Патенты с меткой «ионов»

Страница 21

Способ анализа ионов и продуктов их нейтрализации

Загрузка...

Номер патента: 1426344

Опубликовано: 30.04.1992

Автор: Лазарев

МПК: H01J 49/00

Метки: нейтрализации, ионов, анализа, продуктов

...можно не измерять поток (ток) частиц и воспользоваться тем, что ч" -0, и для выделения группы возбужденньх частиц построить зависимость Юс 0),где 0 - максимальное для данной группы почернение фотопластины. Для возбужденных частиц 60 будет больше при любых значениях О.В данном слуае в качестве калиб роночной исполь оналась группа ионов, входящая н тот же энергетическийФспектр, что и исследуемая группа.На фиг, 1 представлена зависимость оптической плотности почернения фотопластины 0 от времени экспозиции Т для различных потоков частиц; соотнетстнующих потокам пяти1 групп масс-энергетического спектра отрицательных ионов водорода, иэвле" ченных из газоразрядной плазмьц на фиг. 2 - энергетический спектр Н при времени экспозиции й...

Способ удаления ионов тяжелых металлов из сточных вод

Загрузка...

Номер патента: 1730048

Опубликовано: 30.04.1992

Авторы: Пилат, Якунин, Галимжанов, Кочнева, Безнедельная

МПК: C02F 1/62

Метки: металлов, тяжелых, сточных, вод, удаления, ионов

...в таб.Ы О ;Оф и оса жде ных вопроизв ГОСУДАРСТВЕННЫЙ. КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(71) Государственный научно-исстельский и проектный институт по онию руд цветных металлов "Казмех(54) СПОСОБ УДАЛЕНИЯ ИОНОВЛЫХ МЕТАЛЛОВ ИЗ СТОЧНЫХ ВО(57) Изобретение относится к очистных вод сорбцией и может быть исп Изобретение относится к очистке сточных вод и технологических растворов сорбцией и может быть использовано на предприятиях металлургических и химической промышленности,Цель изобретения - повышение степени удаления растворенных тяжелых цветных металлов из сточных вод.Для удаления растворенных тяжелых цветных металлов из сточной воды в качестве адсорбента используют клинкер цинкового производства следующего состава,...

Сшитый серусодержащий сополимер в качестве сорбента ионов кобальта (+2) и никеля (+2)

Загрузка...

Номер патента: 1730092

Опубликовано: 30.04.1992

Авторы: Шарипов, Продиус, Тастанов, Ергожин

МПК: B01J 20/26, C08F 212/14, C08F 8/36 ...

Метки: сополимер, ионов, сорбента, качестве, сшитый, серусодержащий, кобальта, никеля

...е4 45 14,65 28,01Вычислено 53,00келя, а наличие в молекуле диаллильного Найдено 5,Н 54 01 471 12 ЗЗ 29 00соединения двух аром тароматических колец - по СОЕс 0+2=550 мг/г, СОЕщ+2=570 мг/г.высить проницаемость пололимерной матри- Скорость установления сорбционного равцы. Применение в качестве сшивающего новесия 10 ч,агента диаллилового эфира диоксидифенил- П р и м е р 4. Все операции проводятф гидрофильность пол- аналогично примеру 1, используя сополиатрицы набухаемость 20 мер состава, мас.%: стирол 70 Д -сополимера и способствует реализации ЭДФС 10,температурареакции 80 С,времявсех функциональных групп в процессе об ч. Получают сополимер состава, мол, %;мена. т. С руктура и состав сополимера под- п=б 8,66; гл=28,25; 1=3, 9,е жание,С Н...

Способ получения отрицательных ионов

Загрузка...

Номер патента: 1044187

Опубликовано: 07.05.1992

Автор: Лазарев

МПК: H01J 27/02, H01J 27/24

Метки: ионов, отрицательных

...изобретениям и .открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул. Гагарина,101 3шение количества атомов исходного ве" щества к количеству молекул вЬлизи экстрагирующего отверстия .увеличивается, что приводит к,увеличению коли" чества оЬразующихся отрицательных ионов в указанной области.Предложенный способ экспериментально опробован, при этом анализ отрицательных ионов по массе и энергии был .проведен с помощью масс"спектрографа с одинарной фокусировкой, В газоразрядном источнике отрицательных ионов ипа уноплазмотрон, анод с эмиссионным отверстием был выполнен из вольфрамовой пластинки толщиной 0,05 мм, которая нагревалась разрядом за счет электронов, ускоренных...

Способ получения отрицательных ионов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1107707

Опубликовано: 07.05.1992

Автор: Лазарев

МПК: H01J 27/02

Метки: ионов, отрицательных

...Электрический поляризатор частиц как элементщо устройства содержит пространство, образованное зазором между электродами1 и 2, причем объем и Форма указанного пространства, определяемого Формойэлектродов 1 и 2, а так же расстояни-ем между ними, обусловлены электрической прочностью исходного веществаи его состоянием,Во всех вариантах выполнения уст. ройства электрод 1 поляризатора слу 1107707экпт одновременно и стенкой камеры, ргзделяюдпед камеру с исходным веществом от каеерь ускарепця Отрицательных доно 3, однако поляризатор может быть Выполнен как Отдельный узел конструкГггц д уСТЯНОБПЕ ГЕК э ЧТО ОТВРрСТИЕ ЦЫХОДа атРЦтатЕЛЕНЬХ ПаГОП и ЭЛЕКТРОСЕ ПапяЭЗПТ 01 а бЫПО СООСПЫМ С ОТ- цсцэстде. с."баэ ОрцЦЯтРлееых пацан5 Едаспи и стедке...

Способ получения отрицательных ионов

Загрузка...

Номер патента: 1067972

Опубликовано: 07.05.1992

Автор: Лазарев

МПК: H01J 27/00

Метки: отрицательных, ионов

...атом присоединяетдополнительный электрон, который иобуславливает отрицателъееый заряд от -рицательцого иона исходного вещества.При преобразовании положительногоиона в отрицательный ион необходимопо крайней мере два электрона, одиниз которьгх необходим для рекомбинации, полохпетельного иона, а другойдля образования отрицательного иона. ОПричем в момент рекомбинации иона образуется возбужденный атом, которьпезахватывает второй электрон, если образованньпе при этом отрицательныйион будет находиться в возбужденном ,цквазистациоцарном состоянии с энер гией возбуждения, равной одному извозможных энергетических уровней возбуждения, Поскольку указанный процесспроисходит при вполне определенныхуровнях энергии возбуждения атома,которые...

Искровой источник ионов

Загрузка...

Номер патента: 957674

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Рамендик, Гречишников, Васюта, Держиев, Иванова

МПК: H01J 27/02

Метки: ионов, искровой, источник

...0 до 500 Гц подаетсячерез конденсаторы 5 и б и согласую 1 О щие сопротивления 7 и 8 на электроды.1 и 2. Изменяя величину согласующихсопротивлений 7 и 8, регулируют амплитуду тока в диапазоне 0,1-100 А,таккакИа15 Макс а "+пл При включении конденсатора С вразрядный контур мощность, выделяющаяся в разрядном контуре, составСЦляет Е- что приводит к обще"Р 2му снижению. выделяемой в разрядномконтуре энергии в отношении С/Со.Одновременно и уменьшается длительность искрового разряда в отношенииС/Со. Таким образом, при использовании конденсатора С в разряднойцепи можно регулировать энергию,выделяющуюся в разрядном контуре,в диапазоне 2,5 10 ф -2,5 10 Дж,а длительность разряда 0,1-3 мкс.Недостатком известного источникаионов является отсутствие...

Состав мембраны ионоселективного электрода для определения активности ионов свинца

Загрузка...

Номер патента: 1733994

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Михельсон, Дидина, Кошмина, Митник

МПК: G01N 27/333

Метки: электрода, состав, ионоселективного, ионов, мембраны, свинца, активности

...п+, 10-кратные избытки ионов Нд,пройзводной гидроксамовой кислоты ниже 2 приводит к снижению селективности в присутствии посторонних ионов, к плохой воспроизводимости потенциалов электродов, увеличению электрического сопротив , ления. Увеличение содержания свыше 30 не улучшает электродных свойств.Дифенилметил-Й-фенил-гидроксамовая кислота в ионометрии ни в каком качестве не применялась. Как вещество, проявляю щее селективность к ионам свинца, она интересна тем, что, в. отличие от других свинецселективных ионообменников ДФМФГК, не содержит атомов серы, чем и обусловлено малое влияние ионов металлов сероводород ной группы (Ад, Нд, СО ) нд сВинцоВую функцию электрода.П р и м е р, Пленочную мембрану готовят растворением навески ПВХ в...

Искровой источник ионов

Загрузка...

Номер патента: 550053

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Гущин, Рамендик, Чупахин, Держиев

МПК: H01J 49/18

Метки: источник, искровой, ионов

...энергети"ческого распределения. Поэтому искравые источники ионов применяются толь.ко в сочетании с масс"спектрометра"ми с двойной фокусировкой, котораяимеет следующие недостатки; снижениеинтенсивности ионного тока из-замалого коэффициента использования550053ток конденсатора 5. Этот ток заряжает конденсатор 6, тем самым прекращая разряд, когда потенциалы наэлектродах выравниваются.Длительность разряда при этомуменьшается, Если емкость конденса"тора 6 равна 1.ф 10- Ф, Т 5"1 О 8 с,При этом энергетический разбросснижается до И 50 эв,Энергетицеский разброс ионов можно оценить по формулеЯ 112и = - -- (т)2 шд з 1 где у 1 11 оЭуионов (из 5 10ионов, полученных подобным способом, только один доходит до приемника ионов), громоздкост сложность,...

Способ получения отрицательных ионов

Загрузка...

Номер патента: 1421174

Опубликовано: 23.05.1992

Автор: Лазарев

МПК: H01J 27/00

Метки: отрицательных, ионов

...положительнымиионами и нейтралами. Группа Н , соответствующая лику .13, не изменяет своего положения в спектре в зависи- . мости-от изменения напряжения Б что указывает па та, чта эта группа образуется у поверхности электрода 6,з 142117по-видимому, в результате десорбцииили отражения нейтралов в виде НВ отличие от групп Н , соответствующих пикам 14 и 15; энергия которыхувеличивается с увеличением напряжения 01, энергия группы Н , соответствующей пику 16, уменьшается с увеличением напряжения 01 между электро"дами 5 и 6, что указывает на торможение группы положительных ионов в. электрическом поле между электрода ми 6 и 9 и образование отрицательныхионов,Таким образом, в ускоряющем дляэлектронов и отрицательных ионов иодновременно...

Устройство для удаления ионов загрязнения с поверхности полупроводниковых структур

Загрузка...

Номер патента: 1623498

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Северцев, Микертумянц, Журавлев, Сазонов

МПК: H01L 21/306

Метки: структур, поверхности, ионов, полупроводниковых, загрязнения, удаления

...предварительно заменив катионоселективные мембраны анионоселективными и осуществив переплюсовку, т. е. приложив к структуре отрицательный потенциал, а на электроды - положительный.В устройстве достигается значительная экономия воды эа счет того, что один и тот же объем деионизованной воды можно использовать многократно при сохранениивысокого качества очистки полупроводниковой структуры, так как ионы загрязнения в процессе очистки непрерывно выводятся из отмывочного раствора и его чистота в процессе очистки не ухудшается,Одновременно в устройстве обеспечивается и экономия электроэнергии, так как наличие мембраны между электродами позволяет приблизить их друг к другу. Воэможность уменьшить расстояние между электродами в устройстве...

Способ получения биосорбента ионов радиоактивных веществ

Загрузка...

Номер патента: 1738327

Опубликовано: 07.06.1992

Авторы: Шубко, Когтев, Архипова, Величко, Трухляев, Лисин

МПК: B01J 20/22, C01F 11/00

Метки: ионов, веществ, радиоактивных, биосорбента

...кислот, связанных с активными центрами сорбции ионов металлов водородными и ионными связями, Обработка горячей водой приводит к эффективному удалению из биомасс моно-, ди-, олиго-полисахаридов, ассоции 20 25 51015 30 35 40 45 50 55 рованных с хитин-глюкановым комплексом в клеточной стенке мицелия, Таким образом, при обработке биомасс достигается активация фосфодиэфирных, фосфатных, карбоксильных и аминных групп в центрах сорбции ионов металлов и радиоактивных элементов,П р и м е р 1. Биомассу продуцента - Азрегдйцз йесегоаогрпоз Вабзса ет Маа ВКМГобрабатывают 4-кратным объемом цитрат-фосфатного буфера с рН 3,5 в течение 3 ч при 25 оС, Твердый остаток отделяют фильтрацией и обрабатывают 4-кратным объемом цитрат-фосфатного...

Способ обработки сточных вод от ионов тяжелых металлов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1740325

Опубликовано: 15.06.1992

Авторы: Безверхова, Глушков, Фомичев, Большаков

МПК: C02F 1/46

Метки: сточных, ионов, металлов, тяжелых, вод

...а фильтр соединен с источником сточных вод трубопроводом, в котором установлен узел газонасыщения.На чертеже представлена схема устройства.Установка содержит последовательно установленные источник 1 сточных вод, насос 2, электрокоагулятор 3, флотатор 4, фильтр 5, электролизер б с катодной 7 и анодной 8 камерами, причем катодная камера 7 соединена с флотатором 4, а анодная 8 - с отводом на сброс в отстойник 9. Между фильтром 5 и электролизером б установлен насос-дозатор 10 с водомерным устройством 11. Фильтр 5 соединен с источником 1 сточных вод трубопроводом 12, в котором установлен узел 13 газонасыщения.Сточная вода, содержащая ионы тяжелых металлов, поступает в источник 1 сточных вод, откуда насосом 2 подается на очистку в...

Способ очистки сточных вод от ионов тяжелых металлов

Загрузка...

Номер патента: 1742216

Опубликовано: 23.06.1992

Авторы: Бабинец, Костик, Силкин, Скрылев, Бельдий, Чурилов

МПК: C02F 1/24

Метки: сточных, металлов, вод, ионов, тяжелых

...С 14-Сг 6; однородная светло-коричневая паста; удельный вес (при 18 С) 1,0690 - 1,075 г/см;.растворим в воде; критическая концентрация мицеллообразования, определенная по методу Ребиндера, составляет 0,03 мг/л; состав, мас,0 .Омыленный рыбий жир 80-85 Едкая щелочь 10-15 Хлорид натрия 4-6 Серией лабораторных опытов определена оптимальная концентрация раствора флотореагента (2-30 -ный водный раствор), используемого в процессе очистки сточных вод. Установлено, что рабочие растворы флотационного агента при меньшем количестве основного вещества не содержат мицелл и поэтому малоэффективны при извлечении частиц гидроксидов тяжелых металлов, а при большем - образуются студни, что также отрицательно сказывается на результатах флотации,П р и...

Установка для очистки воды от ионов тяжелых металлов

Загрузка...

Номер патента: 1745692

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Седько, Сокольник, Головинский, Кизым, Глушко, Чабаненко, Вайло

МПК: C02F 1/463

Метки: воды, тяжелых, ионов, металлов

...цилиндрической формы 1 и через перфорированное 20 днище поступают в анодную.7 и катодную 8 камеры, отделенные одно от другого диафрагмой 6, В катодной камере 8 очищаемая вода подщелачивается, в анодной 7, проходя через насыпной анод 2, выполненный в виде перфорированного диэлектрического цилиндра 3 с железной стружкой 4, подкисляется и обогащается ионзмй 1 е+Вследствие разделения электрокоагулятора на анодную и катодную камеры диафрагмой в объеме стружечного анода 30 гидроокиси железа не образуется, что предотвращает его зашламление продуктами электролиза и очистки. По мере растворения используются поршень 5 иэ анодно-нерастворимого материала, соединенный е положительнйм полюсам. Применение поршня улучшает догружать...

Способ определения дозы имплантированных ионов на поверхности полупроводника

Загрузка...

Номер патента: 1602291

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Винценц, Миргородский, Халилов

МПК: H01L 21/66

Метки: имплантированных, полупроводника, дозы, поверхности, ионов

...оптическогои луч:.ния 3, систему зеркал 4,5,6,линзы 7 и 8, позиционно-чувствительньвт д 1 отоприемник 9, интегратор 10,днухкоординатный самописец 11 и исследуемый образец 12,Исследуемые образцы представлялисобой пластины СаЛз толщиной 4=250 мкм,выращенные по методу Чохральского,с имплантированными в них ионами 81 ф .Энергия ионов при имплантации поверхности (100) составляла 80 кэВ. Длинуволны 9 е = 1,06 мкм выбирали такимобразом, чтобы энергия квантов Ь 11, 17 эВ была меньше ширины запрещенной зоны Г СаАз (Е = 1,43 эВ) и со"2 Еответствовала условию - с Ь 1 с Е,3/В качестве источника возбуждающе- л 0 го оптического излучения 1 использовали лазер ОТИна алюмоиттриевомлгранате с длительностью ьсветовых импульсов 10с и частотой4...

Способ определения энергетического спектра пучка ионов

Загрузка...

Номер патента: 1679878

Опубликовано: 23.07.1992

Автор: Артемов

МПК: G01T 1/29

Метки: ионов, спектра, энергетического, пучка

...на пролетной базе нейт" ральных частиц за пределами канала транспортировки пучка ионов, и магнит" ный анализатор 3 электронов Фотоиони" зации. Расстояние между мишенями 1 и 2 выбирают из условия пренебрежимого воздействия внешних электромагнитных полей канала транспортировки пучка ионов (например, магнитное поле на участке поворота ионов) на электроны фотоионизации, В качестве мишени 1 используют тонкие и узкие пленочные мишени различных типов, пересекающие часть пучка ионов, либо пространственно-локализованные газовые мишени, эффективно преобразующие часть пучка ионов в нейтральные частицы с представляющими интерес квантовыми состояниями.6 ЕР ЬЫи2е Еи 35 где Ип, ш - масса покоя нейтральнойчастицы и электрона соответственно;и -...

Способ очистки сточных вод от ионов тяжелых металлов

Загрузка...

Номер патента: 1749182

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Влад, Ковалева, Ковалев, Иванов

МПК: C02F 1/62

Метки: сточных, тяжелых, вод, металлов, ионов

...5 стальную сетку с величиной ячейки 0,5-2 мм с нанесением на нее В - Со - Р сплавом, получаемым путем его хймического осаждения иэ гипофосфитных растворов с последующим алитированием и выщелачиванием. 10П р и м е р. В сточные воды, соуержащие, мг/л; ионы й 1+ 50; Со - 23; Уп 17; Сг (Ч) 8; рНисх 5, вводят раствор ронгалита в соотношении 2:1 к общей сумме ионов тяжелых металлов и пропускают через цилин дрический стеклянный реактор в виде трубы, заполненной металлической сеткой с нанесенным на нее каталитическйм слоем. Каталитический слой наносятиз раствора химического никелирования, содержащего, 20 г/д:Нйкель хлористый 20 Кобальт сернокислцй . 10 Уксуснокислый натрий 10 Гипофосфит натрия 20 25 Площадь нагрузки: объем раствора 2:1; т 85 -...

Способ определения количества ионов аммония в растворе

Загрузка...

Номер патента: 1752766

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Данилов, Бокша

МПК: C12N 9/02

Метки: аммония, количества, ионов, растворе

...на жидкостном сцинтилляционном спектрофотометре интегрального свечения смеси, который целесообразно взять эа прототип.Недостатками известного способа являются длительность, недостаточная чувствительность, узкий диапазон измерений и неэкономичность.Целью изобретения является ускорение, повышение чувствительности, расширение границ измерений и достижение экономичности способа.Способ заключается в том, что готовят смесь следующего состава (мас.7 ь): ФМ1752766 Время анализа Способ Пороговая чувствительность к аммиаку, пределы измерения, мас. Известный П е ложенный5 мин30 с 8,5 10 -32,0 103,410-1,010Составитель И,Бокша Техред М.Моргентал Корректор О.Юрковецкая Редактор В,Петраш Заказ 2734 . Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по...

Способ качественного определения ионов серебра

Загрузка...

Номер патента: 1755135

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Муравьева, Зименковский, Музыченко, Муратова, Мынка

МПК: G01N 21/78

Метки: качественного, серебра, ионов

...Ан, Рб, РЬ, СнЦель изобретения - повышение селективности и чувствительности способа.Поставленная цель достигается тем, что 10 в способе качествеййого определения ионов серебра с применением органических реагентов согласно изобретению, в качестве реагента используют спиртовый раствора 3-этоксикарбонилметил-(и-диэ тиламинофенилимино) роданина концентрации 10 - 10 мол ь/л.Существенное отличие предлагаемого способа состоит в том, что при взаимодействии ионов серебра и 3-этоксикарбонилметил-(и-диэтиламинофенилимино)-роданина образуется растворимое комплексноесоединение, окрашенное в ярко-синий цвет, для образования которого не требуется подвишневые блестящие кристаллы. Выход 1,2г(26%), Тп =80 - 83 С.Элементный анализ, вычислено, %; й -11,1;...

Масс-спектрометр с одновременным анализом отрицательных и положительных ионов

Загрузка...

Номер патента: 1755333

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Коненков, Толстогузов

МПК: H01J 49/42

Метки: анализом, ионов, одновременным, положительных, отрицательных, масс-спектрометр

...режиме уско 15 20 25 40 рождения иона. В этом случае через энергетический фильтр 2 пройдет основная масса 50 падение первичного пучка 10 ионовна образец 3 и осуществить сбор вторичных ионов по нормали к образцу 3, что повышает эффективность и локальность сбора вторичных ионов,На вь 1 ходэх квадрупольного энергетического фильтра 2 устанавливают иммерсионные доухэлементные линзы 4 с рения вторичных ионов. Укаэанные линзы 4 служат для фокусировки вторичных ионов на входную диафрагму диаметром0,58, где Во - радиус окружности, вписанной между вершинами электродов КФМ. После линзы 4 следуют коадрупольные фильтры б масс. На выходах КФМ устанавливаются выходные диафрагмы 7 диаметром и детекторы 8 и 9 ионов для детектирования и регистрации...

“способ получения железосодержащего реагента “ковиол” для очистки сточных вод от ионов тяжелых металлов и устройство “элеферр” для его осуществления”

Загрузка...

Номер патента: 1756282

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Ковалева, Ковалев

МПК: C02F 1/46

Метки: железосодержащего, тяжелых, ковиол, вод, металлов, сточных, элеферр, реагента, ионов

...сталь, в связи с этим образующийся осадок слабо сцеплен с основой катодной поверхности, За счет смачивания этой поверхности раствором органических веществ второй фазы при вращении барабана сцепление еще более снижается, однако это позволяет снизить дисперсность осадка и улучшить его реагентные характеристики,Магнитная сферическая загрузка 17 помещена внутри вращающегося барабана, но перемещается так, что постоянно остается в нижней его части. Ее наличие создает палиградиентное магнитное поле, что обеспечивает улучшенные условия формирования дисперсного осадка, интенсифицирует электрахимический процесса катоднага восстановлений металлического железа, а также способствует удержанию ферромагнитных частиц железа в магнитном поле...

Способ очистки сточных вод от ионов тяжелых металлов

Загрузка...

Номер патента: 1756284

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Анфиногенов, Рода, Топкин

МПК: C02F 1/62

Метки: ионов, сточных, вод, тяжелых, металлов

...соли Ге(11), например сульфата Ге(И), в количестве 130- 150 мг/л (в пересчете на ион.Ге), Через 15 - 30 мин отделяют магнитно-адсорбционный осадок и направляют на очистку следующих порций .СВ, а надосадочную жидкос 1 ь осветляют посредством магнитного фильтрования, П р и м е р. Очистке подвергают 1 л модельного раствора, содержащего ИТМ в количестве 25 мг/л Сг(И) и 75 мг/л 2 п, Вводят в раствор 100 мг гидроксида Ге(11) и гидроксид йа в количестве, обеспечивающем значение рН 10,2. Через 15 мин выдержки раствора концентрация ионов Сг в надосадочной жидкости составляет 7,0 мг/л, Отработанный осадок отделяютдекантированием, а в надосадочную жидкость вводят раствор соли Ге(1) в количестве 150 мг. Через 20 мин отделяют 10 декантированием...

Линейный резонансный ускоритель ионов

Загрузка...

Номер патента: 1757134

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Гусев, Плотников, Орешников, Кушин, Хоменко, Селезнев, Столбунов

МПК: H05H 7/00

Метки: линейный, ионов, резонансный, ускоритель

...который"жесткозакреплен на корпусе широкий исходный пучок к ускорению в резонатора спомощью металлического демногоканальной ускоряющей структуре иржателя и расположен на расстоянии и/3 Я снизить нагрузку пучков в резонатбре;15 от первой трубки дрейфаданного ре=на Использование многоканальных трубок тора,дрейфа позволяет повысить интенсивностьКак видно из фиг,2, резонатор имеет ускоренного" пучка в сйстеме с длийофо- прямоугольное поперечное:сечение и к его кусной ионно-оптической системой, йеопти-" боковым стенкам "поочередно присоединемальной для ионов с отношением-заряда к 20 ны трубки 9 дрейфа; а со стороны входа к массе, отличным от расчетного. ,;. ".,середине днища корйуса Н-резонатора 8Ведейие в систему ВЧ-питания...

Способ флотационного выделения ионов хрома (у1)

Загрузка...

Номер патента: 1758007

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Скрылев, Бабинец, Костик, Бельдий

МПК: C02F 1/24

Метки: флотационного, у1, выделения, хрома, ионов

...частоте излучения 44 кГц). В случае необходимости корректируют рН обрабатываемой воды до значения 6,75 и проводят флотацию в течение 15 мин при скорости подачи сжатого воздуха 50 см /мин. л.3Всплывающий на поверхность воды продукт флотации удаляют механическими при- способлениями.В процессе флотации, через определенные промежутки времени, отбирают пробы воды и анализируют их на содержание хрома.Максимум флотационного выделенияхрома (И) имеет место при значениях рН 6,0 - 7,5. В этой области рН величина заряда органоминерального комплекса близка к изоэлектрической точке, а пузырьки возду ха имеют заряд, противоположный по знакузаряду извлекаемых частиц.Практически полное выделение хрома(И) наблюдается в случае обработки хром- содержащей...

Способ масс-анализа ионов

Загрузка...

Номер патента: 1758705

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Шерозия, Шишлаков

МПК: H01J 49/40

Метки: ионов, масс-анализа

...компоненты ионного пучка.На фиг. 1 схематически представлено устройство, реализующее предлагаемый способ исследования масс-спектра непрерывного ионного пучка; на фиг. 2 - временная диаграмма ионного тока на мишени,Устройство состоит из ионного источника 1, системы 2 импульсного отклонения ионного пучка 3 от первоначальной траектории 1 роль системы 2 в ионных пушках могут выполнять отклоняющие электроды, на которые подается импульс напряжения), мишени. 4 устройства (роль мишени 4 в аналитических и технологических установках может выполнять распыляемый источником 1 образец), в которое встроен ионный источник 1, системы 5 регистрации ионного тока, которая может быть обычной системой регистрации времяпролетных спектрометров, источника 6...

Способ очистки сточных вод от ионов тяжелых металлов

Загрузка...

Номер патента: 1761686

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Ковалев, Ковалева

МПК: C02F 1/62, C02F 1/52

Метки: ионов, сточных, вод, металлов, тяжелых

...Сг(Я), последние взаимодействуют с соединениями двухвалентного железа, восз+ з+ станавливаясь до Сг и совместно с Ге выпадают в виде гидроксидов, соосаждаясь с металлической фазой осадка. Образующиеся частицы осадка сорбируют присутствующие в воде органические вещества. Количество вводимого реагента поддерживают в стехиометрическом соотношении к ионам тяжелых металлов,Образующийся осадок преимущественно в виде свободных металлических фаз имеет кристаллическую структуру, обладает повышенной гидравлической крупностью до 1,2-1,5 мм/с, легко отстаивается и обезвоживается, что снижает капитальные и эксплуатационные затраты при проведении этих операций. Кроме того, облегчается проблема утилизации таких осадков, например, в металлургическом...

Способ определения ионов редкоземельных элементов иили иттрия

Загрузка...

Номер патента: 1762229

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Громов

МПК: G01N 31/16, G01N 33/18

Метки: редкоземельных, иттрия, ионов, элементов, «и—или»

...описываемым способом определения ионов редкоземельных элементов и/или иттрия,который согласно изобретению состоит втом, что водный раствор анализируемой дпробы обрабатывают изопропиловым спиртом в соотношении по объему 1:(3 - 9), потенциометрически титруют раствором фториданатрия в присутствии лантанфторидногоэлектрода с последующим расчетом содер1762229 Таблица 1 35 жания редкоземельных элементов и иттрия раздельно или в сумме.Отличительным признаком способа является обработка водного раствора анализируемой пробы изопропиловым спиртом в 5 соотношении 1;(3 - 9) по объему.П р и м е р 1. В табл, 1 приведены результаты потенциометрического титрования раствора иттрия (2,5 10 г-ион/л) водным миллинормальным раствором фторида 10 натрия...

Лазерный источник высокозарядных ионов

Загрузка...

Номер патента: 1144549

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Шумшуров, Козловский, Шарков, Кречет, Латышев, Голубев

МПК: H01J 27/24

Метки: ионов, лазерный, источник, высокозарядных

...по заряд 9 вому со- д ставу.пюеьЦель достигается тем, что в предлагае- р мый лазерный источник высокозарядныхионов, содержащий лазер, фокусирующую линзу и цилиндрический выводной канал, введены сверхзвуковое сопла, установлен- Дь ное в выводном канале перпендикулярно О его оси, и приемник сверхзвукового газовоГо потока. На чертеже схематично изображенюй предлагаемый лазерный источник,Источник содержит лазер 1, систему фокусировки излучения (линзу) 2, выводной цилиндрический канал 3, В канале 3 установлены система формирования газовой мишени 4, содержащая сверхзвуковое сопла Лаваля 5; и приемник газового потока 6.Составитель К,КузьминТехред М.Моргентал Корректор Н,Гун е,цактор Е,Гиринская Подписноебретениям и открытиаушская наб 4/5...

Сорбент для извлечения ионов металлов из растворов и способ его получения

Загрузка...

Номер патента: 1766493

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Гуцалюк, Зайцева, Рябушко

МПК: B01J 20/10

Метки: растворов, сорбент, ионов, извлечения, металлов

...групп оптимально следующее соотношение компонентов - аминопропильные группы . трихлорфосфинсульфид: акцептор НС; вторичный амин = 1: 1: 1; 2.П р и м е р 9, Изучение сорбционных характеристик заявленного сорбента.В три стакана на 50 мл помещают 0,1 г сорбента, полученного по примеру 2, и приливают 25 мл раствора с рН 5,4, содержащего соли ртути , свинцаи меди (1 соответственно с концентрацией 110 моль/л. Содержимое перемешивают в течение 1 часаи в растворе анализируют концентрацию металлов. Сопоставляя концентрации металла в растворе до и после контакта с сорбентом, рассчитывают полноту извлечения металла (в %).Результаты приведены в табл.1.Аналгичные измерения проводят для прототипа (табл.1).Как видно из табл,1, полнота извлечения...