Патенты с меткой «интегральной»

Способ преобразования сигнала для измерения интегральной среднеквадратичной ошибки

Загрузка...

Номер патента: 184535

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Славинский, Быков

МПК: G04F 10/00, G01R 23/06, H03M 1/10 ...

Метки: интегральной, ошибки, преобразования, сигнала, среднеквадратичной

...в квадрат, интегрирование, извлечение корня.Предложенный способ отличается тем, что после выпрямления, не выделяя специально 1 заданную полосу частот в сигнале, его текущее значение преобразуют в частоту и одновременно, разбивая время интегрирования на ряд интервалов, осуществляют в каждом из них время-импульсное преобразование того же 1 сигнала, а затем эти интервалы времени заполняют импульсами, полученными при частотно-импульсном преобразовании, которые затем суммируют в пределах всего времени интегрирования, и затем уже извлекают квадратный корень,Предложенный способ позволяет облегчить математическую обработку и улучшить фильтрацгпо заданной полосы частот исследуемого сигнала, 2На чертеже приведена блок-схема, поясняющая...

Способ измерения интегральной интенсивности кавитационных излучений

Загрузка...

Номер патента: 200242

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Шмугл, Федоров, Кин, Клюйков, Харьковский

МПК: G01H 1/00

Метки: интенсивности, кавитационных, интегральной, излучений

...ротора прямочастотного конденсатора переменной О емкости в цепи гетеродина с помощью синхронного генератора. При этом частота настройки изменяется пропорционально времени поворота ротора, в результате чего интегральную интенсивность определяют интегрирова нием по времени величины спектральной интенсивности непрерывно во всем диапазоне кавитационных частот. С выхода смесителя 3 сигналы поступают на усилитель 5 промежуточной частоты, подключенный к квадратич- О ному детектору б, преобразующему напряжение сигналов в величину спектральной интенсивности, пропорциональную квадрату напряжения, снимаемого с пьезоэлектрического датчика.5 На выходе квадратичного детектора усгановлены самопишущий прибор 7 и интегратор 8, например,...

Устройство для интегральной регистрации частоты

Загрузка...

Номер патента: 238872

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Буркин

МПК: C04B 30/02

Метки: интегральной, частоты, регистрации

...которого подсоедцнена интегрируехая функция, представленная ЗОв частотном виде. нстигут по переработке нефти Два выхода триггера через усилители мощности 2 ц,) обоих каналов подведены к обмоткам статора электромеханического привода, намотанным в противоположные стороны. Половина каждого полюса статора в направлении вращеня ротора охвачена медным короткозамкнутым витком 5. Ротор 6 привода выполнен из постоянного магшга цлц приобретает выраженцыг магнитные полюса,при первом включении. Ось ротора, вал 7, является механическим выходом устройства. Регистрирующая часть может быпгь выполнена в виде обычного цифрового счетчика оборотов,На вход триггера 1,поступаот однополярцые отрицательные импульсы переменной частоты, пропорциональные...

Устройство для измерения интегральной функции распределения времени вхождения в синхронизм

Загрузка...

Номер патента: 280526

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Рабинович, Щвыдкий, Федоров, Сайбаталов

МПК: H04L 7/033

Метки: синхронизм, интегральной, времени, функции, вхождения, распределения

...с входом триггера 5. Кроме того, стоповый выход регистра ссединен со вторым входом триггера 7.Работает устройство следующим образом, Перед началом испытаний система ИКМ находится в синхронизме, В этом режиме в передатчике системы формируется синхросигнал, который удерживает приемник в синхронном состоянии. Фиксатор состояния системы синхронизации, подключенный в режиме испытаний к ячейкам 3 и 4 устройства, разрешает их работу, Потенциал с правого плеча триггера 6 подается в схему передатчика синхросигнала, не препятствуя формированию синхросигнала. Устройство подготовлено к работе.При подаче команды от блока 1 срабатывает формирователь 2, стартовый импульс которого проходит через ячейку 3 и перебрасывает триггер 6. Выходной сигнал с...

Устройство для решения краевых задач в интегральной форме

Загрузка...

Номер патента: 281021

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Чантури

МПК: G06G 7/48

Метки: решения, форме, задач, краевых, интегральной

...в соответствии саналитическим написанием функции; 2 и 3 -генераторы пилообразного напряжения, задающие координаты точек х у г в которыхищется решение; 4 - генератор пилообразногонапряжения, с выходя которого поступает сигнал ця входы ,:функциональных преобразователей; 5 - 7 - функциональные преобразователи,задающие координаты точек, по которым задано граничное значение; 8 - функциональный преобразователь, воспроизводящий граничное значение по области; 9 - блок умнокения; 10 - интегратор; 11 - ключевая схема;12 - двусторонний ограничитель; 13 - стандартное электроннолучевое индикаторное устройство; 14 - 17 - функциональные преобразователи; 18 - 20 - множительные устройства;21 и 22 - сумматоры; 23 - делитель.Рассмотрим работу...

Способ определения интегральной степени черноты металлов и сплавов

Загрузка...

Номер патента: 288354

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Ошкадеров, Баталов

МПК: G01J 5/50

Метки: сплавов, интегральной, черноты, металлов, степени

...интервале, вплоть до температуры плавления как в 25 вакууме, так ц непосредственно в атмосфере,не прибегая к вакуумным условиям охлаждения. Прц высокцх темгературах (1500 С) доля теплопотерь, приходящаяся в газовой среде на конвектцвную теплопередачу, легко подда ется оценке ц не превышает 1 - 24 от доли288354 Предмет изобретен и я Составитель Т, Б. Краснова Редактор Т. В. Иванова Корректор Л. В. Юшина Заказ 3979/5 Тираж 480 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушскаи наб., д. 4/5Типографии, пр. Сапу, лова, 2 теплопотерь, приходящейся на тепловое излучение.Обнаруженное при экспериментальной проверке способа постоянство скоростей увеличения и уменьшения размеров облегчает...

Способ монтажа в корпус основания интегральной схемы

Загрузка...

Номер патента: 292256

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Лепилин, Черн

МПК: H05K 3/30

Метки: схемы, интегральной, основания, корпус, монтажа

...- повышение производительности монтажа и надежности электрического контакта выводов корпуса со схемой.Достигается это тем, что контактные площадки залуживают расплавленным припоем и через образовавшуюся пленку припоя пропускают нагретые выводы.На фиг, 1 изображены корпус и основание интегральной схемы до сборки; на фиг. 2 - интегральная схема, смонтированная в корпусе.В основании 1(керамика, ситал иены отверстия, диаметр которых несколько больше диаметра выводов 2 корпуса. Расположение отверстий и их число соответствуют расположению и числу выводов корпуса. Отверстия образуют при изготовлении основания, либо в готовом основании с помощью ультразвука или другими способами. На основание наносят тонкопленочные проводники и...

Способ интегральной коррекции систем автоматического управления

Загрузка...

Номер патента: 325595

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Урин, Пдте

МПК: G05B 11/01

Метки: коррекции, интегральной, систем

...формировация корректирующего сигнала, как сигнала, пропорциоцальцого отклонению коэффициецта передачи цепи управления и последующего его ицтегрировация. 2Для обеспечения устойчивости работы при таком способе коррекции приходится увеличивать постояццую времени интегрирования.При этом отработка входного воздействия задерживается, 2Предлагаемый способ отличается от известного тем, что кортирующий сигнал вводят в цепь управления путем перемножения его с осцовцым сигналом. Это позволяет улучшить дина и ические характеристики системы. 3 У - олок умножения,Поскольку целью интегральной коррекции является поддержание статического коэффициецта усиления Р 1" измецецие передаточиой функции 1 т(Р) компепсируют изменением в обратном цаправлеции...

Элемент интегральной микросхемы

Загрузка...

Номер патента: 354768

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Ходак

МПК: H01L 29/00

Метки: микросхемы, элемент, интегральной

...те я тока утечки, уве электродами по и ой диэлектрика. росхемь ий из д и актичто,ичения форме напрэлектр ного м с цел стабил распол Элемент 5 мер плана ческой под териала,уменьшени ности, под 20 жен подслс присоединением заявкиИзобретение относится к электронной технике и может быть использовано на предприятиях, изготавливающих тонкопленочные элементы и схемы.Цель изобретения - уменьшение тока утечки и увеличение стабильности устройства.Достигается это тем, что под электродами по их форме расположен подслой диэлектрика.На чертеже представлен элемент интегральной микросхемы.Устройство состоит из подложки 1, электродов 2, активного материала 3 и подслоя из диэлектрика 4.Применение подслоя диэлектрика под электродами, протравленного...

Корпус интегральной микросхемы

Загрузка...

Номер патента: 388375

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: H05K 5/03

Метки: интегральной, корпус, микросхемы

...стеклянного основания с выводами и спаянный с коваровым колпачком. Интегральная микросхема основанием припаивается к колпачку и соединяется с выводами корпуса проволочными перемычками. Герметизация интегральной микросхемы осуществляется с помощью металлической крьтшки баллона, припаиваемого к колпачку.Однако,при монтаже интегральной схемы с объемными выводами групповым методом, например методом перевернутого кристалланадежность механического крепления интегральной микросхемы на основании недостаточко высока; недостаточно хорошие,и условия теплоотвода, так как механическое крепление и отвод тепла могут быть осуществлены только с помощью выводов кристалла.Цель изобретения - повышение надежности механического крепления интегральной...

Устройство для распознавания зоны разброса параметров цифровой интегральной схемы

Загрузка...

Номер патента: 369521

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Ерлашов

МПК: G01R 31/28

Метки: цифровой, зоны, интегральной, параметров, распознавания, разброса, схемы

...60 65 14 и через схемы инверсий 18 и 19 - со входами схем совпадения 9 и 10. На шину устройства в процессе обучения с внешнегодатчика указаний поступают управляющиесигналы, определяющие принадлежность значения параметра данной зоне, шина настройки может быть также соединена с помощьюпереключателя 20 с выходом 16 устройства.Схема сравнения и интеграторы имеют также входы синхронизациями 21 - 23 от генератора тактовых импуль,ов (ка схеме не показан).На вход 1 устройства подается значениеконтролируемого параметра, В вычитающихэлементах 2 и 3 из значения параметра вычитаются значения верхней и нижней границ,поступающие от интеграторов 4 и 5. Результаты этих операций с выходов вычитающихэлементов поступают на входы пороговыхэлементов 6 и 7, а...

Способ определения интегральной излучательной способности материалов

Загрузка...

Номер патента: 373606

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Бел, Ануфриев, Сахаров

МПК: G01N 25/00

Метки: способности, излучательной, интегральной

...обдува. Тем пература термоприемников измеряется прибором 6.В качестве термоприемников 2 - б можноиспользовать, например, термопары или терморезисторы, В данном случае переменным 30 параметром, изменяющим коэффициент тепло(2) где Т, - температура газа;я 1 и а 2 - коэффициенты теплоотдачи; Т - эффективная температура окружения, учитываяющая излучение стенок и газа. Здесь А г репуг1 ОТДаЧИ, 51 ВЛЯЕТСЯ СКОРОСЪ ООДУВа ГаЗОЛ ЭТаг лонных термоприемников. При этом, если используют чистые материалы термосопротивлении или термопар (без наружных покрытий другими латериалахи), можно определять относительную, интегральную излучательную способность материалов термосопротивлений или термоспавв термопар. Если покрыть поверхности термоприемников...

Устройство для интегральной оценки

Загрузка...

Номер патента: 424166

Опубликовано: 15.04.1974

Авторы: Изобретени, Нигматуллнн

МПК: G06G 7/18

Метки: оценки, интегральной

...5 импульсов за висит от величины входного сигнала и числаимпульсов обра 1 цой связи. имеют малую точность Такие устроцства работы. С целью повышен ройство введен ген вход которого цодк,блока, а выход соед импульсов и формисти работы, в устопорной частоты, выходу порогового входами счетчика я обратной связи,ия точноератор ючен к инеи со ровател льная ценки, чок 2, атор 4 ВХОДчертеже приведена функцион а устройства для интегральной о ржащая интегратор 1, пороговый б ирователь 3 обратной связи, генер гой частоты, счетчик импульсов 5клемму 6. тройство ра ходной сиги клемме 6 и , выходной грирования говой велич говый блок говый блок 4 опорной ч т следующим об икладывается ко пает на вход интел которого в пр гает одного из урца которую на тот...

Способ определения относительной интегральной излучательной способности материалов

Загрузка...

Номер патента: 456153

Опубликовано: 05.01.1975

Авторы: Беляков, Ануфриев

МПК: G01J 5/00

Метки: интегральной, способности, излучательной, относительной

...скоростная погрешность (за счет недовосстановленпя температуры термопрцемника до температуры торможения 20 газа) была пренебрежимо малой,Так как излучательная способность большинства твердых тел с изменением температуры меняется монотонно и, как правило, весьма медленно, то отнесение измененного 25 значения цзлучательцой способности к середине температурного интервала, опрсдслясмо- ГО показаниями каждого тсрмопрцскника, не вносит заметных ошибок, особенно сслц измерения проводить в значительном диапазоне 30 температур газа,(4) Составитель В. Афонькин Техред Г. Дворина Корректор Н, Аук Редактор В, Фельдман Заказ 573/6 Изд.359 Тираж 740 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва,...

Устройство для измерения параметров интегральной схемы

Загрузка...

Номер патента: 475567

Опубликовано: 30.06.1975

Авторы: Нагиев, Шахат, Сергунин, Обичкин, Черняев, Кирпиченков

МПК: G01R 29/00

Метки: параметров, интегральной, схемы

...схемон 2, подключенной к измерителю 3 параметров интегральной схемы, в состав которого может входить электронно- вычислительная машина, Термобатарея 1 подсоединена через коммутатор 4 к блоку 5 питания. Коммутатор 4 подключен к реле 6 времени, связанному со счетчиком 7 циклов и подсоединенному через первый переключатель 8 к датчикам 9 и 10 интервалов времени. Коммутатор 4 подсоединен также к регулятору 11 температуры, который через второй переключатель 12 связан с датчиками 13 и 14 температуры.Измерение параметров интегральной схемы 2 посредством предлагаемого устройства происходит следующим образом.При помощи датчиков 13 и 14 задают верхнюю и нижнюю температуры испытаний, а при помощи датчиков 9 и 10 - время выдержки при этих...

Устройство для измерения интегральной функции распределения времени вхождения в синхронизм

Загрузка...

Номер патента: 477550

Опубликовано: 15.07.1975

Авторы: Полиевский, Тараненко, Пономарев

МПК: H04L 7/02

Метки: интегральной, синхронизм, функции, времени, распределения, вхождения

...на другой вход схемы 6, где происходит сравнение входного и выходного тестов.В случае рассинхронизации на выходе схемы сравнения тестов 6 появляются импульсы, соответствующие ошибочно зарегистрированным кодовым импульсам, причем интервал между ошибками непрерывно оценивается анализатором 9. По достижении синхронизма интервал между ошибками резко возрастает, в результате на выходе анализатора формируется за 1 прещающий сигнал, который через пороговый элемент 10 (защищающий схему от случайных флуктуаций уровня) проходит на стоповый вход схемы 3, прекращая отсчет врсмени вхождения в синхронизм. Сформированный схемой отсчета времени вхождения всинхронизм импульс, начало которого соответствует появлению стартового импульса, а5 конец -...

Устройство для измерения интегральной степени черноты

Загрузка...

Номер патента: 481787

Опубликовано: 25.08.1975

Автор: Щербина

МПК: G01J 5/08

Метки: черноты, интегральной, степени

...модулятора 8 с зеркалом 9, раздвижной щели 10, фильтра 11, за которым установлен фотоприеммник 12. Выход фотоприемника 12 подключен ко входу усилителя 13 переменного тока, который в свою очередь, подключен к синхронному детектору 14, управля емому генератором 15 синусоидальных колебаний. К синхронному детектору 14 подключен также индикатор 16. В сеть регулируемого источника 17 питания, соединенного с исследуемым образцом 2, подключены вольтметр 18 (вольметр кл.0,1) . и миллиамперметр 19 (миллиамперметр кл. 0,1). Перед отверстием Г установлен яркостный фотоэлектрический пирометр 20, а перед источником излучения 4 установлена заслонка 2 1.ЛПредлегаемое устройство работаетследующим образом.Лампа 4 с помощью конденсатора 5освещает...

Устройство для определения интегральной оптической плотности субмикроскопических объектов

Загрузка...

Номер патента: 483727

Опубликовано: 05.09.1975

Авторы: Литинская, Козлов, Хруст

МПК: H01J 37/26

Метки: интегральной, объектов, субмикроскопических, оптической, плотности

...электронного микроскопа, линзовую систему 3, перед с люминесцентного экщий фотоприемник 4,Поток электронов, прошедший через объект, попадает на люминесцентный экран 1, находящийся внутри вакуумного ооъема колонны 2 электронного микроскопа в ьчссте формирования электронного изображения объ. екта. Преобразование интенсивности электронного пучка, падающего на люминесцентный экран 2, в световой поток осуществляется не. линейно, в соответствии с логарифмической световой характеристикой выбранного люминофора и подчиняется закону ослабления Бугера - Бера. Световой поток ослабляется в каждой точке изображения по световой характе. ристике, аппроксимирующей логарифмпческун кривую, Этим осуществляется операция логарифмирования в каждой точке...

Способ определения интегральной нормальной излучательной способности частично прозрачных материалов

Загрузка...

Номер патента: 537258

Опубликовано: 30.11.1976

Автор: Резник

МПК: G01J 5/00

Метки: способности, излучательной, нормальной, прозрачных, интегральной, частично

...тела, которое одновременно используют для градуировки.Недостатком этого способа является невозможность одновременного определения с излучательной способностью тел их коэффициентов теплопроводности,С целью совместного определения нормальной излучательной способности и истинного коэффициента теплопроводности частично прозрачных материалов согласно изобретению предварительно проводят градуировку двух приемников излучения, одного в области от 0,4 до 21 мк, а второго от 4 до 8 мк, и в момент вывода образца из печи определяют интегральное излучение образца, а затем в процессе охлаждения образца - изменение его излучения в области наибольшего поглощения, после чего по известным соотношениям находят исковые величины.Предложенный способ...

Устройство для измерения интегральной теплоты десорбции жидкостей и газов

Загрузка...

Номер патента: 553529

Опубликовано: 05.04.1977

Авторы: Моисеев, Пушкарь, Зинченко

МПК: G01N 25/56

Метки: теплоты, жидкостей, десорбции, газов, интегральной

...на фиг. 2 - конструктивная схема его измерительной части, впд по стрелке Л на фнг. 1,Измерительная часть 1 помещена в вакуумную камеру 2, которая через ловушку 3, охлаждаемую жидким азотом, соединена с вакуумным насосом. Измерительная часть электрически соединена с усилителем 4 н самописцем 5 н содержит две ячейки б и 7 для измерения теплот десорбцни, приспособления 8 н 9 для измерения разности температур между ячейками, массивное из хорошо теплопроводящего материала кольцо 10, служащее в качестве экспериментального нуля, концентрическую оболочку 11 также из хорошо теплопроводящего материала, предназначенную для достижения одновременного равенства температур в обеих ячейках.Работает устройство следующим образом.Образец вещества,...

Способ изоляции элементов интегральной схемы

Загрузка...

Номер патента: 426602

Опубликовано: 05.07.1977

Авторы: Казанов, Сазанов

МПК: H01L 27/00

Метки: схемы, интегральной, элементов, изоляции

...кремния; исключит" образование кристаллитов на незащищенныхокислом участках поверхности монокристаллической подножки. Выполнение этих условийсущественно ограничивает технологические воз.можности, затрудняет получение воспроизводимыхрезультатов и отрицательно влияет на качествоизоляции, что снижает процент выхода годныхинтегральных схем и, соответственно, увеличиваетих себестоимость,Цель изобретения . повышение воспроизводимости параметров приборов,Цель достигается тем, что по предлагаемомуспособу на поверхности оклсной пленки до выращивания слоя кремния создают промежуточныйслой из тугоплавкого материала, температураобразования эвтектики которого с кремнием нижете мпературы энитаксиальноговыращиваниякремния. Для создания...

Способ изготовления интегральной магнитной головки

Загрузка...

Номер патента: 580577

Опубликовано: 15.11.1977

Авторы: Халецкий, Тихонов, Хамаева, Филатов

МПК: G11B 5/42

Метки: интегральной, головки, магнитной

...анодированием с последующим травлением окисла углубления, анодируют поверхность полученных углублений, заполняют их магнитным материалом, формируют нижние полувитки обмотки путем анодирования металла до подложки и в окисном слое, вскрывают контактные площадки.Способ поясняется чертежами (на фпг.1 - 15 показана очередность операций).На подложку 1 наносят пленку 2 вентпльного металла (фиг, 1). Эту пленку под,вергают селективному анодированию на глубину, равную толщине магнитопровода в канавках 3. Путем травления пленки получают углубления 4 (фиг. 3 и 4). После этого анодируют всю поверхность, формируя пленку 5 (фиг. 5), которая служит надежной изоляцией между обмоткой 6 и магнитопроводом 7 (фиг. 6, 7 и 9), Но перед этим в местс...

Устройство для измерения интегральной нелинейности

Загрузка...

Номер патента: 585499

Опубликовано: 25.12.1977

Авторы: Глаголев, Глушковский

МПК: G06G 7/12

Метки: нелинейности, интегральной

...устройства для измере нелинейности. Оно содержит генер амплитуды, делитель н следуемый блок 3, сумм тель 4, ключевой элем б, усилитель 7, фильт ый прибор 9 постоянн585499 4 формула изобретения Составитель О.ОтрадновРедактор Л.Народная Техред Н.Андрейчук Корректор А.Лакида Тираж 818 дарственного комитета Сопо делам изобретений и 35, Москва, Ж, Раушск Поета Министоткрытийя наб., д аказ 5049/39ЦНИИПИ Го исное в ССС 4/ ПП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная,или задержки 10, формирователь 11 стробирующих импульсов.Устройство работает следующим образом.С выхода генератора 1 точной ампитуды импульс напряжения с пологим5 адним Фронтом поступает на сумматор- ограничитель 4 непосредственно, а также через прецизионный резистивный де-литель...

Способ определения интегральной полусферической излучательной способности покрытий

Загрузка...

Номер патента: 530555

Опубликовано: 25.06.1978

Авторы: Падерин, Горшенев, Жулев

МПК: G01N 25/00

Метки: покрытий, излучательной, полусферической, способности, интегральной

...40Т - осредненная величина эталонных образцов, соседних с рассматриваемым опыт. ным образцом с исследуемым покрытием.Температурная зависимость излучательной способности исследуемого покрытия Еп нахо дится из уравнений теплового баланса в стационарном режиме; для образца с исследуемым покрытиемт Е (Т)+бэ(Т ) 8 Т фсэ(Т)ЕцЗ, (2) р) для эталонных образцовТф)(у Т 4 о Э(Т 44 пд гдеС - поглошагельная способность эталон- "3ного покрытия- - плотность лучистого потока, падаюф 6 ОЮщего на образец с исследуемым покрытием- плотность лучистого потока, падаю"466 дщего на эталонный образец.еУчитывая что в инфракрасном спектре А =э соотношение (2) приводится к виЕ=2 ГТ Ь фДля повышены точности эксперимента ве вичина равняется осредненной...

Способ определения интегральной излучательной способности материалов

Загрузка...

Номер патента: 631788

Опубликовано: 05.11.1978

Автор: Черепанов

МПК: G01J 5/12

Метки: интегральной, излучательной, способности

...измерения нэлу 0 чагельной способности зависит ог точности измерения других величнн и поэтомуможет быть значительной,Целью изобретения является повышениеточности определения.5 Поставленная цель достигается тем,что создают колебания мощносгие подводимой к образцу, противофазные колебаниям температуры экрана, подбирают амплитуду колебаний мощности, при которой20 амплитуда колебаний температуры образца равна нулю, н определяют интегральную нзлучагельную способность образцало формуле ео фафт,а,о ф(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЪНОЙ ИЗЛУЧАТЕЛЪНОЙ СПОСОБНОСТИ МАТЕРИАЛО631788 Составитель В. Воробьевдактор Т. Орловская Техред Н, Андрейчук Корректор К. Ковале Подписноекомитета Совета Миниений и открытийРаушская наб., д. 4 Тираж 78...

Устройство для измерения интегральной функции распределения времени вхождения в синхронизм

Загрузка...

Номер патента: 678696

Опубликовано: 05.08.1979

Авторы: Галль, Литвак, Савин

МПК: H04L 7/02

Метки: функции, вхождения, времени, интегральной, распределения, синхронизм

...производится сравнение интервала временивосстановления синхронизма с временным интервалом, задаваемым Фор- , 5мирователем 3.Ключ 4 и блок 5 совпадения, управляемые сигналами от дифференцирующего блока 7 и формирователя 3, разрешают прохождение импульса с выхода 10дифференцирующего блока 7 на входвторого счетчика б - счетчика числауспехов, причем только в моментывремени, когда восстановление синхРонизма меньше или равно заданномувременному интервалу.Автоматизация процесса измеренияосуществляется за счет того, чтопосле восстановления .синхронизма вырабатывается очередной сигнал в бло. ке 7, который снова вызывает очередной сбой синхронизма. В моментвосстановления синхронизма на выходеблока 1 фиксации состояния синхрониэма происходит...

Прибор с интегральной схемой

Загрузка...

Номер патента: 679168

Опубликовано: 05.08.1979

Автор: Тьерри

МПК: H01L 29/76, H01L 27/12

Метки: схемой, прибор, интегральной

...3. Электрод 13 стока может также проходить через отверстие 24 в изоляционном слое до соприкосновения с областью 7транзистора 3. Электрод 25 затвора, которыйможет быть изготовлен из поликристаллического кремния р+.типа, располагается ца изоля.ционцом слое над каналом 19 носителей тока.Верхние части 8 и 20 каналов 7 и 19 со.ответственно являются относительно высокопегированцыь 4 и, в то время как нижние части9 и 21 - спабопегировацные. В устройствеверхние части 8 и 20 областей кацапов 7 и 19могут иметь концецтрашпо введенных приметсей примерно вх 10 атомов/см или да.же больше, обычно примерно до 1 х 10атомов/см";Нижние части 9 и 21 каналов 7 и 19 содержат при.меси проводимости примерно около О з атомов/см. Толщина верхних частей должна...

Способ изготовления интегральной магнитной головки

Загрузка...

Номер патента: 691920

Опубликовано: 15.10.1979

Авторы: Рыжкова, Ходжаев, Спирина

МПК: G11B 5/42

Метки: головки, магнитной, интегральной

...осуществляют с припуском относительно частей магнитопровода.На Фиг.1-4 изображена последовательность изготовления интегральной магнитной головки по описываемомуспособу.П р и м е р. Все операции по формированию интегральной магнитной головки проводят на диэлектрической подложке из сапфираПри операциях фотолитографии и анодирования применяют фоторезисты ФПи ФНк . Надиэлектрическую подложку 1 (фиг.1) напыляют .пермаллой толщиной 2,5 мкм и методом фотолитографии формируютпервую часть магнитопровода 2 (фиг.1) .Затем нагыляют тантал толщиной 1000- 402000 А и проводят фотолитографию потанталу 3 (фиг.1) . Топология танталаповторяет топологию пермаллоя с припуском +10 мкм,. Напыляют алюминий толщиной 5-6 мм и проводят плотноеанодирование по...

Устройство для определения интегральной поглощательной способности зеркальноотражающих материалов

Загрузка...

Номер патента: 702278

Опубликовано: 05.12.1979

Авторы: Кузьмичев, Хрусталев

МПК: G01N 21/22

Метки: интегральной, поглощательной, способности, зеркальноотражающих

...зеркало 4, которое в положении 1 посылает луч 11 на внут- .реннюю поверхность 6 образца 5. Далее луч 1 многократно отражается от внутренних поверхностей 6 и 8 и снова падает на зеркало 4, после отражения от зеркала 4 попадает на зеркало 3, которым направляется на приемник 10 излучения. В положении 6 зеркала 4 луч 12, отраженный от зеркдла 4, падает на внешнюю по.78верхность 9 образца 7, от которого он однократно отражжтся и попадает снова назеркало 4 и далее, отразившись от зеркал4 и 3, направляется на .приемник 10 из-лученияСигнал приемника 10 излучения примногократном отражении луча 11 от поверхностей 6 и 8 пропорционален отражательной способности материала в степени,равной числу й отражений, т.е. С 1= К й".При однократном отражении...

Способ изготовления токопроводящего рисунка интегральной микросхемы

Загрузка...

Номер патента: 710116

Опубликовано: 15.01.1980

Авторы: Балтрушайтис, Садаускас

МПК: H05K 3/00

Метки: рисунка, интегральной, микросхемы, токопроводящего

...гальваническим способом наращивают медь.Технология способа состоит в следующем.Предварительноочищенную и глазурированную подлЬжку помещают в центрифугу и при скорости 2400-3000 об/мин наносят пипеткой раствор жидкого золота. Вращение поддерживают в течение 1 мин для удаления растворителей. Образовавшуюся пленку вжигают прио800 С, Затем пластину (подложку с золотым покрытием) в качестве катода подвешивают между анодами из нержа710116 Формула изобретения 20 толщина пленкизолота 2000-3000 А ее адгезия к подложке адгезия пленки меди к золотуудельное сопротивление токопроводящегорисунка 2200-300 кг/см 25 2100 кг/см 0,003 Ом/кВ ЗО Составитель Е,Хвощева Техред З.фанта Корректор М.Вигула Редактор Л.Янова Заказ 8776/52 Тираж 885 ПодписноеЦНИИПИ...