Патенты с меткой «тестов»

Приспособление для тестов психотехнического испытания вагоновожатых на испуг и опасность

Загрузка...

Номер патента: 10797

Опубликовано: 31.07.1929

Автор: Ершов

МПК: A61B 5/18

Метки: опасность, испытания, вагоновожатых, тестов, испуг, психотехнического

...только рычаги управления вагоном), Между контроллером и сидением-для испытуемого к полу прикрехнического испытанияопасность,21 июня 1928 годативоположной лампам К Е и С, можно прикрепить к стене во всю ее ширину большую картину, изображающую перспективу улицы и рельсового пути с фигурой человека на переднем плане, До испытания картина завешена, так что испытуемый не знает об ее существовании,Испытание состоит в следующем: испытуемого усаживают на контроллер, при чем его левую руку кладут на рычаг контроллера, правую - на рычаг тормоза, левую ногу ставят на левую педаль, правую же ногу испытуемый должен свободно держать на полу. После этого ему объясняют, что рычаги машины находятся в таком положении, когда трамвай идет полным ходом...

Проекционный прибор с дистанционным управлением для предъявления зрительных тестов

Загрузка...

Номер патента: 330851

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Зимин, Носкова, Бов, Страковский, Розенблюм, Лапаури, Аккуратов, Меркулов

МПК: A61B 3/032

Метки: проекционный, тестов, предъявления, прибор, управлением, дистанционным, зрительных

...которой расположены секциидиапозитивов, Кроме того, для создания постоянного уровня освещенности поля визирования в корпусе прибора целесообразно иметьоптический канал подсветки экрана в паузы.На чертеже схематически изображен предлагаемый проекционный прибор.Он содержит корпус 1, источник 2 света,конденсатор 3, экран 4 и оптическую систему,выполненную в виде нескольких проекционцых каналов 5, расположенных совместно с кассетой 6 в едином корпусе, Кассета выполнена в виде усеченного конуса, на боковых поверхностях которых расположены секции диапозитивов 7. Кольцевой ряд таких диапозитивов представляет собой секцшо, тесты с которой проецируются одним проекционным каналом. Кассеты б вряцаютс вокруг оси 8 с помощью электродвигателя 9, шкив...

Устройство для получения минимальных диагностических тестов бесповторных комбинационных схем

Загрузка...

Номер патента: 458830

Опубликовано: 30.01.1975

Авторы: Бессмертных, Ишков, Андрианов, Шишкин

МПК: G06F 15/20

Метки: тестов, диагностических, комбинационных, минимальных, схем, бесповторных

...5, - 5 коммутатора 2 переменных логической функции. Объединяя полученные таким образом наборы, получают минимальныйдиагностический тест для контроля шунтирования элементов диагностируемой схемы,Для определения, наборов диагностического теста, выявляющих, разрыв элементов диагностируемой схемы, с помощью коммутатора 2 переменных логической функции набирают все переменные инверсной логической схемы, а с помощью коммутатора 3 переменных элементарных:конъюнкций - все переменные одной из конъюнкций контрольной дизъюнктивной нормальной формы. При подаче питания с блока управления 1 на индикаторе 4 тестовых наборов отображается информация о состоянии переменных в наборе тестовых команд.Остальные, наборы тестовых команд, выявляющие разрыв...

Устройство для формирования тестов

Загрузка...

Номер патента: 477413

Опубликовано: 15.07.1975

Авторы: Сергеев, Чучман

МПК: G06F 11/00

Метки: формирования, тестов

...случае фор5мирования произвольных тестовых последовательностей); Содержимое регистра 3 определяет следующие параметры устройства для формирования тестов; число логических выходов - первая часть регистра, число выходов синхронизации - вторая часть, число импульсов синхронизации, которое должно быть приложено к выходам синхронизации в каждом такте проверки, - третья и число тактов проверки - четвертая часть регистра,Один такт проверки предусматривает установку сигналов на всех используемых логических выходах и выдачу полного цикла синхронизации. После этого вручную или по сигналу с управляющих шин запускаются задающий генератор 18 и блок управления 12, который вырабатывает ряд сигналов управления. По первому из них, если отсутствует...

Устройство для контроля цифровых модулей и проверки качества тестов

Загрузка...

Номер патента: 519713

Опубликовано: 30.06.1976

Авторы: Сергеев, Филинов

МПК: G06F 11/00

Метки: качества, тестов, цифровых, проверки, модулей

...модуля производится на любом заведомо исправном его экземпляре.Для подачи тестов на модуль его входы соединяются с выходами блока формирователей входных сигналов 3, Имитация неисправностей любой интегральной схемы модуля производится с помощью однотипной эталонной интегральной схемы 15, подключаемой к устройству с помощью сменной платы 14, и имитаторов 16, 17,Работа устройства при проверке теста на неисправностях -ой интегральной схемы модуля протекает следующим образом,После соединения контактного блока 12 с выводами 1-ой интегральной схемы и подключения к устройству сменной платы, соответствующей этой схеме, производится установка всех блоков в исходное состояние и запуск дополнительного блока управления 20.Блок 20, в свою очередь,...

Устройство для получения тестов бесповоротных комбинационных схем

Загрузка...

Номер патента: 526895

Опубликовано: 30.08.1976

Авторы: Ишков, Бессмертных

МПК: G06F 11/00

Метки: бесповоротных, комбинационных, тестов, схем

...2 предназначен для ввода переменных логической функции контролируемой комбинационной схемы и,представляет собой набо 1 р коммутируощих элементов, напримеф переключгтелей, во включенном состоянии которых соответствующие выходы коммутатора подключаются ко входу,Коммутатор переменных элементарных конъюнкций 3 служит,для ввода переменных элементарсных конъюнкций лотической функции и представляет собой набор коимутирую 5 10 15 20 25 ЗЭ 35 4 О 45 50 55 65 4щих элементов, например переключателей стремя фиксированными устойчивыми состояниями. В нейтральном положении их перьевыевыходы коммутатора подключены к его входу,в односум из включенных положений;вторые выходы подключены,к его управляющему входу,а в другом включенном положении к...

Устройство для определения тестов контроля исправности релейных структур

Загрузка...

Номер патента: 526896

Опубликовано: 30.08.1976

Автор: Чистяков

МПК: G06F 11/00

Метки: тестов, релейных, исправности, структур

...замкнутые контакты. Пр Определении набора теста для контроля цспочк, о;исывасмой элем итарой цмплпкаптой а Ь с на обрыв, в результате операций первого и второго рода изменяют состояПе переменные Ь, гУ, 1 г:г",. = а Ь с + ад + е 1 г.(6) Набор теста будет равен сумме вссов указасиых переменных, т. е. равен 42. Наборы теста для,контроля цепочек ад и ей определяотся аналогично и оказываются соответственно равш,Ми 36 и 29 Таким образом, тест Для определения отдель;ого:абора теста Т, иял булевой функцией (1) послелозатсльио проводятся упрощенная операция третьего рола и операция второ:о рода.Упроще 1 ная операция третьего роля заключается в том, что:1 еременная с чертой, соответствующая контролируемому контакту изменяется иа перемецную без...

Устройство для определения функциональных тестов контроля исправности релейных структур

Загрузка...

Номер патента: 528570

Опубликовано: 15.09.1976

Автор: Чистяков

МПК: G06F 11/04

Метки: релейных, исправности, тестов, структур, функциональных

...с управляющим входом блока элементов И 18 и с входом элемента задержки 23, параллельно через блок переключателей 16 соединены с нулевыми и единичными входами триггеров блока триггеров 17, параллельно соединены с входами 7 анализаторов 5, выходы 9 которых соединены с управляющим входом блока элементов И 15, Выход элемента задержки 23 соединен через элемент задержки 24 и формирователь импульсов 25 с управляющим входом блока элементов И 4 и параллельно соединен со счетным входом кольцевого регистра 1, который соединен с блоком настройки 3.Работа устройства состоит в следующем.Перед включением устройства в работу переключатели блока переключателей 16 устанавливаются в положения, соответствующие состояниям переменных функций (1), При...

Устройство для получения диагностических тестов бесповторных комбинационных схем

Загрузка...

Номер патента: 550639

Опубликовано: 15.03.1977

Автор: Бессмертных

МПК: G06F 11/00

Метки: бесповторных, диагностических, комбинационных, тестов, схем

...запоминающий блок 2, состоящий из коммутатора 3 строк, коммутатора 4 столбцов, коммутатора 5 переменных логической функции и коммутатора 6 инверсных переменных логической функции, коммутатор 7 переменных разрыва, коммутатор 8 переменных шунтирования, индикатор 9 тестовых наборов и ключи 10, 11 и 12, Блок 1 управления представляет собой устройство, осуществляющее во включенном состоянии подачу напряжения источника питания на подключенные к его выходу устройства. Коммутатор 3 строк выполнен матричным, коммутирующие элементы которого, объединенные вертикальными шинами, соответствуют переменным в элементарных конъюнкциях. Коммутирующие элементы имеют три устойчивых состояния: два - включенных и одно нейтральное. В любом из включенных...

Устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем

Загрузка...

Номер патента: 570897

Опубликовано: 30.08.1977

Авторы: Ишков, Бессмертных

МПК: G06F 11/00

Метки: комбинационных, бесповторных, тестов, схем

...переменных в наборах.Устройство работает следующим образом.В исходном положении устройства все коммутирующие элементы находятся в выключенном состоянии. Для приведения в исходное положение элементов памяти индикатора переменных логической функции необходимо с помощью коммутирующих элементов блока управления снять напряжение источника питания с входа индикатора переменных логической функции. Для получения наборов разрыва с помощью коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкций в устройство вводится логическая функция в дизыонктивной нормальной форме, а с помощью коммутатора 5 набираются переменные инверсной логической функции,Затем с помощью коммутатора 2 выбирается одна из конъюнкций включением соответствующего коммутирующсго...

Устройство для анализа тестов короткого замыкания бесповторной релейноконтактной схемы

Загрузка...

Номер патента: 571811

Опубликовано: 05.09.1977

Автор: Чистяков

МПК: G01R 31/28, G06G 7/48

Метки: тестов, релейноконтактной, бесповторной, короткого, замыкания, анализа, схемы

...замыкаются выключатели 5 с обозначениями.Ь и бПри нажатии на кнопку Пуск", ключ 15 40открывается, и импульсы с частотой следования.начинают поступать на счетный входсчетчика 1, При последовательном возбуждении выходов 2 счетчика 1 на выходахтриггеров 6 формируется параллельно сиг. днал, соответствующий анализируемому 0101набору теста. Соответствующие обмотки реле 8 модели 7 срабатывают, и не выходе 9устанавливается нулевая проводимость релейной структуры, поскольку любому набору тесМта короткогр замыкании при исправном состоянии структуры соответствует ее нулеваяпроводимость,При последовательном возбуждении выходов 3 и 4 счетчика 1 кратковременно изм 55няют,состояння на противоположные каждыйиз триггеров 6, каждое реле 8...

Устройство для формирования тестов бесповоротных комбинационных схем

Загрузка...

Номер патента: 607220

Опубликовано: 15.05.1978

Автор: Бессмертных

МПК: G06F 11/04

Метки: комбинационных, схем, бесповоротных, формирования, тестов

...в конъюнкциях. В нейтральном положении переключаталей входы индикатора б тестоных наборон подключаются через инверторыблока 3 к одноименным выходам коммутатора 2 переменных логической Функции, а н одном из выключенных положений - к выходу блока управления 1.40Коммутатор 5 переменных шунтирования преднаэйачен для определения наборОн шунтирования диагностическоготеста и выполнен в виде переключателей с двумя устойчивыми состояниями. 45В выклюЧенном состоянии переключателей входы индикатора тестовых наборовподключены к выходам коммутатора 4переменных элементарных конъюнкций,во включенном - через инверторы к вы ходам коммутатора переменных логической Функции.Индикатор б тестовых наборов выполнен в виде светового табло, каждый...

Устройство для задания тестов

Загрузка...

Номер патента: 611183

Опубликовано: 15.06.1978

Авторы: Кривчик, Нагуманов

МПК: G05B 23/02, G05B 19/406

Метки: тестов, задания

...последовательности импульсов с выхода формирователя 3 счетчик 1 последовательно изменяет евое состояние от начального до максимального согласно таблице,. В качестве счетчика 1 импульсов можетбыть использован, например, семираэрядныйдвоичный счетчик,Тогда каждому состоянию счетчикасоответствует знак нли управляющий символ соот. З 5ветственно семиразрядной кодовой таблицы,например кода КОИН по ГОСТ3052 -74, т. е. при подаче на счетный входсчетчика 1 последовательности сигналовна его разрядных выходах получаем семиразрядные кодовые комбинации, соответствующиеуправляющим символам н знакам кодовой таблицы по ГОСТ 13052 - 74, Полученные кодовыекомбинации с разрядных выходов счетчикачерез блок 7 поступают на соответствующиевходы...

Устройство для формирования тестов дискретных автоматов

Загрузка...

Номер патента: 642711

Опубликовано: 15.01.1979

Авторы: Павличенко, Бессмертных

МПК: G06F 11/04

Метки: дискретных, автоматов, тестов, формирования

...5 - веса состояний наборов 0,1,2 (2 -1),11где 11 - число переменных Функций.Определяются контрольная дизъюнктивная нормальная форма КДНФ) и ин . версная КДНФ логической Функции.Для определения наборов диагностического теста, выявляющих разрывэлементов (путей воздействия) диагностируемой схемы, с помощью комму тирующих элементов коммутатора 2 необходимо набрать все переменные инверсии КДНФ логической функции, а с помощью коммутатора 3 - все переменные одной из конъюнкций КДНФ. При подаче питания с блока управления 1 индикатор 5 отобразит веса состояний наборов разрыва.Остальные наборы разрыва получаются последовательным набором переменных оставшихся конъюнкций КДНФ с помощью коммутатора 3 - при неизменном положении коммутирующих...

Устройство для получения диагностических тестов логических блоков

Загрузка...

Номер патента: 736103

Опубликовано: 25.05.1980

Авторы: Бессмертных, Павличенко

МПК: G06F 11/00

Метки: диагностических, тестов, блоков, логических

...матричного коммутатора подключены к счетным входам триггеров блока 8, а через замыкающие контакты переключателей 5 11 - к вертикальным шинам, которые через замыкающие контакты переключателей 3.1-3.3 коммутатора коньюнкции 3 соединены с замыкающим контактом кнопки блока управления 2, который соединен с входом блока индикации 8, с подключенным к нему реле 8,7. Выход элемента ИЛИ 6 соединен с входом блока индикации 9, к которому подключено реле 9,8 и индикаторная лампочка 9.1. Установочные входы триггеров 8 1-8.5 блока 8 подключены через замыкающие контакты 7.1-7,5 переключателя 7 к размыкающему контакту кнопки бдока управления 2, а прямые выходы соединены с входами бдока индикации 9, к которым подключены лампочки индикации...

Устройство для формирования тестов проверки комбинационных схем

Загрузка...

Номер патента: 742956

Опубликовано: 25.06.1980

Авторы: Беличев, Жубр, Шуть

МПК: G07C 11/00, G06F 11/22, G05B 17/02 ...

Метки: формирования, комбинационных, тестов, проверки, схем

...1 проверяемой структуры, На 65 каждом из таких наборов определитель 7 каждой ячейки модели выделяет те элементы проверяемой стру. туры, на входах которых появляются проверяющие наборы. Сигнал с возбужденного выхода определителя 7 поступает на элемент 8 И и в случае если на выходе элемента 9 ИЛИ имеется потенциал, информирующий о наличии хотя бы одного чувствительного пути от данного элемента до выхода модели, устанавливает соответствующий элемент блока 10 памяти проверенных неисправностей. С выхода элемента И сигнал также поступает на вход 9 ИЛИ предшествующей ячейки, информируя ее о том, что ячейка, стоящая перед ней, чувствительна к изменению ее выхода,Таким образом, каждый функциональный элемент 4 ячейки, если он...

Устройство для синтеза тестов

Загрузка...

Номер патента: 857998

Опубликовано: 23.08.1981

Авторы: Фролова, Дербунович, Овчаренко

МПК: G06F 11/22

Метки: тестов, синтеза

...поступающему на регистр 15, происхоДит сдвигсодержимого регистра на два разряда.По следующему сигналу от блока 5,поступающему на сумматор 19, происходит сравнение терка регистра 14 сосдвинуться термом регистра 15 и сложение с содержимыми суьиатора 19. Еслипосле этого цикла содержимое сумматора 19 не равно фОф, можно утверждать, что терм регистра 14 не покрывает тари регистра 16, Если иа выходе элемента И 22 единица, необходимо перейти к модификации термов.Поясним все три варианта конкрет- Ииыми примерами.Вариант покрытияг в регистре 3терм А 1 Х 2 ХЗ, в регистр 2 - термх 1)2 Х 3 Х, т.е. в терке регистра 2содержатся все переменные терка реги Остра 3,Вариант неиокрытияг в регистре 3 терм Х 1 Х 2 ХЗ, в регистре 2 " термХ 1 Х 2 А 3 Х 4,...

Устройство для отладки тестов

Загрузка...

Номер патента: 860076

Опубликовано: 30.08.1981

Авторы: Меттер, Филиппов, Мороз

МПК: G06F 11/26

Метки: тестов, отладки

...контроле узла 8 с помощью вычислительной системы 1.Устройство работает следующим образом.В штатный разъем выислительной системы 1 взамен контролируемого узла 8 подключается адаптером 2 многоканальное устройство 3 тестового контроля, ко второму адаптеру 7 которого подключается контролируемый узел 8. Блок 12 памяти ныдает на регистр 11 первый тестовый набор, задающий характер первого дефекта:номер канала, н котором имитируется: дефект, и нид коммутируемого дефек Формула изобретения 45 ния достоверности контроля, в устрой 55 рядон регистра 11 поступает на дешиф та, Номер канала задается состояниемлогическая "1" в первых разрядах регистра 11, связанных с первым коммутатором 6, а вид дефекта (обрыв,короткое замыкание, дребезг, неполный...

Устройство для синтеза тестов

Загрузка...

Номер патента: 886003

Опубликовано: 30.11.1981

Авторы: Васильев, Баранов

МПК: G06F 11/26

Метки: тестов, синтеза

...дешифраторов 29 или 32, При .этом, если в первом разряде регистра 21 содержится "1" (первая неисправность не подлежит имитации), то на выходе одного из логических злемен" тов И 40 устанавливается сигнал , а на выходе логического элемента И-НЕ 38 - "0". Содержимое счетчика 18 увеличивается на "1", и анализируется следующий разряд регистра 21. В том случае, когда содержимое разряда регистра 21 равно "0", на выходе логического элемента И-НЕ 38 формируется сигнал "1", Этот сигнал останав" ливает генератор 36 импульсов и запускает блок 10 управления.В соответствии с содержимым счетчи- ка 18 осуществляется имитация неисправности, Например, если это состоя- / ние задает обрыв второго входа интегральной схемы, то соответствующий элемент И 30...

Устройство для формирования тестов в многорегистровых кодах

Загрузка...

Номер патента: 888126

Опубликовано: 07.12.1981

Авторы: Савин, Друз, Солнцев

МПК: G06F 11/14

Метки: тестов, формирования, кодах, многорегистровых

...В соответствии с этим ,в последовательно адресуемых ячейкахшифратора 3 записываются коды регистров и коды символов в МТК, Ячейки шифратора, хранящие коды регистров и символов, имеют дополнительные признаковые выходы 4-7, причем выходы 4,5, 6 соответствуют ячейкам, хранящим коды латинского, русского и цифрового регистров соответственно, а выход 7 - ячейкам, хранящим коды символов.Устройство работает следукяцим обра зом.В исходном положении с выхода элемента ИЛИ-НЕ 27 выдается сигнал разрешения, который поступает на управляю щий вход коммутатора 10 и обеспечивает 15 вывод кодовых наборов теста на выходы 11 устройства. При включении генератора импульсов 1 импульсы с его выхода поступают в адресный счетчик 2, состояние которого...

Устройство для проверки полноты тестов

Загрузка...

Номер патента: 920733

Опубликовано: 15.04.1982

Автор: Хохлачев

МПК: G06F 11/26

Метки: проверки, полноты, тестов

...соединенного с первым выходом блока 12 управления осуществляет запуск генератора 1 тестов. Датчик 10 случайных чисел формирует равновероятное число, соответствующее номеру неисправностей объекта контроля. Код, соответствующий случайно выбранному номеру неисправности, подается на вход блока 11 ввода 5 -10 ( 15 го 25 ЗО 35 40 45 50 55 неисправностей, который формирует управляющий сигнал для коммутатора 4 модели2 объекта контроля. Коммутатор 4 в соответствии с управляющим сигналом щ)оизводит разрыв или короткое замыканиеотдельных цепей, соединяющих стандарт.Эные микромодули 3, имитируя тем самымслучайно выбранную неисправность типа"обрыв или "короткое замыкание",Генератор 1 тестов начинает генерировать входную последовательность...

Устройство для задания тестов

Загрузка...

Номер патента: 1010632

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Друз, Рукоданов

МПК: G06F 11/26

Метки: задания, тестов

...является первым выходом группы выходов блока и соединен с вторым входом первого элемента ИЛИ группы и через первый элемент НЕ группы с вторым входом первого элемента И группы.На фиг, 1 приведена структурная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - .схема блока приоритета.Устройство содержит задатчик 1 тестов с клавишами 2-1, 2-2, 2-К, регистр 3 с разрядами 4-1, 4-2, 4-К, блок 5 приоритета, блок 6 задержки включения с элементами 7-1, 7-2, 7-К задержки и элементами Й 8-1, 8-2,.8-К, группу элементов И 9-1,55 Устройство работает следующим образом. В исходном положении триггер 20,счетчик 12 и регистр 3 обнулены. С 659-2, 9-К, шифратор. 10 с выходами 11 р счетчик 12, блок 13 памяти с выходами 14,15-1, 15-2, 15-К, 16, генератор 17 импульсов,...

Устройство для задания тестов

Загрузка...

Номер патента: 1038926

Опубликовано: 30.08.1983

Авторы: Самойлов, Мхатришвили

МПК: G05B 23/02

Метки: тестов, задания

...содержит переключатель 23, кнопку 24 сброса и триггер 25, причем первый, четвертый и пятый контакты переключателя 23 подключены к шине логической "1", а второй, третий и шестой - к точке"1.", первый подвижный контакт переключателя 23 подключен к выходу 26 блока управления и соединен с управляющим входом коммутатора 9 (фиг,1), а второй подвижный контакт подключен к выходу 26 и первому входу элемента И 12, средний контакт кнопки 24 соединен с точкой 1 ", второй и третий контакты подключены соответственно к Б- и В- входам триггера 25, выход которого соединен с вторым входом второго формирователя 4 импульсов и вторым входом 21 блока 7 задания начального кода.Переключатель 23 служит для управления коммутатором 9 и элементов И .12 (фиг....

Устройство для отладки тестов

Загрузка...

Номер патента: 1084804

Опубликовано: 07.04.1984

Авторы: Филиппов, Меттер

МПК: G06F 11/26

Метки: отладки, тестов

...4 и соединен ссоответствующнм выходом первого коммутатора 6, предназначенного длякоммутации на входы вычислительнойсистемы 1 рабочих либо дефектныхсигналов. Второй вход каждого канала5 является вторыми входами коммутатора 4 и соединен через адаптер 7 свыходами контролируемого узла 8, Блоквыходных дефектов 9, позволяющийимитировать типовые дефекты на выхо- Одах контролируемого узла 8 (обрыв,короткое замыкание, дребезг, неполный уровень, сигнал заданной длительности), конструктивно содержит всвоем составе: инверторы, предназна. 35ченные для выработки сигналов логической "единицы" и логического "нуля",имитирующие дефекты типа обрыв иликороткое замыкание, генератор импульсов для имитации дребезга, делители 40напряжения для имитации...

Устройство для формирования тестов субблока логического блока

Загрузка...

Номер патента: 1088000

Опубликовано: 23.04.1984

Автор: Жуков

МПК: G06F 11/25

Метки: формирования, блока, тестов, логического, субблока

...со счетными входамисчетчиков логических выходов, выходов синхронизации, тактов синхронизации и тактов, выходы которых соединены с первыми группами входовпервой, второй ., третьей и четвертойсхем сравнения, вторые группы входов 45которых соединены соответственно спервой, второй, третьей и четвертойгруппами выходов регистров начальныхусловий, вход которого соединен свыходом коммутатора и первым входом 50генератора случайных чисел, второйвход которого соединен с пятым выходом блока управления, выход генератора случайных чисел соединен спервым входом регистра, второй вход 55которого соединен с выходом дешифратора адреса, вход которого соединенс выходом счетчика логических выхо00 4 ка 8, и - количество контактов субблока...

Устройство для задания тестов

Загрузка...

Номер патента: 1096612

Опубликовано: 07.06.1984

Авторы: Мхатришвили, Самойлов

МПК: G05B 23/02, G05B 19/406

Метки: задания, тестов

...кодовпо адресам и (или) циклам или безинверсии, Указанные тесты позволяютпроводить испытания, контроль и диаг45 ностику блоков радиоэлектронной аппаратуры, в том числе блоки с многоадресной магнитной памятью.Режимы формирования тестов типафпсевдослучайный", "сдвиговый" и"постоянный" не зависят от режимавключения инверсии кбдов в бЛокеинверсии 14. Поэтому для упрощенияописания режимов работа устройствапри формировании тестов типа "псевдослучайный", "сдвиговый" и "постояв.55 ный" даже при выключенной инверсиикодов (ключи 43 и 44 в блоке инверсий 14 отключены), а режим инверсий(когда ключи 43 или 44 в блоке инверсий 14 включены) будет пояснен60 при формировании теста "постоянныйкод", так как при этом обеспечивается проверка радиоэлектронных...

Устройство для демонстрации синусоидальных тестов

Загрузка...

Номер патента: 1109123

Опубликовано: 23.08.1984

Авторы: Романов, Морозов, Гвоздев

МПК: A61B 3/00

Метки: демонстрации, тестов, синусоидальных

...изображения, выходы которых через аттенюаторы соединены с коммутатором, выход которого соединен с входом телевизионного приемника, включающего генераторы строчной и кадровой развертки, блок формирования яркости, видеоусилитель.и телевизионную трубку, а также генератор модули-Ф рующего напряжения, дополнительно содержит генератор опорного напряжения, модулятор яркости, входы которого соединены с выходами генератора модулирующего напряжения и генератора опорного напряжения, а выход. - с входом блока формирования яркости, последовательно соединенные синусоидальный генератор, синусоидальный модулятор и ключ, а также синхронизатор, выходы которого соединены с входами генератора кадровой развертки, первого и второго синусоидальных...

Устройство для задания тестов

Загрузка...

Номер патента: 1141379

Опубликовано: 23.02.1985

Автор: Самойлов

МПК: G05B 19/406

Метки: задания, тестов

...каждыйиз которых содержит И тактов обращения. Следовательно, полный контрользапоминающего устройства осуществляется за йобращения,Известны микросхемы (например,МК 4164 (США) информационной емкостью 64 К слов (0=2 ). В этом случае полный контроль всех адресныхпереходов галопирующнм тестом осуществится за 2 х(2 ) обращений(где 2 - учитывает цикл записи исчитывания),.Изобретение обеспечивает проверку динамических характеристик каждого разряда адресных шин испытуемых полупроводниковых запоминающих устройств за 2 х 20 Б обращений(при 0=2 потребуется 2 х 20 х 2 обраще.16ний), что значительно быстрее, чемпроверка галопирующим тестом, Приэтом обеспечивается полная проверкана максимальное быстродействие кажцого разряда адресных шин. На...

Устройство для формирования тестов диагностики дискретных блоков

Загрузка...

Номер патента: 1149265

Опубликовано: 07.04.1985

Авторы: Коробцов, Павленко

МПК: G06F 11/26

Метки: дискретных, тестов, формирования, блоков, диагностики

...третьего элемента И блока управления, установочные входы счетчикаи регистра, первые входы установкив "0" первого и второго триггероввсех узлов контроля объединены и являются входом сброса устройства, вкаждом узле контроля выходы первогои второго элементов НЕ соединены с 50первыми входами сбответственно первого и второго элементов И, выходыкоторых соединены с единичнымивходами соответственно первого и второго триггеров, единичные выходыкоторых соединены соответстненно спервьии и вторыми входами двух формиронателей импульсон, вторые входы установки в "0" первого и второго триггеров соединены с выходом первого формирователя импульсов, вторые входы первого и второго элементов И каждого узла контроля объединены со входами второго и первого...

Устройство для задания тестов

Загрузка...

Номер патента: 1151971

Опубликовано: 23.04.1985

Авторы: Тютерев, Каммозев, Никулин

МПК: G06F 11/16

Метки: тестов, задания

...что снижаетдостоверность контроля.Цель изобретения - повьипениедостоверности контроля,Поставленная цель достигаетсятем, что в устройство для заданиятестов, содержащее генератор импульсов, два элемента И, два элемента ИЛИ, счетчик, причем выходгенератора импульсов соединен с пер-вым входом первого элемента И, выход 5 Окоторого .соединен со счетным входомсчетчика, выход второго элемента Исоединен с первым входом первого. элемента ИЛИ, выход второго элемента ИЛИ соединен с вторым входом 55первого элемента И, введены регистрсдвига, группа элементов ИЛИ, триггеркоммутатор, причем выход генератора где щ = К + 0-1 при К +1 -2 п. В = К +- 1-1 при К+8-2,управляющие входы коммутатора соединены соответственно с вторыми входами элементов И...