом к направлсни 0 пеоемещения.Цилиндр 23 находится между опорами. Один конец...

Штатив для спектрального анализатора

Загрузка...

Номер патента: 198033

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Машиностроени, Волгоградский

МПК: G01D 11/30, G01D 11/02, G01J 3/02 ...

Метки: штатив, спектрального, анализатора

...разлп шой орпепта страпстве, держате выполнен в виде п сажспного на Втул стенке кожуха шта штейна совмещена затора,ктрал и д25 овор ку, у тпва с о Известные штативы для спектрального анализа веществ содержат держатели электродов внутри радиопомехозащитпого корпуса с выведенными наружу корпуса рукоятками механизма перемещения анализируемого электрода. Однако вертикальное расположение электродов и отсутствие смепнтях приспособлений ограничиваюг спектральпо-аналитические возможности штатива,Описываемый штатив позволяет использовать все известные способы расположения противоэлектрода в пространстве и, кроме того, анализировать образцы разнообразных форм и в различпвтх агрегатных состояниях.На чертеже изображен описываемый штатив.Он...

Вакуумный спектрограф

Загрузка...

Номер патента: 204624

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Фридман, Старцев, Тверь

МПК: G01J 3/02

Метки: вакуумный, спектрограф

...притвие в т монт ить нанавливо упрощ Предложенный вакуумный спектрограф отличается от известных тем, что в нем установлена наружная вакуумная камера, снабженная механизмом транспортировки кассеты из камеры в кассетную часть спектрографа и обратно, отделенная от спектрографа вакуумным затвором, а в кассетную часть введено автоматическое устройство для приема и закрепления кассеты.Вследствие этого упрощается кинематичеь прибора путем изъятия вакуумных , что приводит к увеличению его точбора. Создаются удобства при установке и смене кассеты, так как эти операции производятся в отдельной наружной камере, имеющей открытый доступ к месту установки кассеты.5 На чертеже изображено описываемое устройство.Оно содержит корпус вакуумного...

257795

Загрузка...

Номер патента: 257795

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Моралев, Куриленко, Тимохин

МПК: G01S 3/78, G01J 3/02

Метки: 257795

Устройство для поворота дифракционных решеток

Загрузка...

Номер патента: 238822

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Барска

МПК: G01J 3/02

Метки: поворота, решеток, дифракционных

...1 полнить с переменным радиусом (например, вдоль оси) и снабдить устройством, позВОля 01 цпм вводить В сопри 1 юсновсн 51 с с р 1- 0 чагом ту илп иную его часть, чтобы получитьвозможность легко изменять радиус и, слсдо- ВЯТСЛЬНО, ПОДДСРЖИВЯТЬ НСИЗМСНН 1 М ИЛП МСП 5 гь по своему усмотрс.Пю масштаб спектр.11 Сртсжс прсдсгязлснл кинс)ят 111 ескя 51 5 се)1 првдложснного устройства.11 оси 1 поворотюг столика ) н;1 когоромзячрсплень дпфракцпонныс решетки Л, поса)ксн рычаг 4, соединяемый со столиком фикс- .ром ). Опсряя позер.,ность рычага лежит 30 в его радиальной плоскости и взаимодейстет с поверностью вращения толкгеля б.238822 Предмет изобретения Составитель И, Небосклонова иктор Б. Б. Федотов Техред Л. Я. Левина 1(орректор Н, И....

Способ юстировки спектральных приборов скользящего падения

Загрузка...

Номер патента: 243213

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Ефремов, Лукашева, Васильев

МПК: G02B 27/14, G01J 3/02

Метки: приборов, скользящего, юстировки, спектральных, падения

...фиг. 1 показан первый эта на фиг. 2 - второй,Неподвижную щель 1 снимают щель 2 освещают каким-либо 20 Измерив расстояния 1 от центр до этой щели и 1, до ее наиболее кального изображения 2 т, добив ства этих расстояний во всем д ремещений щели. Практически сделать измерения по краям диа но-два в середине, чтобы с помо оптических и геометрических фо лить взаимное расположение и радиусов инструментального кру 30 ности двойных фокусных расстоГлавная погрешность измерения расстояния до изображения связана с аберрациями сферической поверхности решетки, особенно при малых углах скольжения (2), поэтому должна быть подобрана оптимальная ширина освещения решетки. Однако, сам метод измерения расстояния до наиболее четкого изображения и выведения...

265489

Загрузка...

Номер патента: 265489

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Есилевский

МПК: G01J 3/02

Метки: 265489

...к излучка изий луч сравнелизи ее д прохождеяется высоаница мекми, опредевсе время даря чему темы не меВ предложенной осветительной системе к горелке перпендикулярно ее торцу рядом с отверстиями для выхода газа (в 2 - З,дгдг) прикреплена тонкая пластина из непрозрачного материала, стойкого при температуре пламени, Пластина делит поток излучения на рабочий луч, проходящий через пламя, и сравнительный луч, гроходящий мимо пламени. Это позволяет уменьшить потери излучения прп изменении уровня установки горелки, а также упростить конструкцию системы.На чертеже ддзобракена схема осветительной системы.Излучение от источника 1 света с помощью линзы 2 пропускается пучком, приближающимся к параллельному, через пламя горелки 3. Пластинкой 4...

Интерференционный фильтр

Загрузка...

Номер патента: 266265

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Гисин, Валидов

МПК: G01J 1/22, G01J 3/02

Метки: фильтр, интерференционный

...из пары: германий - фтористый стронций.Это позволяет повысить устойчивость фильтров к климатическим и механическим факторам, а также расширить область их прозрач ности до 25 мкм.Изготовление фильтров осуществляется на вакуумной установке, обеспечивающей контроль за толщинами слоев и нагрев подложек в процессе испарения. Германий (монокри сталл) испаряется из графитовых тиглей, а фтористый стронций - из вольфрамовых лодочек. Давление в процессе испарения не должно превышать 5 10 "мм рт. ст. Подложки перед испарением нагреваются до темпе ратуры 270 - 300 С, В процессе нанесения слоев их температура должна поддерживаться в интервале 270 - 320 С. Необходимо обеспечить равномерный нагрев подложек и образца, по которому ведется контроль...