Патенты с меткой «масс-спектрометра»

Индикатор масс для масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 115497

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Мисюревич

МПК: G01N 27/72

Метки: масс, индикатор, масс-спектрометра

...фер.ромагцигцый материал 8 в зазор, что вьзы(дт цс)вс:рот цс)лци,киой системы ца некоторый угол; этот ) го яв,яется мерой напря)к;Ио;имдгитцс)го полЯ, и слеловате,идно, и измеРЯемой массы ионов.От ст угла поворота пол(ижцой си.темы пр(цзвол 5 т цматс) )омс"ГСК,1 С 5 Г ПОМОИ.Ю С:ПТИ 1 ЕС 3(ОЙ СИСТСд уЛЛИСНИЯ КОЛЯ СИСТООГО Лу 1 13 .,гля лмцфирс)Нация ко сс)дцй ,1кит Воз (цць 11 лемпфер, со( (05 П 1(и 1 из .1. 1(иИ 1 цлр 3 ч(.скцк камер У У и пори(и У 2 пйлвижнои с 3стс мы,1 л 51 пОЛИИ Ими(ЛЬСОВ И 1 (дЛМтчК Мд С Псг).( )11 ТОВЫМ СТК,101оптической систсмы устдцовлецо фо(с)со 3;)(.ТиигСциУ), перекрываюпес.3 ебольи(30 част. с Встоной )31 ски, 00 3 зстс г1013 си п реле зеднцс)3 маср Исгрирус мк иоцоц.,"1 г повышения точности отсчета и...

Анализатор масс-спектрометра с параболическим распределением потенциала

Загрузка...

Номер патента: 147811

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Раховский, Павлов

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26, G01N 27/70 ...

Метки: параболическим, масс-спектрометра, анализатор, потенциала, распределением

...параболичесезков прямых анализатор поступают из изации молекулярного и ктронными лучами, Ионь аемого фокусирующими д ения и достигают коллек м, что создаваемые ими зи их стенок, к центру а ь и точность измерения. аемый анализатор может изических лабораториях котороиленного ввием зл2, совершжавки 2 ряют ион аи Р широкпроведе применение ви анализа газа Подписная груггпа1 В. И. Раховск АНАЛИЗАТОР МАСС - СПЕКТ РАСПРЕДЕЛЕНИзвестные ана ределением потенц статическое пара армонические кол она. При этом ио ольной оси к стенк точность измерен Предлагаемый оторые закреплен озволило повыситьп ьнияНа чертеже приведена принцлизатора.Для создания параболическолизаторе используется ряд параллзакрепленных на фокусирующих две между двумя сетками...

Устройство для коррекции ионного пучка в анализаторе времяпролетного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 175309

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Озеров, Бронштейн, Белов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: коррекции, пучка, времяпролетного, масс-спектрометра, анализаторе, ионного

...чт ложняет конструкцию устро ускорения и части пространства дрейфа, в основном свободного от полей,В области иошзацин и области ускоренияионы движутся во взаимно перпендикулярных электрическом и магшггном полях (коллимирующее магнитное поле направлено перпендикулярно чертежу в сторону от читателя), а в той части пространства дреифа, на которую распространяется коллнмнрующее поле, ионы 10 движутся в поперечном магнитном поле. Этополе вызывает недопустимое по величине отклонение ионов от осевой линии прибора, что приводит к потерям легких компонентов и искажениям в масс-спектре.15 На чертеже показаны схематическрии однозарядных ионов с массами Отклонение оо в выталкиваюцеммежутке 5 и ускоряющем промежутке 1 при 20 оптимальных величинах...

Масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 204013

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Дошлов, Поль, Матвеев, Хмельницкий

МПК: G01N 27/70, H01J 49/14

Метки: масс-спектрометра

...подходящей во может быть вытических масс-спектеределкой последних ре Ионныи истожащий камеруэлектрод и апетем, что, с цельизмерения полния пределов игиях ионизируустройства длятока использовненная с измер одерющий ииися ности шире- энерестве нного оедиое устапертурт с выб, корное устПри масс-спектрометрических исследованиях индивидуальных соединений и анализесложных смесей необходимо измерение полного ионного тока, которое осуществляетсяизмерением общего количества ионов, образующихся в камере ионизации, Известныйионный источник масс-спектрометра содержиткамеру ионизации, корректирующий электроди апертурную линзу.Предлагаемый источник отличается от известных тем, что в качестве устройства дляизмерения ионного тока использована...

Датчик квадрупольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 219863

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Сергеев, Любимов

МПК: H01J 49/26

Метки: датчик, масс-спектрометра, квадрупольного

...Концы ст зуют для 5 деталей и мет изобретени ектрометра сктор ионов ем, что, с овки систеэлектродь ержней, из иэлектрпка рована. квадр ий исто личен рощен я выпо ых из асть к польного масс-спчник ионов, коллотличающийся тя точности центря конструкции,лнены в виде стт топлавкого доторых металлиз Датчик О содержащ и квадруп целью уве мы и уп квадрупол 5 готовленн средняя чЗависимое от авт. свидетельстваИзобретение относится к области масс- спектрального анализа. В известных датчиках квадрупольного типа квадруполь состоит из четырех металлических стержней, смонтированных на изоляторах.Отличие предложенного устройства в том, что электроды квадруполя выполнены в виде стержней из тугоплавкого диэлектрика, средняя часть которых металлизирована....

Анализатор квадрупольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 257129

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Ивашкин, Слободенюк

МПК: H01J 49/26, G01N 27/62

Метки: анализатор, квадрупольного, масс-спектрометра

...случаях вообще невозможно,В предлагаемом анализаторе торцы стержней иеподвикно соединены посредством керамических деталей, играющих роль электрических изоляторов, с металлическими фиксато.5 рами, вставленными в калиброванные по месту расположения и форме отверстия плат.Платы с отверстиями для прохода ионов, являющиеся входной и выходной диафрагмами, жестко закреплены в строго определенных по ложен 11 ях на торцах корпуса, которь 1 Й придаетжесткость всей конструкции анализатора.Точность фиксации стержней в пространстведостигается путем обработки стержнеи и фиксаторов в сборе и выполнения калиброванных 15 отверстий и отверстий для прохода ионов вплатах с одного установа деталей на станке.Керамические летали не являются фиксаторами,...

Вытягивающий электрод квадрупольного масс-спектрометра с накоплением

Загрузка...

Номер патента: 288400

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Могильченко, Зенкин, Шеретов

МПК: H01J 49/26

Метки: электрод, квадрупольного, вытягивающий, масс-спектрометра, накоплением

...как оца опредслястся геометрией электродов, ц ионы выходят цз объема датчика, двигаясь В той же плоскости, Плоскости движения ионов радцальцыс, т, с. оцц проходят через ось симметрии. 1 ШСЦИС счсции Дости- чектроый гиальцые ет при ой точ- рактием са- вывода Выт масс-с ЛЯЮШ 1 ция, о шеция собцос сквозц Предлагаемое изобретецие относится к области масс-спектрометрического анализа.Известен вытягивающий электрод квадрупольцого масс-спектрометра с накоплением. Для вытягивания ионов, накопленных в объеме анализатора, имеется отверстие, закрытое сеткой. В такой коцструкции коэффициент вывода иоццого потока ограничен коллимирующим действием выводцого отверстия и сетки. С другой стороны коллимирующее отверстие ограничивает область объема...

Регистрирующее устройство масс-спектрометра с автоматическим переключением

Загрузка...

Номер патента: 335595

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Залесов, Волгин, Лепорский

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: автоматическим, регистрирующее, масс-спектрометра, переключением

...числа М сначала попадает ла дополнительный коллектор 2, а затем на основной коллектор 4.11 усть имеются два ионных лучка разной интепсивности с массовыми числами М, и М причем расстояние между этими пучками меньше, чем ширина дополнительного коллектора 2 (случай частично неразрешенных пиков). Тогда при развертке масс-спектра на выходе усилителя 7 ионного тока дополнительного коллектора образуется сигнал, изображенный ла фиг. 2,и, а на выходе усилителя 6 ионного тока основпого коллектора - точно такой же, но запаздывгющий на время Г сигнал, изображенный на фиг. 2,б.Сигнал с усилителя 7 поступает через дис- ференцирующую,цепочку 12 на усилитель- формирователь 13 и одновременно на схемы сравнения 14.Если выходной сптнал усилителя 7...

Приемник ионов масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 343703

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Специальное, Шерешевский

МПК: G01N 27/62, B01D 59/44

Метки: приемник, ионов, масс-спектрометра

...и двухлучевым методами имеют ограниченную чувствительность в случаях, когда интенсивностьфона превышает интенсивность анализируемого вещества.В предлагаемом устройстве, с целью и"ключсиия влияния фона на результаты измерений, два крайних коллектора приемникаионов, суммарная ширина щелей которыхравна ширине средней щели, электрическисоединены между собой и подключены навстречу центральному коллектору к дифференциальиому усилителю.Детектирование ионов осуществляется, таким образом, одновременно тремя коллекгорами, причем в цепи среднего коллектора создается ионный ток 2012 - Ур + 11,ф - ток фона;- измеряемый ионный ток,боковых коллекторов созки Уь и 1 з, обусловленньвьи других линий спектри этом соблюдается следующ1,+1,=1,. Влияние...

Источник ионов масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 369478

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Рафальсон, Шутоц, Ненарокомо, Мартынкевич

МПК: G01N 27/62, B01D 59/44

Метки: ионов, источник, масс-спектрометра

...под углом к оси камеры ионизации, а между катодом и подкатодной щелью установлена система отклонения электронного пучка, которая может быть выполнена электростатической или магнитной. 20При такой конструкции область горячего катода оказывается отделенной от области ионизации большим сопротивлением газовому потоку, и, таким образом, проникновение продуктов химических реакций на катоде в 25 область ионизации практически исключается,На фиг. 1 изображена принципиальная схема источника с отклоняющим электростатическим конденсатором; на фиг. 2 - схема источника с отклоняющим магнитным полем,Обе конструкции включают в себя катод 1, ускоряющий электрод 2, отклоняющую систему 3 и ионизационную камеру 4. Электроны, эмиттируемые катодом 1,...

Датчик трехмерного квадрупольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 433918

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Матвеев, Самодуров, Шеретов, Занский

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: масс-спектрометра, квадрупольного, трехмерного, датчик

...от использования электронных умножителей открытого типа и переходить на применение преобразовательного устройства с фотоэлектронным умножителем. При этом площадь входного окка фотоумножителя для увеличения чувствительности приходится увеличивать, что также приводит к увеличению габаритов датчика. С целью увеличения чувствительности,устойчивости работы датчика при повышенных давлениях и уменьшения его габаритовв предлагаемом датчике между выходным5 торцевым электродом и приемником ионоврасполагают систему соосных усеченных конусов, причем конус с наибольшим диаметромимеет выступ в сторону приемного устройства. Это обеспечивает фокусировку вторичных10 электронов к центру симметрии системы.Предлагаемый датчик изображен на чертеже,...

Источник ионов масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 433919

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Сшш, Кудров, Тальрозе, Додонов

МПК: B01D 59/44

Метки: ионов, источник, масс-спектрометра

...распределением потенциала в области ионизацин.Цель изобретения - увеличение чувствительности ионного источника.Это достигается тем, что в предлагаемом источнике ионов масс-спектрометра понизатор выполнен из шести сеток, помещаемых между анодом и катодом: двух центральных, расположенных под углом одна к другой и расходящихся в направлении движения ионов, двух экранирующих сеток, антидипатронной сетки и вытягивающей сетки.На чертеже показана схема источника ионов.Источник содержит катод 1 косвенного нагрева, первичный катод 2, вытягивающую сстку 3, экранирующую сето 4 со стороны като да, сетки 5 и 6, ограничивающие область ионизации и расположенные под углом относительно осп источника так, что расстояние 5 между ними увеличивается в...

Анализатор однопольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 456627

Опубликовано: 15.01.1975

Авторы: Тесленко, Соловьев, Багров

МПК: B01D 59/44

Метки: масс-спектрометра, анализатор, однопольного

...осуществляетссатора особой формы, на элподаются в определенномстоянное. и высокочастотное ширение динамиче например, путем и Целью изобрете динамического д 5 тока,Это достигается масс-спектрометре танавливают элект ванный от электр 10 рый подается пос величина которого тельно уголковогоского диапазона возможно, зменения тока эмиссии. ния является расширение иапазона регистрируемого На чертеже представлена конструкция пред лагаемого анализатора однопольного массспектрометра. Центральный электрод 1 и уголковый 2 расположены так, что между ними создается поле, имеющее в поперечном сечении конфигурацию гиперболического. Элек трод 3 расположен между входной диафрагмой и центральным электродом, в котором соосно с входной диафрагмой расположено...

Ионно-электронный преобразователь для масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 462601

Опубликовано: 05.03.1975

Авторы: Кукавадзе, Требуховский, Коняев

МПК: B01D 59/44

Метки: ионно-электронный, масс-спектрометра

...поэнергиям.Электрическая часть ИЭП включает в себя25 фотоумножитель 13 для регистрации фоновыхизлучений, световой диод 14 для проверки инастройки всего тракта, дискриминаторы, формирователи времени на туннельном диодеДФВ, - ДФВ 4, усилители У 1 - У 4, однокаЗ 0 нальные анализаторы амплитуды (ОА, - ОА,), 462601многоканальный анализатор амплитуды (МА), линию задержки на время т; быструю схему совпадения времени (БССВ); схему антисовпадений (САС); медленную схему совпадений (МСС); пересчетные схемы (ПС). На блок-схеме не показаны генератор для питания светового диода, высоковольтные стабилизаторы для ФЭУ и блок питания схемы.ИЭП работает следующим образом. Первичный пучок ионов, выходящий из анализатора масс-спекгрометра, попадает на...

Анализатор квадрупольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 469479

Опубликовано: 05.05.1975

Авторы: Акимов, Русин

МПК: B01D 59/44

Метки: масс-спектрометра, квадрупольного, анализатор

...установки электродов.Для этого в данном анализаторе на обоих концах каждого из электродов жестко укреплены втулки круглого сечения одинакового диаметра, выполненные из электроизоляционного материала. При этом наружные поверхности втулок соосны наружным поверхностям электродов, концы электродов установлены в двух цилиндрических обоймах таким образом, что поверхности каждой из втулок соседних электродов взаимно соприкасаются и касаются внутренней поверхности цилиндрической обоймы.Такая система крепления и электроизоляции электродов позволяет повысить точность их установки, так как все устройство содержит минимальное количество деталей, имеющих форму тел вращения, технология обра. ботки которых обеспечивает получение высо,кой точности....

Датчик квадрупольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 475685

Опубликовано: 30.06.1975

Авторы: Сергеев, Любимов

МПК: H01J 39/34

Метки: масс-спектрометра, датчик, квадрупольного

...предназначены для размеще;шя ионного источника и коллектора ионов.25 На внутренние гиперболические или цилинлрцческие поверхности желобов средней части колбы ца участках г - д, е - ж, з - и, к - л, (см, фпг, 4) любым способом, например напылением металла в вакууме, наносят электропропрозоляц;у;о пленку, имеющую прочную475685 20 юг.Р адгезию к стеклу (на фиг. 2 и 4 показана пунктиром). Эту пленку выводят также на донышко и переходное закругление большого цилиндрического раструба (фиг. 3), где к ней прижимаются четыре контактные пружинки 12, соединенные с выводами 1 - 4. Промежутки между цилиндрическими поверхностями (д-е, яс-з, и-к, л-г) не имеют проводящего слоя и служат изоляторами между электро- проводящими пленками. Таким образом...

Способ измерения нестабильности положения ионного луча в приемной щели масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 492294

Опубликовано: 25.11.1975

Автор: Прилуцкий

МПК: B01D 59/44

Метки: нестабильности, луча, масс-спектрометра, щели, ионного, положения, приемной

...комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, гКРаушская набд. 4/5ППП Патент" Москва, Г, ерекковская наб., 4 5Я Ъм - значения тока электромагнита, соответствующие установке в приемную цепь лучейионов с иассовыии чисдаииМ и М 2.При наличии автоматической развертки по спектру иасс с помощью изиенения одного иэ управляющих подожениеи пуча параметров тока эдектромагыита напряженности магнитного поля) ипи ускоряющего напряжения на денте самописца регис трируется спектр иасс.Выполнение всех описанных выше операций в данн ои случае упрощается в связи с тем, что изменение управляющего параметра однозначно связано с движением ленты саионисца, на которой одновременно зарегистрированы колебания интенсивности...

Устройство для стабилизации напряжений на стержнях квадрапульного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 543864

Опубликовано: 25.01.1977

Авторы: Слободенюк, Воронин, Борисов

МПК: G01N 27/62

Метки: стержнях, напряжений, квадрапульного, стабилизации, масс-спектрометра

...илиизменяться во времени под действием сигнала, поступающего на управляющий вход генератора 1 с выхода усилителя 2, Напряжение от источника управляющего напряжения 7через дифференциальный усилитель 3 управляет выходными напряжениями управляемогоисточника постоянного напряжения 6, возникающих на идентичных друг другу нагрузочных сопротивлениях 8 и 9, Полученные,таким образом, выходные напряжения+Ги "0через развязывающие цепи (например в, ч,дроссели 10) поданы на соответствующиепары стержней квадрупольного масс:пектрометра. Они образуют вместе с выходныминапряжениями генератора 1+ Ч Сова 1на стержнях КМ напряжения вида:(+О+ЧСо 8 юй)и(-0-ЧьоваЦ относительно корпуса прибора. ф 0 Разность напряжений с выхода источникауправляющего...

Датчик рехмерного квадрупольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 589573

Опубликовано: 25.01.1978

Авторы: Сафонов, Шеретов, Зенкин, Краснощеков

МПК: G01N 27/62

Метки: квадрупольного, рехмерного, масс-спектрометра, датчик

...(1)где ф (Х, У, 2. ) - потенциал в точке(Х, У, Е ), отнесенныйк потенциалув центре датчика,Постоянные 1 сСх , о, и с. связаны соотношениемвытекающим из уравнения Лапласао(. + с 4 + А О(2Выражение (1) является общим для всехквадрупольных систем, Так, при сА0соотношений (1) описывает распределениепотенциала в датчике квадрупольного фильтра масс, при сСо, - в датчике трехмерного квадрупольного масс-спектрометра,электродная система которого выполненалв виде гиперболоидов вращения. Для предлагаемого датчиках Уф х фоВ соответствии с выражениями (1) и(3) уравнение движения по координатамХ, У, Е различны и, следовательно,различно положение рабочих точек на диаграмме стабильности для одной и той же, частицы и различны амплитуды ее...

Устройство для введения газа в анализатор масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 672557

Опубликовано: 05.07.1979

Авторы: Пудов, Сурков, Иванова

МПК: G01N 27/62

Метки: масс-спектрометра, газа, введения, анализатор

...диаметре пор 0,3-3 мк, аотношение диаметра капилляра вяэкостного натекателя к .его длине10-4 10 ЪС целью расширения диапазона измеряемых давлений устройство содержитнесколько одинаковых систем, содержащих укаэанные натекатели, Натека"тели и капилляры рассчитываются таким образом, чтобы при давленияхв анализируемом газе от несколькихмиллиметров до десятков атмосферобеспечивался молекулярный режимтечения газа на всех иатекателях,эа исключением первого, где приб наших давлениях существует "молекулярно-вяэкостный режим, и вязкостный э капиллярах, сообщающих трубопровод с вакуумированиыми объемами,Поскольку при молекулярном натекании количество проходящего газай пропорционально давлению Р на входе в натекатель, а при визкостном -...

Магнитный анализатор масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 672672

Опубликовано: 05.07.1979

Авторы: Кузьмин, Малеев, Цымберов, Либман

МПК: H01J 39/40

Метки: масс-спектрометра, анализатор, магнитный

...напряженностей магнитного поля в пределах рабочей ионной траектории, Требуемаяпараллельность в данном случае достигается точностью изготовления деталей магнита и правиль.б 72672между торцами подвижной и неподвижной частей ь. диполя, незначительно увеличивает магнитные поь терн устройства. Расчет и эксйериментальиые исследования возможных влияний магнитных по.терь в зазоре М показали, что величина потерьявляется несущественной и влияния иа топогра го, фию магнитного поля в рабочем зазоре не ока. б- зывает.Испытания показали, что с помощью регули 1 о ровки можно получить требуемую по расчету однородность магнитного поля, соответствующуюзаданной разрешающей способности масс-спектрометра в поле магнита,иПостоянныи магнит для...

“датчик трехмерного квадрупольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 694916

Опубликовано: 30.10.1979

Авторы: Сафонов, Шеретов

МПК: H01J 39/36

Метки: трехмерного, масс-спектрометра, квадрупольного, датчик

...одинакоповерхностные заряды, что обеспечи(4) В сст цац 1 спьшис искажснц 51 силОВых л 11- ) цй вцугрц дат чика.1 аспрсдслсние потенциала иутри датчика загпсывается в виде (2),,( у =.) -+ах+,у+ (2)где аа а, а, - постоянные коэффициенты,Поверхностный заряд в таком поле наповерхности 5 определяется интегралом 1 О(") - (". ( ("),5 (3)25,УРгде интегрирование ведется цо х и г.Учцтывая оэффцциснты аа а, а, в .0)Выражении (2), цо формуле (3) можноЦайтн ПОВСРХЦОСтЦЫй ЗаРЯД Ог(, СОСРЕДОтОчснный ца кольцевом электроде, и поверхностный заряд асосрсдотогСнный наторцовы: электродах,20Учитывая, что а, = О можно получитьуравнение (1), связывающее между собойуровни ограничения кольцевого и торцовыхэлектродов.Обозначения в уравнении (1)...

Способ юстировки магнитного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 858148

Опубликовано: 23.08.1981

Автор: Саченко

МПК: H01J 49/30

Метки: магнитного, масс-спектрометра, юстировки

...щелей источника и детектора ионов. В денном способе осуществляют поворот магнита вокруг оси. Однако это не исключает необкодимости в передвижении источника и детектора, поэтому применяются совместно с юстировочными перемещениями последник, вследствие чего эти способы обладают указанными недостатками, связанными со сложностью конструктивного обеспечениями 23.( ц) ) ( ) ,ют поворот н параллельное смещенне эффек- Ь н асасХ 1 ги ат -1 тЬВ)стсВ, тиаиыи расин магнитного попа согпасио (Ф 9 Ж формулам т / СсЧ нхси -ссиФормул а обретения пособ юстировки магнитного массра с магнитными экранами, на совмещении объекта и я с плоскостями щелей источектора ионов, о т л и ч а ютем, что, с целью упрощения юстнровки и расширения ее тей, фиксируют...

Коллекторное устройство масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 894819

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Дешкевич, Фомин

МПК: H01J 49/26

Метки: коллекторное, масс-спектрометра

...и два дополнительных, расположенных перед ним и образующихприемную щель, меньшую, чем входная,введено два элемента, обладающихэлектрострикционнымн свойствами, каждый иэ которых электрически и механически жестко соединен с одним издополнительных коллекторов, например,пьезокристаллами,Пьезокристаллы выбраны и установлены таким образом, чтобы прикладываемое к ним электрическое поле уменьшало их геометрические размеры в направленни поперек приемной щели коллекторного устройства. 25На фиг, 1 изображен вид предлагаемого коллекторного устройства со стороны ионного луча; на фиг. 2 - егоразрез по линии А-А.Коллекторное устройство имеетвходную диафрагму со щелью 1, два дополнительных. коллектора 2 и З,электрически н механически...

Датчик гиперболоидного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 951477

Опубликовано: 15.08.1982

Авторы: Гуров, Шеретов

МПК: H01J 49/42

Метки: гиперболоидного, датчик, масс-спектрометра

...что эффективность ввода и захвата заряженных частиц полем резко возрастает с увеличением начального радиуса ввода для одной и5 95 той же ширины входной щели и зависит от энергии вводимых частиц (фиг, 5, кривые А, Б, В). Располагая на периферии входного торцового электрода узкую кольцевую щель ширинойЬР, :0,(б, ГАЕ ДК=Ь д,и средним радиусом 1477вода достигает своего максимального значения именно в этой точке. Если теперь в выходном торцовом электроде прорезать узкую кольцевую щель дК Вых (фиг, 7). шириной М ых =ОО=ОУ ГДЕ К=).ба,Омы получим,что коэффициент захватав 10 раз выше, чем для случая приосевого ввода ионного потока через кольцевую щель такой же ширины, 5Рассмотрим режим вывода отсортированных ионов иэ датчика при...

Способ калибровки медицинского масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 983828

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Пушкина, Слуцкий

МПК: H01J 49/26

Метки: калибровки, масс-спектрометра, медицинского

...образцовой газовой смесиатмосферного воздуха, калибровку по СО 1 Опроводят по альвеолярному воздуху, причемчувствительность по СО устанавливаютиз условия постоянства суммы концентрации (парциальных давлений) всех газов навдохе и выходе. 15В основу способа положена неизменностьсуммы концентраций (парциальных давлений) всех газовых компонентов в процессе дыхания вследствие постоянства суммарного давления. При дыхательном коэффициенте, равном единице, изменение концентрации СО равно изменению концентрации 02,и концентрации остальных газовых компонентов остаются неизменнымиот входа и выходу. При отклонении этого 25коэффициента от единицы концентрацииостальных газовых компонентов меняютсяв ту или другую сторону на величину раэницы между...

Датчик квадрупольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 989614

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Шеретов, Бехарский, Сафонов, Савин, Колотилин, Вайсберг, Захарченко

МПК: H01J 49/42

Метки: масс-спектрометра, квадрупольного, датчик

...управлением (ЧПУ). При этом и ги0896 решение позэлектродов с-спектромет шить ошибку 4 к увеличен чувствищийся тем, разрешающей сп ности, электрод чика выполнен с верхности, пара ким плоскостям ной системы,формула обретен Датчик квадр метра, содержаши электрод, выполи пербопического тво СССР./62, 1972 1,щютотип) в,3перболическая поверхность, и плоскость электродов должны выполняться по одной программе, что гарантирует точное взаим ное расположение посадочных и рабочих поверхностей. Применение станков с ЧПУ дает также высокую идентичность всех электродов в датчике, что особенно важ но при сборке датчика.На чертеже показана электродная сис тема монопольного масо-спектрометра. 1 ОСхема содержит полеобразуюшие элект. роды 1 и 2,...

Система питания электродов анализатора масс-спектрометра с гиперболическим полем

Загрузка...

Номер патента: 995157

Опубликовано: 07.02.1983

Авторы: Изергин, Алпатьев, Дубинский, Крупский

МПК: H01J 49/42

Метки: гиперболическим, масс-спектрометра, анализатора, питания, электродов, полем

...в три раза, следовательно, диапазон массовых чисел также уменьшается в три раза. Цель изобретения - увеличение диапазона массовых чисел исследуемых элементов при неизменной мощности источника питания,Поставленная цель достигается тем, что система питания электродов анализатора масс-спектрометра с гиперболическим полем, содержащая резонансный контур с катушкой индуктивности, соединительный кабель и источник питания, содержит в резонансном контуре дополнительную катушку индуктивности, расположенную в непосредственной близости от электродов анализатора, при этом соединительный кабель включен между катушками индуктивности. На чертеже представлена схема системы питания электродов анализатора монопольного масс-спектрометра с гиперболическим...

Устройство стабилизации напряжения пробоя в искровом источнике масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 1043763

Опубликовано: 23.09.1983

Авторы: Журавлев, Рамендик, Трофимов, Держиев

МПК: H01J 49/26

Метки: источнике, стабилизации, искровом, пробоя, масс-спектрометра

...ионов, а один из входов исполнительного механизма 35 соединен также с выходом управления бпока зациты от. короткого замыкания электродов искрового источника ионов 3 3.Однако это устройство имеет малую 4 О помехозацищенность и сложность наладки, а использование амплитудного детектора в качестве датчика числа пробоев не позволяет надежно отли,чить единичный пробой от его отсут.- ствия, поэтому работа устройства воз,можна только при больших амплитудах радиоимпульса.Целью изобретения является расширение диапазона амплитуд радио- импульса, обеспечиваюцее возможность 50 работы при одном пробое в импульсе,. повышение устойчивости регулировання и упроцение настройки.Поставленная цель достигается тем, что устройство стабилизации на пряжения...

Способ юстировки масс-спектрометра с двойной фокусировкой

Загрузка...

Номер патента: 1051618

Опубликовано: 30.10.1983

Авторы: Борискин, Брюханов, Лаптев, Еременко, Быковский

МПК: H01J 49/28

Метки: фокусировкой, двойной, юстировки, масс-спектрометра

...масс-,спектрометра.Таким образом, преломление траектории ионного пучка на границахэлектрического поля накладывает еЩеболее жесткие требования к механи;ческой юстировке всей ионна-оптической схемы, так как отклонение точки 10ввода ионного пучка от оптимальнойприведет к нарушению условий фокусировки уже в первом приближении.Экспериментальная проверка теориипоказала, что при изменении потенциала на центральной траекторииэлектростатического анализатора припроизвольном вводе ионного пучка вэлектрическое поле наблюдается лиФнейное смещение масс-спектра вдольфокальной плоскости магнитного анализатора со значительным падениемразрешения прибора (в 2-3 раза).Было установлено также, что одс новременно с изменением. аберрацийпри изменении 0 О...