Патенты с меткой «структур»

Страница 6

Способ изготовления периодических структур

Загрузка...

Номер патента: 1216756

Опубликовано: 07.03.1986

Авторы: Романов, Пилипович, Ярмолицкий

МПК: G02B 27/42

Метки: структур, периодических

...способа изготовления периодических структур заключается в следующем. Участок эталонной структуры 3 освещают прошедшим через коллиматор 2 пучком когерентного света от лазера 1; Из дифрагировавших на эталонной структуре 3 пучков выделяют пару, имеющую одинаковый порядок дифракции, за исключением нулевого, но раэные знаки, Нулевой порядок и порядки, кроме выделенных, перекрывают экраном 10, Выделенные пучки с помощью системы зеркал 6-9 направляют через оптические элементы 11 и 12, которые оборачивают волновые фронты пучков на 180 относительно их осей, на светочувствительный образец 4. При этом направление падения пучков на образец 4 устанавливают параллельным направлению их дифракции, Совмещают пучки на поверхности образца 4, В результате...

Способ лечения рубцовых структур внепеченочных желчных протоков

Загрузка...

Номер патента: 1217365

Опубликовано: 15.03.1986

Авторы: Гальперин, Кузовлев

МПК: A61M 25/01, A61B 17/00, A61B 17/11 ...

Метки: желчных, внепеченочных, структур, протоков, рубцовых, лечения

...к хирургии, и может быть использовано при реконструктивных операциях на желчных путях.Целью изобретения является предупреждение миграции дренажа и рецидива стриктуры.П р и м е р, Больная С 45 лет. Диагноз: посттравматическая рубцовая стриктура гепатикохоледоха, механическая желтуха, холангит. Производят лапаротомию косым разрезом в правом подреберье с иссечением старого послеоперационного рубца. Последовательно рассекая спайки, осуществляют подход по нижней поверхности печени к гепатодуоденальной связке и воротам печени. В рубцах визуализируют культю общего печеночного протока, Выше рубцовой стриктуры на уровне бифуркации вскрывают общий печеночный проток, к которому подводят участок тонкой кишки длиной 80 см 1 -образно-отключенной (по...

Способ диагностики кровоснабжения структур глазного дна

Загрузка...

Номер патента: 1228845

Опубликовано: 07.05.1986

Авторы: Степанов, Талалаев, Киприянова, Егоров, Портной

МПК: A61F 9/00, A61B 3/00

Метки: структур, дна, кровоснабжения, глазного, диагностики

...больного и здорового глаза илиданные для одного и того же глаза вразные периоды болезни, диагностируют заболевание или определяют степень прогрессирования заболевания вдинамике, а также определяют эффективность лечения,Спбсоб позволяет проводи 1 ь сравни.тельные исследования и динамическиенаблюдения за течением заболевания,а также осуществляет возможность раннего обнаружения ишемии зрительногонерва и изменения кровоснабженияструктур глазного дна, существеннооблегчает раннюю диагностику различных заболеваний, связанных с нарушением кровоснабжения (например, заболевание глаукомой, которое в настоящее время является социальной проблемой, составляет 207. как причинавозникновения слепоты и 4 Е как причина потери трудоспособности).П р и м е...

Устройство для измерения токовых шумов резистивных структур

Загрузка...

Номер патента: 1239651

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Белавин, Васин, Архипова, Колин

МПК: G01R 27/02, G01R 29/26

Метки: токовых, шумов, резистивных, структур

...большой скважности, происходит коммутация переключателей 2 и 5. При указанном положении коммутации переключателей на регистрирующий блок 11 воздействуют только собственные шумы усилителя 7, которые имеют место и без наличия на измеряемом резисторе 4 постоянного напряжения.Через время Т переключатели 2 и 5 возвращаются, в исходное состояние, указанное на чертеже, и тогда на измеряемый резистор 4 поступает,напряжение с источника , а усилитель 7 Изобретение относится к техникеизмерений и может быть использовано для измерения шумов реэистивныхструктур в интегральном исполнениис малой мощностью рассеивания.Цель изобретения - расширениефункциональных возможностей за счетобеспечения измерений токовых шумов 35 40 45 50 55 подключается к...

Способ формирования структур медиального угла глазной щели

Загрузка...

Номер патента: 1242164

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Галимова, Салихов, Федоров, Булатов, Муслимов, Линник, Мулдашев

МПК: A61F 9/007

Метки: угла, глазной, щели, структур, формирования, медиального

...к краям раневой поверхности в медиальном углу глазной щели микрохирургическими швами 8/О, В тех случаях, когда мобилизовать коньюктиву не представляется возможным или производится одномоментное восстановление коньюнктивы глазного яблока, шаровидный аллотрансплантат покрывают пластинчатым аллотрансплантатом висцеральной фасции и также фиксируют его швами к краям раневой поверхности. Между шаровидным аллотрансплантатом и глазным яблоком через покрывающую их коньюнктиву или аллотрансплантат висцеральной фасции проводят один или два П-образных шва, например алло- сухожильных, толщиной 4/О, ведут их вглубь и в стороны и выводят через кожные насечки, где туго связывают. В результате этого мобилизованная коньюнктива или алло- трансплантат...

Способ изготовления световодных иили светоизолирующих структур в стекле

Загрузка...

Номер патента: 1250531

Опубликовано: 15.08.1986

Авторы: Поржецкий, Грилихес, Полянский, Валов, Гольденфанг

МПК: C03C 21/00

Метки: стекле, «и—или», структур, световодных, светоизолирующих

...преломления. 50 и пасту, содержащую нитрат лития и связующее в соотношении 1:3.На рабочую поверхность стеклянной матрицы наносят слой пасты, содержащей нитрат натрия, и сушат при 90 С до отверждения. Затем наносят слой пасты, содержащей нитрат лития, на него накладывают электрод 3 и проводят сушку при 90 С. На противоположную сторону стеклянной матрицы наносят слой пасты, содержащий нитрат натрия (можно наносить пасту, содержащую нитрат лития) и электрод 4.Готовую матрицу с электродами помещают в печь при Т = 630-650 С, в течение т = 15-20 мин пропускают ток 1 = 150-200 мА.Срез полученного образца помещают в интерферометр и с помощью фотоаппарата снимают интерференционную картину, Интерференционная картина образца показывает, что в...

Способ переключения ячеек памяти на основе мпд структур

Загрузка...

Номер патента: 1029771

Опубликовано: 23.08.1986

Авторы: Сагитов, Плотников, Селезнев

МПК: G11C 7/00, G11C 13/04

Метки: переключения, мпд, памяти, ячеек, основе, структур

...тем, что в способе переключения ячеек памяти на основе МДП-р - и-структур из низкоомного в высокоомное состояние заключающемся в подаче на ячейки памяти оцновременно импульса света и электрического напряжения, на ячейки памяти воздействие импульсом света осуществляют в течение времени, превышающего время заряда емкости ячеек, при этом мощность Р импульса света определяется из выраженияР (П - 13) /К Кгде Н - напряжение на. ячейках памяти,П - напряжение выключения ячеек 5 из низкоомного состояния;К - сопротивление, включенноепоследовательно с ячейкойпамяти,Кщ - чувствительность ячейки па мяти к свету в ниэкоомномсостоянии.Предлагаемый способ переключенияячеек памяти заключается в следующем.Пусть ячейка находится в НС, т. е.15 ББ....

Способ исследования функционального состояния структур переднего отдела глаза

Загрузка...

Номер патента: 1255123

Опубликовано: 07.09.1986

Автор: Крыжановская

МПК: A61F 9/00

Метки: глаза, состояния, функционального, переднего, структур, исследования, отдела

...хрусталика в передней и боковой проекциях и съемкупереднего отдела здорового глаза втех же плоскостях, если возможно, и,в крайнем случае, только в боковой 25проекции при вертикальном положенииголовы и туловища, Затем производят серию аналогичных снимков переднего отдела, оперированного и здорового глаз при различных положениях головы, но при вертикальномположении туловища. Это достигаетсянаклоном только головы в шейном отоделе позвоночника на 15-30-45-60ои 90 , Причем съемку повторяют прикаждом параметре через 1,3,5,10 минс возвратом в исходное положениеи отдыхом или без него, После этогопроизводят серию аналогичных снимков переднего отдела оперированного40и здорового глаз при проклинационныхнагрузках, которые заключаются...

Способ получения объемного трехмерного изображения биологических объектов и его внутренних структур

Загрузка...

Номер патента: 1257444

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Малишевская, Фишер, Проняев

МПК: G01N 33/48, A61B 10/00

Метки: объемного, изображения, объектов, внутренних, трехмерного, биологических, структур

...компонентов,Способ осуществляют следующим образом. П р и м е р. 11 редварительно подготавливают два ряда предметных стекол: ряд А и ряд Б. В каждом ряде производят сквозную нумерацию стекол. С исследуемого объекта, например почки зародыша, с заключенными в блок направляющими ориентирами (двумя капроновыми разноцветными нитями) готовят серию гистологических срезов, располагая их поочередно через один то на ряд А, то на ряд Б (например, четные срезы в порядке их срезывания помещают на ряд А, нечетные - на ряд Б). Таким образом, получают два ряда стекол со срезами, расположенными через один в каждом ряде, Срезы ряда А обрабатывают обычным гистологическим способом окраски, например по Ван-Гизону, а на срезах ряда Б производят...

Способ оконтуривания антиклинальных структур в предгорных прогибах

Загрузка...

Номер патента: 1260905

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Касьянова, Нагуманова, Рыжиков

МПК: G01V 9/00

Метки: оконтуривания, предгорных, структур, антиклинальных, прогибах

...осуществляют следующим об 1 О разом.0 новейшем росте локальнцх структур свидетельствуют деформации поверхностей выравнивания, деформации реечных террас.Для выявления последних проводят геодезическое измерение высотных отметок бровки террасы, т.е. нивелирование вдоль реки, Исходя иэ того, что поверхности террас - плоскости, которые на,продольном профиле выражаются прямой, наклоненной линией,2 О соответствующей региональному уклону местности, то всякие отклонения от этой линии указывают на деформированные участки террасы. Согласно этому, по. изменению высотных отметок бровки выделяют деформированные участки земной поверхности. На этих участках Закладывают поперечные профили через 1-2 км. 30Аналогично деформацию земной поверхности...

Способ моделирования срезов геологических структур

Загрузка...

Номер патента: 1264230

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Валуконис, Башкатов, Смачной

МПК: G09B 23/40

Метки: геологических, моделирования, срезов, структур

...проведении лабораторных и практических занятий по курсам общей геологии, геотектоники, структурной геологии, картографии и геодезии.Целью изобретения является повышение точности моделирования путем получения нескольких ступеней среза с объемным эффектом.Способ иллюстрируется чертежом.На чертеже обозначены контурлотка (вид сверху); структура 2, выступающая над жидкостью; рабочая многослойная (двухслойная) жидкость 3; контур 4 среза, определяемый поверхностью жидкости; контур 5 среза, определяемый плоскостью внутри многослойной (двухслойной) жидкости. При иепольэовании способа геологическая структура воспринимается объемно, так как четко видны ее контуры 4 и 5 на различных глубинных уровнях.Для получения многослойной жидкости могут быть...

Способ локализации внутриорбитальных структур

Загрузка...

Номер патента: 1266526

Опубликовано: 30.10.1986

Авторы: Кугоева, Груша, Тодуа

МПК: A61F 9/00, A61B 6/00

Метки: структур, внутриорбитальных, локализации

...объемных процессов в орбите с помощью рентгеновской компьютерной томографии.Цель изобретения - уменьшение травмирования глазного яблока путем сокращения числа манипуляций.Способ осуществляют путем рентгеновской компьютерной томографии с использованием неподвижных металлических маркеров, которые устанавливают перпендикулярно плоскости сканирования, причем диаметр маркеров выбирают равным разрешению томографа, расстояние между маркерами задают заранее, после чего производят томографию, устанавливают местоположение внутриорбитальных структур, вводят медицинский инструмент и проводят контрольное сканирование. Пример. Больная А., 33 лет, наблюдалась в клинике глазных болезней с диагнозом: левосторонний экзофтальм невыясненной этиологии....

Способ изготовления периодических структур

Загрузка...

Номер патента: 1278778

Опубликовано: 23.12.1986

Авторы: Пилипович, Ярмолицкий, Романов

МПК: G02B 27/42

Метки: периодических, структур

...полосы остаются неподвижными относительно светочувствительной поверхности заготовки 5, Врезультате на заготовке в направленииперемещения формируется периодическаяструктура. В заключение осуществляется фотохимическая обработка заготовки, проводимая по известным методикам.Благодаря использованию двух идентичных структур, развернутых на 180о,период изготавливаемой структуры пос"тоянен по всей ее длине и структуране имеет накопленной погрешности, Приизвестном способе изготовления периодических структур накопленная погрешность изготавливаемой структуры равнапогрешности эталона,Способ может быть осуществлен, например, следующим образом.Выбирают две идентичные периодические структуры, например две штриховые шкалы с И = 500 мм, Т = 10 мкм, где...

Устройство для моделирования молекулярных структур

Загрузка...

Номер патента: 1278922

Опубликовано: 23.12.1986

Автор: Микельсаар

МПК: G09B 23/26

Метки: молекулярных, структур, моделирования

...ставительхред И. Верраж 455дарственногоизобретенийЖ - 35, Раунт, г. Ужго мбикинаКорректор АПодписноекомитета СССРи открытийшская наб., д. 4/5од, ул. Проектная Редактор Г. Волко Заказ 6846/5 ТеТиПИ ГосуделамМосква,П Пате бручар НИИ 1130 лиал Изобретение относится к научным наглядным пособиям и может быть использовано в научно-исследовательских и учебных учреждениях для передачи пространственного представления о молекулярной структуре веществ и их превращениях.Целью изобретения является возможность моделирования апланарных циклических соединений.На фиг. - 3 показано моделирование апланарного цикла (сумма углов превышает 360); на фиг.4 и 5 - соответственно внутренние валентные углы и концентрирующиеся в центре углы в апланарной...

Устройство для изготовления периодических структур

Загрузка...

Номер патента: 1280561

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Пилипович, Богданович, Ярмолицкий, Романов

МПК: G02B 27/42

Метки: периодических, структур

...мкм. Расстояние между осямк пучков вдоль структуры равно 45 мм. За эталонной структурой 4 распространяются две группы дифракционных порядков. На пути + 5 порядков, угол диф 0ракции которых равен 18 , установлены телескопические системы 5,6 с1увеличением Г щ 1/Г1/8. Фокусаюе расстояния первой и второй линз те" лескопических систем 40 и 5 мм, диаметры 35 и 6 мм соответственнд, Телескопические системы оборачиваютофронты пучков на 180 и сужают выходные. пучки до диаметра 3 мм. Кро" ме того, в фокусе первых линз телескопических систем установлены диафрагмы, перекрывающие все порядки, кроме пятых. Диаметр дкафрагм 10 мкм. Выходящие из телескопических систем 5 и 6 пучки совмещаются на поверхности заготовки 8 со светочувствительным слоем с...

Устройство для физиологических исследований структур переднего отдела глаз

Загрузка...

Номер патента: 1281244

Опубликовано: 07.01.1987

Автор: Крыжановская

МПК: A61B 3/14

Метки: глаз, физиологических, отдела, переднего, исследований, структур

...покрытую изнутри звукоизоляционным мягкотканным материалом.Устройство оснащено мощным источником 17 света, в, качестве которого использован электронно-импульсный осветитель, что исключает тепловое и слепящее воздействия от обычных ламп накаливания на глаза пациента и обеспечивает необходимую освещенность последних при любом положении головы и туловисца. Рефлектор с электронно-импульсной лампой 17 может быть укреплен на шлеме или рамке в необходимом положении и электрически связаны с блоком 18 питания, расположенного стационарно в удобном месте.Устройство работает следующим образом.Пациенту одевают уравновешеный противовесом 16 илем 1, производят его подгонку по размерам головы и укрепляют жестко с помощью фиксатора 6. Затем...

Устройство для сборки пространственно-стержневых структур наполнителя пластифицируемых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1283267

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Ротанков, Колесников, Смыслов, Андреев, Баринов, Корявов, Жарова

МПК: D04H 13/00

Метки: структур, наполнителя, сборки, пространственно-стержневых, пластифицируемых

...используется для фиксации диска 8, нижняя 18 - для фиксации поддона-выталкивателя 10 с возможностью вертикального перемегцения механизмом 20, размещенным совместно с колоннами 19 на раме 16, а для горизонтальных стержней 6 - в виде штанг 21, фиксирующих попарно необходимые положения накопителя и установлен 5 10 15 20 25 ных вертикально вокруг верхней плиты 17 на нижней 18.Работа на устройстве для сборки пространственно-стержневых структур наполнителя распределена на 2 этапа.1 этап - запасовка стержней 5 и 6 в накопители.Накопители размещаются под бункерами 3 и 4 и закрепляются элементами 7 на столешнице 2 вибростола 1. От воздействия вибрации вертикальные стержни 5 пройдут сквозь отверстия 9 диска 8 и упрутся концами в...

Способ выявления рапоносных структур

Загрузка...

Номер патента: 1287083

Опубликовано: 30.01.1987

Автор: Алехин

МПК: G01V 9/00

Метки: выявления, рапоносных, структур

...предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Изобретение относится к геологии и может быть использовано для поисков и разведки нефти, газа и промышленных вод.Цель способа - повышение надежности выявления рапоносных структур.Способ основан на выявленной закономерности,. заключающейся в приуроченности рапопроявлений к антикли нальным структурам с углами наклона крыльев, превышающими величину критического угла течения солей на данной глубине.Способ осуществляется следующим образом.В области развития соленосных отложений производят оконтуривание ареала аномальных мощностей солей, например, методом полевой геофизики. В прЬделах указанного ареала выявляют антиклинальные поднятия и оценивают их структурные планы по различным...

Способ получения структур с -переходом на основе полупроводников типа

Загрузка...

Номер патента: 928942

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Рогачев, Есина, Зотова, Матвеев, Стусь, Талалакин

МПК: H01L 21/208

Метки: переходом, полупроводников, структур, типа, основе

...кон 6 - 3 центрации дырок не менее 5 10 см / /мкм).В соединениях А В подвижностьш чэлектронов значительно больше подвижности дырок, например для 1 пАз их отношение составляет 50 при 300 К. Это обуславливает преимущественную инжекцию электронов в р-область.Поскольку вероятность излучательной рекомбинации можно считать пропорциональной концентрации дырок на диффузионной длине от р-п в перехо, то эффективность излучения р-п-перехода с резким профилем распределения дырок вблизи р-п-перехода значительно (по крайней мере, на порядок) выше, чем в р-п-переходах, полученных известным способом, а наиболее оптимальный интервал легирования, как показывает опыт, находится в пределах 510 - 110 смй . в -3 Указанный состав жидкой фазы определяют на...

Устройство для исследования сетевых структур

Загрузка...

Номер патента: 1292001

Опубликовано: 23.02.1987

Авторы: Балакирев, Луценко

МПК: G06F 15/173

Метки: сетевых, исследования, структур

...работы в регистре 16 записан код напряжения Е соответствующий наиболее длинному кратчайшему пути иэ первого узла сетевой структуры до какой-то )-й вер шины (узла)Задним фронтом импульса с и-го выхода распределителя 7 информационньй вход коммутатора 2 опять подключается к входу распределителя 3, в блоке 2019 производится сравнение кодов, поступающих на его входы, и заносится "1" (указывающая номер первого узла структуры) в счетчик 21. Блок 19 выдает сигнал, если код с выхода ре гистра 16 меньше кода с выхода регистра 18Поскольку первоначально в регистре 18 записаны "1" во всех разрядах, то при первом сравнении блок 19 выдает сигнал, который открывает 30 блок 20, и "1" с выхода счетчика 21 поступает на вход регистра 22, который ее...

Устройство для автоматической ориентации топологических структур элементов микроэлектроники

Загрузка...

Номер патента: 1293490

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Пилипович, Митькин, Развин

МПК: G01B 21/00

Метки: топологических, структур, ориентации, микроэлектроники, автоматической, элементов

...дискриминаторов сигналы поступают в линии 19 и 20 задержки и далее в умножители 25 и 26, где они умножаются на весовые коэффициенты, формируемые блоками 23 и 24 при помощи регистров 21 и 22 памяти аналогично однополосовому коррелятору.Оценки векторов состояния используются в цифровых фильтрах для вычисления ожидаемых их значений на и-ом интервале. Данные вектора прогнозов, представляющие собой прогнозируемые значения центра сигнала, поступают на входы генератора 29 полустробов и к ним "привязываются" центры следящих стробов, подаваемых на бинарные дискриминаторы 17, 18 на сигнальные входы которых поступают сигналы от Фотоприемников 13 и 14.Сигналы,с выходов умножителей 25 и 26 поступают в схемы цифровых фильтров 27, где они...

Способ дешифрирования аномалий изображений статистически однородных структур

Загрузка...

Номер патента: 1303826

Опубликовано: 15.04.1987

Автор: Рафаилов

МПК: G01C 11/00

Метки: дешифрирования, однородных, структур, аномалий, изображений, статистически

...изображения.Однако при этом следует учесть следующие соображения.Для обеспечения максимальной точности обнаружения аномалии структуры статистически однородного изобракения в качестве опорного выбираютучасток изображения со статистически однородной структурой.Когда невозможно выделить статистически однородную структуру в пределах анализируемого изображения, тодля обеспечения максимально возможной в этом случае точности обнаружения аномалии статистически однороднойструктуры исходного изображения вкачестве опорного участка используют все исследуемое изображение,Когда же размер изображения велик (например, при щелевой аэрофотосъемке, при анализе тепловых или радиолокационных снимков), используют в качестве опорного участка участок...

Способ выявления структур нервных элементов на гистологическом препарате

Загрузка...

Номер патента: 1303879

Опубликовано: 15.04.1987

Автор: Беличенко

МПК: A61B 10/00, G01N 33/48

Метки: структур, нервных, препарате, элементов, выявления, гистологическом

...не происходит.П р и м е р 2. При проведении способа на мозге экспериментального животного его умерщвляют чрезмерной дозой нембутала (60 мг/кг). Для удаления крови мозг перфузируют через сердце или сонные артерии холодным (4 С) Физиологическим раствором, содержащим 154 тюМ ИаС 1, 5,6 тюМ КС 1, 2,3 тпМ СаС 1 6 Н О, 0,25 М сахароэы в 1 шМ трис-НС 1 буфере, рН=7,4. Для Фиксации нервной ткани мозг перфузируют холодным (4 С) 107.-ным этилоовым спиртом в физиологическом растворе в течение 30 мин. Затем мозг достают из черепной коробки и помещают в Фарфоровую чашку с 10%-ным этиловым спиртом в физиологическом растворе, Центральные концы волокон тракта или корешка нерва помещают в полиэтиленовую трубку и фиксируют к стенке трубки тканевым...

Способ и схема для определения характеристики краев структур в измерительных приборах

Загрузка...

Номер патента: 1310640

Опубликовано: 15.05.1987

Авторы: Вернер, Райнер

МПК: G01B 21/30

Метки: измерительных, схема, приборах, характеристики, структур, краев

...зонда небольшой,т.е, обычно 10 нм, регистрируют крайтолько в этой небольшой области, непредъявляя требования к линейному разразмеру края. Время прибывания наточку составляет, например 4 мкс. Изза небольшого количества регистрированных электронов сигнал 4 (фиг.1 с)имеет небольшое отношение сигнал/шум.Чтобы улучшить это отношение (приу = пост.) развертку п раз (например, п = 50) повторяют и оцифрованные значения сигнала суммируют водну кривую сигнала 5 (фиг.1 й) . Регистрация края продолжается и 2 с=0,1 сПри этом виде образования сигналов не учитывают шероховатости края.Поэтому после свипа развертки при у,в каждом случае после перемещенияэлектронного луча вдоль направленияаси у на Ьу проводят п дальнейшихизмерений, Возникшие...

Устройство для изготовления периодических структур

Загрузка...

Номер патента: 1345154

Опубликовано: 15.10.1987

Авторы: Пилипович, Ярмолицкий, Романов

МПК: G02B 27/42

Метки: периодических, структур

...следующим образом.Выходящий из источника 1 когерентного излучения пучок расширяется системой 2 и, пройдя светоделительныйблок 3, разделяется на два параллельных пучка, которые падают нормально на эталонную структуру 4. Врезультате дифракции двух освещающих пучков на эталонной структуре заней распространяютсядве группы дифракционных порядков, В телескопических системах 5 и 6 диафрагмами,установленными н Фокусе первых линз,отфильтровываются все порядки, кро 20 25 30 35 40 45 50 55 ме выбранных. Кроме того, телескопические системы сужают и оборачиваютих на 180", После прохождения телескопических систем пучки совмещаются на заготовке 8 с образованиеминтерференционной картины, При перемещении каретки .7 с эталонной структурой 4 и заготовкой...

Устройство для формирования световых прямолинейных структур

Загрузка...

Номер патента: 1359765

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Бойчук, Романенко, Логинов, Гнатовский, Погорецкий

МПК: G02B 27/42

Метки: структур, формирования, прямолинейных, световых

...светового квадрата преобразователь состоит из двух пространственно разнесенных зон 3 и 4, ориентированных друг относительно друга под углом90 (фиг,З)дифракционная структура (штрихи) преобразователя 1 (фиг,2) образована дугами окружностей с одинаковыми радиусами К, центры которых расположе 597652ны эквидистантно с периодом Й напрямой, направление которой условновыбрано совпадающим с направлениемкоординатной оси ОХ, Концы отрезковокружностей заключены между образующими АА и ВВ, параллельными осиОХ, что обеспечивает их одинаковуюдлину, Период дифракционного преобразователя 1 изменяется по сечениювдоль координаты ОУ по закону дЙ,созе, где уголь определяет направление дифракции, ортогональноештрихам дифракционного преобраэова...

Способ определения полярности кристаллических структур

Загрузка...

Номер патента: 1374106

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Подсвиров, Макаров

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллических, структур, полярности

...углов дифракции первич ного пучка электронов на плоскостях, перпендикулярных полярной оси. При этом эффект асимметрии наблюдается как для возбужденных в кристалле вторичных электронов, так и для упруго и неупруго отраженных электронов зондирующего пучка. Энергия первичных электронов не является критичной и может составлять единицы-десятки килоэлектронвольт. Варьирование энергии 35 в указанных пределах позволяет изменять глубину зондирования объекта в диапазоне единицы-десятки нанометров.Устройство для определения поляр О ности криСталлов включает вакуумную камеру 1, электронную пушку 2, исследуемый объект 3, коллектор 4 вторичных электронов 5, магнитную отклоняющую систему 6 с блоком 7 питания, 45 блок 8 измерения токов и...

Биогеохимический способ определения нефтегазоносности структур

Загрузка...

Номер патента: 1374164

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Жук, Натапов, Журавель, Стадник, Биджиев, Васильев

МПК: G01V 9/00

Метки: биогеохимический, структур, нефтегазоносности

...Заказ 571/42 Тираж 522 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1 1Изобретение относится к поисковой геологии и может быть использовано при определении нефтегазоносности структур.Цель изобретения - повышение эффективности определения нефтегазоносности, структур Способ осуществляют следующим образом,На площади структур в выбранном масштабе одновременно отбирают доминирующие виды растений с корневой системой, расположенной в подпочвенных горизонтах, и виды растений с корневой системой, расположенной в почвенном горизонте, высушивают, озоляют, анализируют первые - на содержание...

Устройство для жидкостной эпитаксии многослойных структур

Загрузка...

Номер патента: 807693

Опубликовано: 07.03.1988

Автор: Заргарьянц

МПК: C30B 19/06

Метки: многослойных, эпитаксии, структур, жидкостной

...неоднородный растворн в результате ухудшается однородность свойств.Целью данного изобретения является повышение однородности растворарасплава за счет эффекта перемешивания во время его заливки на подложку,Указанная цель достигается тем,что в емкостях размещены подвижныеЬ-образные перегородки, в вертикаль- .ных стенках которых выполнены сквозные отверстия, а на внутренней поверхности каждой емкости, обращеннойк вертикальной стенке перегородки,выполнены пазы и в боковых стенкахкорпуса выполнены, выемки со скосами.Наличие сквозных отверстий в вертикальной стенке перегородки в случае совмещения с пазами в стенке емкости обеспечивает одновременное поступление раствора-расплава к подложке, установленной на подложкодержателе, с разных...

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

Загрузка...

Номер патента: 1381731

Опубликовано: 15.03.1988

Авторы: Киреев, Явнов, Шумилин, Генералов, Лопухин, Шелест

МПК: H04N 7/18

Метки: дефектоскопического, структур, планарных

...окна одновременно. Совпадение топологически связанных сигналов о выделенных вертикальных и горизонтальных участкахконтура во времени дает информациюоб угловых элементах изображения.Это совпадение для угловых элементов изображения фиксируется параллельно по всей высоте электронногоокна с первой и второй групп элементов И 23-1 - 23-4 и 24-1 - 24=4. Ин 35формация о выделении угловых элементов раздельно по первому и второмувыходам анализатора 10 подается напервый и второй элементы ИЛИ 11-1и 1-2, которые определяют наличие 4 Оуглового элемента соответствующеготипа в текущем столбце электронногоокна, 11 олученная информация раздельно записывается в первый и второйрегистры 12-1 и 12-2 сдвига и под 45воздействием тактовых импульсов...