Патенты с меткой «ядерно-физических»

Способ подготовки пробы для ядерно-физических методов анализа

Загрузка...

Номер патента: 1103112

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Кузьмин, Андреев, Шныкин

МПК: G01N 23/22, G01N 1/36

Метки: ядерно-физических, методов, пробы, анализа, подготовки

...подложки изиндия состоит в следующем,Заготовку индия необходимого размера прокатывают в лист толщиной0,2"0,3 мм и вырезают образцы требуемого размера. Для обеспечения жесткости подложки образцы индия накла.дывают на аналогичного размера пластины из меди (предварительно протравленные) толщиной0,5 мм, на ин-дий помещают пленку из лавсана испрессовывают путем последовательного увеличения давления з1 10 Н/м .7После окончания прессовайия лавсанудаляют, и подложка готова для переноса на нее микровзвеси.Перенос пробы микровзвеси осущест"вляют следующим образом.Из фильтра вырезают образцы, размеры которых равны размерам подложки, накладывают их на индий стороной,на которой находится микровзвесь, испрессовывают, постепенно...

Способ изготовления мишени для ядерно-физических исследований

Загрузка...

Номер патента: 1521259

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Гужовский, Абрамович

МПК: H05H 6/00

Метки: ядерно-физических, мишени, исследований

...3-35, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул. Гагарина,101 натекания азота обеспечивается установлением экспериментально найденной величины зазора клапана-натекателя. После этого нагрев. столика образцов прекращали, и по достижении им комнатной температуры готовую мишень извлекали иэ-под колпака и помещали , в эксикатор.Во втором случае также проводилось 1 О . распыление металлического Лития, использовалась та же подложка. ПослеР нагрева столика образцов до 130 С н .прогрева подложки для обеэгаживания в течение 1 ч температуру подложки снижали до 11 О С (снижением нагрева столика) и при этой температуре распыляли металлический литий и производили его аэотирование. Скорость натекания азота...

Способ определения ядерно-физических характеристик ядерных частиц и устройство для его осуществления

Номер патента: 1752078

Опубликовано: 15.01.1994

Авторы: Фролов, Пальшау

МПК: G01T 1/38

Метки: характеристик, частиц, ядерных, ядерно-физических

1. Способ определения ядерно-физических характеристик ядерных частиц, заключающийся в измерении скорости ядерных частиц по времени пролета путем регистрации вторичных электродов с использованием фокусирующего магнитного поля, измерении энергии ядерных частиц детектором полного поглощения и определении по скорости и энергии типа частиц, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, время пролета ядерных частиц определяют от момента регистрации вторичных электронов, испускаемых источником ядерных частиц, до момента регистрации вторичных электронов, испускаемых из детектора полного поглощения, при этом регистрацию вторичных электронов осуществляют после трахоидальной фокусировки в скрещенных электрическом и магнитном полях, а энергию...

Способ определения ядерно-физических параметров сборки, содержащей делящееся вещество

Номер патента: 1766196

Опубликовано: 27.09.1995

Авторы: Данилов, Недопекин, Чувило, Катаршнов, Рогов, Кушин

МПК: G21C 17/10

Метки: ядерно-физических, делящееся, вещество, параметров, содержащей, сборки

1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ СБОРКИ, СОДЕРЖАЩЕЙ ДЕЛЯЩЕЕСЯ ВЕЩЕСТВО, включающий импульсное облучение сборки, регистрацию частиц, образующихся в сборке в результате деления, измерение временного распределения регистрируемых частиц относительно импульса первичного излучения, определение ядерно-физических параметров сборки по форме временного распределения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения параметров сборки в условиях удаленности детектора от сборки путем исключения влияния разброса времен пролета базы частицами и уменьшения отношения фон-эффект, в качестве регистрируемых частиц используют гамма-кванты, которые отделяют от нейтронов деления по времени пролета заданной базы.2. Способ по...