Патенты с меткой «электронном»

Способ выделения кривых при электронном осциллографировании

Загрузка...

Номер патента: 73505

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Гордиенко

МПК: H01J 29/98, G01R 13/22

Метки: выделения, осциллографировании, электронном, кривых

...анодного тока тиратропа Л., и интенсивность свечения, коммутируемого тиратроном Л, процесса па экране трубки.Дл того, чтобы не менять значительно анодные токи тиратронного коммутатора при изменении длительности пребывания кривых коммутируемых процессов на экране, целесообразно выбрать поте- циал зажигания тиратрона Лвблизи области насыщения конденсатора С.Г 1 редмет изоб р етени яСпособ выделения кривых при электронном осциллографировании одновременно нескольких процессов с применением тиратронного коммутатора по авт. св. Я 63008, отл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью изменения яркости свечения кривых на экране изменением времени их пребывания на неы, меняОт потеациал зажигания тирятрона генератора острых импульсов, управлощего...

Способ изготовления препаратов для исследования структуры непрозрачных материалов, например металлов, в электронном микроскопе и приспособление к оптическому микроскопу для осуществления этого способа

Загрузка...

Номер патента: 85111

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Шрайбер

МПК: G01N 21/01, G01N 1/28

Метки: препаратов, микроскопе, этого, структуры, микроскопу, металлов, оптическому, исследования, непрозрачных, способа, например, электронном

...видимому колечку, добиваются совмещения координатных отпечатков с крестом нитей и тем самым совмещают исследуемую структурную составляющую с оптической осью микроскопа.На корпусе объектива микроскопа имеется втулка 7 из оргстекла с отверстием под фронтальной линзой объектива и с плоской торцовой поверхностью. Торец втулки смазывается клеем, и тубус микроскопа осторожно опускается до касания с полистироловой пластинкой, которая приклеивается к втулке и может быть поднята при обратном движении тубуса.Затем на предметное стекло (фиг. 3) кладут объектдиафрагму 8 с отверстием в виде правильного круга диаметром 0,2 - 0,25 мм и центрируют это отверстие по кресту нитей, рассматривая диафрагму через полистироловую пластинку. Края диафрагмы...

Способ автоподстройки фазы в электронном синхронном телеграфном аппарате и устройство для осуществления этого способа

Загрузка...

Номер патента: 117757

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Чиненков, Демин

МПК: H04L 7/033

Метки: способа, этого, автоподстройки, телеграфном, синхронном, фазы, аппарате, электронном

...импульсами б (фиг. 2)блокинг-генератора Е (фиг. 1), запускаемого через пусковой триод Ж отпередних и задних фронтов приходящих посылок а (фиг. 2).В случае, если фаза местного импульса г (фиг. 2) опередила фазуимпульса б импульсом на выходе сердечника 3 (фиг. 1), перемагничивается сердечник 14, В момент, когда происходит перемагничиваниесердечника 1 временного коммутатора в исходное состояние намагниченности, выходным импульсом этого сердечника перемагничивается сердечник И, в результате чего запускается блокинг-генератор установки Г, возвращающий сердечник 1 в состояние намагниченности, противоположное исходному, а все остальные сердечники первогоделителя, включая и сердечник 2, остаются в исходном состоянии. Врезультате происходит...

Устройство для повышения яркости и контраста изображения в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 119630

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Оксман, Ченцов, Воробьев, Верцнер

МПК: H01J 31/38, H01J 37/26

Метки: микроскопе, контраста, повышения, электронном, изображения, яркости

...4 передающей трубки типа Видикон, которая соединена телевизионным каналом с кинескопом о. Посредством оптики электронного микроскопа 3 на мишень проектируется изображение исследуемого объекта 6, что приводит к возникновению проводимости в слое полупроводника. Кроме того, мишень облучает,"я сканируьощим электронным пучком, создаваемым системой 4. Одновременное воздействие обоих пучков вызывает образование на поверхности мишени потенциального рельефа, который считается системой 4, аналогично тому, как это происходит в передающих телевизионных трубках типа Видикон.Выделяющийся на сопротивлении 7 сигнал используется позле усиления в усилителе 8 для модуляции пучка кинескопа 5, на экране которого, ведется наблюдение изображения, Развертка...

Способ сравнительных испытаний стойкости катодолюминофоров при электронном возбуждении

Загрузка...

Номер патента: 120616

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Герчиков, Гугель

МПК: H01J 29/10, H01J 9/42

Метки: стойкости, электронном, испытаний, возбуждении, катодолюминофоров, сравнительных

...и возбуждают ти като йся те распола жности астр. Известен спосоо сравнительного испытания стойкости катодолюминофоров при электронном возбуждении, основанный на изготовлении из испытуемых катодолюминофоров экранов одного из типов электроннолучевых трубок с последующим определением срока службы этик трубок в том или ином режиме растрового возбуждения. Недостаток подооного способа состоит в невозможности обеспечить при его использовании достаточно высокую тсчнссть измерений, так как получить одновременно у нескольких трубок один и тот же режим электронного возбуждения, т. е. одинаковый размер и линейность растра, число строк, степень фокусировки и т. д. грактически не удаетсяВ описываемом способе этот недостаток устранен тем, что все...

Способ регистрации знаков в электронном телефонном аппарате

Загрузка...

Номер патента: 123196

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Коробков

МПК: H04L 12/08

Метки: электронном, регистрации, телефонном, знаков, аппарате

...дешифратор 4, Электронный дешифратор 4 принимает из 64 электрических состояний одну пространственную комбинацию, соответствующую полученному с линии данному знаку. На одном из выходов дешифратора действует импульс напряжения, а на остальных 63 выхо123196дах напряжение отсутствует. Выходной импульс напряжения через координатные устройства 5 и б воздействует на отклоняющие системы 7 и 8 электронно-лучевой трубки 9, обеспечивающие установку электронного луча на один из 64 элементарных квадратов экрана, соответствующий принимаемой комбийации знака,Перед экраном расположен трафарет 10 с буквенными, цифровыми и другими знаками, представляющий сооой непрозрачную пластину с прозрачными контурами знаков или прозрачную пластину с...

Способ регулирования экспозиции в электронном цветоделителе цветокорректоре

Загрузка...

Номер патента: 174069

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Лебедь, Едемский, Украинский

МПК: G03B 7/16, G02F 1/23

Метки: электронном, цветокорректоре, экспозиции, цветоделителе

...изменения площади развертывающего элемента при постоянной его освещеннпости п постоянной скорости развертывающего движения.20 2, Спосоо по п. 1, отугичагогггггйся тем, что, сцелью устранения обратной связи по свету, анализ оригинала производят по постоянной составляющей площади развертывающего элемента, а модуляцию экспозиции - по пере менной составляющей площади этого элемента. дггисная грггггпа М 23 а Известные способы регулирования экспозиции в электронном цветоделителе-цветокорректоре, основанные на изменении интенсивности падающего на оригинал или отраженного светового потока, имеют недостаточную частоту модулирования, производительность цветоделителей-цьетокорректоров, основанных на известных способах, низка.По предложенному...

Устройство для растяжения объекта в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 181210

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Попов, Шул

МПК: H01J 37/26

Метки: растяжения, электронном, микроскопе, объекта

...так как он вынужден непрерывно вручную выводить участок на экран гри помощи механизма перемещения объекта, одцовремецно исправлять фокусировку, нару шающуюся прц перемещении, и фотографировать изображение.В предложенном устройстве растягцвающце рычаги спабжецы самостоятельными подогревателями с регуляторами протекающего через 15 цих тока, что позволяет компенсировать уход из поля зрения наблюдаемого участка объ- екта На чертеже изображено предлагаемое устройство,Устройство имеет основанимое на столике микроскопа;реплены растягивающие рычав виде биметаллических пласизготовлены из немагнитньОбъект 3 закрепляется на барые поддерживаются на свпластин 2. На пластинах укрческие подогреватели 5, Для е 1, закрепляе. в основании укги,...

Способ получения изображения в отражательном электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 210959

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Кушнир, Розенфельд

МПК: H01J 37/29

Метки: отражательном, изображения, электронном, микроскопе

...поперечного сечения к наименьшему ошению синуса угла наблюдения к ла скольжения освещающего пучка,При обычно используемых зн лов а 1=1 и ив=20 протякенн ного участка оказывается в 20 чем это необходимо для наблюде водит к бесполезному нагреву оПредлагаемый способ получен ния в отражательном электронн пе отличается от известных тем, снижения мощности, выделяемой жения осве Для набл ка объекта сти, перпенд ка), необхо облучать эл щий форму 4 р наачениях угсть освещенраз больше, ния, что приразца.ия изображеом микроскочто, с целью электронным О Сущностом, чтоный пучили промлоперечно5 образом,ка в плосся наимеразмераравно отнО синусу уг формируют освещающиинекруглого сечения и и образом, чтобы проектка объекта на плорную оптической оси...

Устройство для нагрева объектов в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 237291

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Жданов

МПК: H01J 37/26

Метки: электронном, объектов, микроскопе, нагрева

...10 а также относительно большой массы и поверхности патрона такие устройства инерционны и не позволяют нагревать объект до высоких температур.Предлагаемое устройство отличается тем, 15 что, с целью повышения максимальной температуры объекта и уменьшения инерционности нагрева, между патроном и сеткой расположен теплоизолирующий слой, например тонкая пленка кварца. 20На чертеже схематически изображено предлагаемое устройство.Оно состоит из металлического патрона 1, укрепляемого на стандартной втулке объектоеШастс атрона держателя 2. В патроне раз с объектом, отделенная от п теплоизолирующим слоем 4.Электронный луч 5, создав тельной системой микроскопа сетку, нагревает ее, а следова ленный на ней объект. Вслед масса сетки мала и...

Устройство для определения координат участка объекта, исследуемого в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 252503

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Электроавтоматики, Завод, Шул, Яременко, Игнатова

МПК: H01J 37/26

Метки: объекта, участка, электронном, микроскопе, координат, исследуемого

...объекта.Вследствие больших увеличений электронного микроскопа (до 200000 раз) к приводам столика объектов предъявляются очень жесткие требования: отступления от траектории перемещения столика объектов, рывки и толчки обекта не должны превышать 0,1 - 0,2 мк, Поэтому механическая связь приводов столика объектов с какими-либо дополнительными механизмами нежелательна, так как неизбежно возникающее трение, люфты и заедания между деталями механизма затрудняют задачу плавности перемещения столика объектов, могут привести к дрейфу столика объектов и тем самым снижают гарантируемую разрешающую способность прибора и точность отсчета координат.При чисто механической конструкции индикатора координат его расположение строго лимитировано из-за...

Устройство для ориентации объекта в электронном микросконе

Загрузка...

Номер патента: 280711

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Никифорова, Юзнл

МПК: H01J 37/26

Метки: электронном, ориентации, микросконе, объекта

...образца, Один ;из пазов выполнен внутри конической шестер,ни эксцентрично относительно этой шестерни,На чертеже изображено предлагаемое устройство,Устройство содЕржит нспюдвижное основание 1, установленное на предметном столике5 микроскопа, внутренний подвижный корпус 2,который может поворачиватцся относительнооснования на двух полуосях 3 с помощьюшестер,н,и 4,и сектора 5.На корпуее 2 смонтированы храповое коле 10 со б с собачкой (на чертеже не показана) ивтулка 7, эксцентрично расисложенная в конической шестерне 8. Храповое колесо б ивтулка 7 имеют по одной направляющей (на,пример, по одному пазу). При сборке устрой 15 ства эти налравляющие устанавливаются вза,имно перпендикулярно. В направляющие помещается полая квадратная,втулка...

Способ наблюдения в электронном микроскопе быстропротекающих процессов в полупроводниках

Загрузка...

Номер патента: 312327

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Седов

МПК: H01J 37/26

Метки: полупроводниках, электронном, наблюдения, быстропротекающих, процессов, микроскопе

...может быть небольшим, и пучок может прочерчивать на диафрагме траекторию в форме эллипса, Для того чтобы проходящий диафрагму пучок продолжал двигаться вдоль оси системы, применяют дополнительный постоянный сдвиг пучка путем подачи постоянного напряжения на пластину вертикального отклонения, при этом отверстие располагают в центре диафрагмы.Скважность освещающих импульсов опргделяется диаметром пучка на диафрагме и размахом отклонения в горизонтальном направлении.В случае применения ионного пучка для предотвращения его расплывания при движении к объекту используется монохроматор скоростей ионов, находящийся перед входом в систему отклонения. Монохроматоры, например, электростатического типа состоят из пары электродов...

Устройство для растяжения объекта в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 396751

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: H01J 37/26

Метки: микроскопе, растяжения, объекта, электронном

...устройстве двух систем рычагов, каждая из которых содержит балку, выполненную из биметаллической пластины и закрепленную с двух сторон, К середине балкнАвторы пзобрсте:гия П. П. Бдрзилович,плдстппы прикреплен рычаг, установленцьш на шарнирной осп, которая делит рычаг ца две неравные части, причем у свободного конца рычага плечо короче. На свободных концах рычагов установлены эксцентрпковые зажимы для крепления исследуемого объекта.На фпг. 1 приведена кинематцческая схема предлагаемого устройства; на фиг, 2 представлено предлагаемое устройство в разрезе.о Устройство содержит нагреватель 1; биметаллические пластины 2; опоры 8; рычаги 4, шарнирно установленные ца осях 5; эксцептриковые оси б; зажимы 7 для крепления псслед 1 мого...

Способ получения изображения диэлектриков в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 405141

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: H01J 37/26

Метки: диэлектриков, микроскопе, электронном, изображения

...поверхностного заряда пучком медленных электронов производят только во время обратного хода строчной развертки первичного пучка, формирующего изображение, 30 2Пучок медленных электронов попадает на образец только в те моменты времени, когда информация о состоянии поверхности образца, переносимая вторичными электронами, выбитыми первичным растрирующим пучком, не отображается на экране электронно-лучевой трубки РЭМ; тем самым осуществляется разрядка поверхности образца без ухудшения геометрического разрешения и появления вредного фона (в видеосигнале) отраженных от образца электронов из вторичного пучка.Блок-схема устройства, реализующего предлагаемый способ, представлена на чертеже.В колонне 1 РЭМ с диэлектрическим образцом 2, облучаемым...

Устройство для формирования изображения в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 366512

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Турин, Кулак, Лко, Грачев, Коноваленко

МПК: H01J 37/26

Метки: изображения, формирования, электронном, микроскопе

...расстоянии от средних плоскостей объективной линзы и вто рой щели короткофокусной конденсорной линзы, а размер щели полюсного наконечника длицнофокусной линзы совпадает с внутренним диаметром полюсного наконечника длинцофокусной линзы.20 В результате изменения конструкции кондецсорного блока достигается наименьшее сечение электронного пучка в плоскости объекта объективной линзы с диаметром менее 1 л 1 к и плотностью тока 3 асл-.25 На чертеже схематически представлен каскадный конденсорный блок предлагаемого устройства,Конденсорцый блок сокусную двухщелевую линз30 2 и 3. Первая коцденсорц366512 Предмет изобретения Составитель Т. ГорчаковаТехред Т, Курилко Корректоры: В, Петрова и Е, ДавыдкинаРедактор А, Батыгин Заказ 480/10 Изд. М 113...

Устройство для анализа распределения плотности тока в электронном пучке

Загрузка...

Номер патента: 544013

Опубликовано: 25.01.1977

Авторы: Арменский, Бутрим, Приймак

МПК: H01J 3/02

Метки: анализа, электронном, пучке, распределения, плотности

...содержит цилиндр Фарадея 1, дно 2, нагрузочное сопротивление 3, пороговое устройство 4, блок фиксации 5-координаты луча; программное устройство 6 - управления перемешением лучд; 7 - устройстВа Отклоняюшие лу),Дно 2 цилиндра снабжено вырезом, через который пучок может свободно проходить через устройство, когда не производится анализа пучка, Этот вырез имеет участок с прямолинейной границй.Устройство работает следуюшим образом.Задают опредс)нное занчение порога срабатываш)я и включгпот програк),П)ое устройство б, Электро)шый луч начш)ает отклоня - ться от исход)ого ЦО)ожения.11 рп эпредеенпараметрамп пучка при работе елсктроннойпушки в составе таких-либо автоматизированФормула изобретения 1, Устройство для ана:)иза распределения плотности...

Устройство визуализации объекта в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 565337

Опубликовано: 15.07.1977

Авторы: Юдицкий, Бочаров

МПК: H01J 37/28

Метки: электронном, объекта, микроскопе, визуализации

...и устранение неоднозначности цветового кода.Это достигается тем, что в предлагаемом устройстве впдеоконтрольное устройство вы полнено на однолучевой цветной электроннолучевой трубке с непрерывной структурой экрана, а амплитудный дискриминатор и усили. тель, соединенный с источником ускоряющего напряжения, включены между управляющим и ускоряющим электродами трубки.Е 1 а чертеже подсказано предлагаемое устройство.Источник электронов 1 создает пучок электронов. Фокусирующая система 2 формирует электронный зонд 3, который под действием отклоняющей системы 4 сканирует по исследуемому объекту 5. Детектор излучения 6 преобразует сипнал от вторичных элекгронов, излучаемых микроучастком исследуемого объекта, в видеоситнал, который...

Устройство для исследования влажных образцов в растровом электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 649062

Опубликовано: 25.02.1979

Авторы: Горбунов, Спивак, Рау

МПК: H01J 37/26

Метки: растровом, исследования, электронном, микроскопе, образцов, влажных

...иэ светопроводящего материала и имеющей отверстие 8 для прохождения электронного луча, закрытое защитной пленкой, Защитная пленка крепится эпокснлом в отверстии-окне 8 крышки мнкрока649062 меры 7. Диаметр отверстия1 мм. Крышка 7 микрокамеры б выполнена иэ светящегося при электронной бомбардировке пластикового материала антрацена.Устройство действует следующим образом.Сканируемый электронный зонд 1 микроскопа (первичный сфокусированный пучок электронов) свободно пронизывает защитную пленку, например, из формвара толщиной д 1000 Ъ. При 10 сканировании зонда по поверхности влажного объекта 5 образуются как вторичные, так и отраженные электроны. Промодулированные рельефом поверхности объекта,они обладают энергией, достаточной для...

Способ формирования изображения объекта в растровом электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 661648

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Голубев, Трифонов

МПК: H01J 37/28

Метки: электронном, растровом, микроскопе, объекта, формирования, изображения

...после Фильтрации; е в . эпюра сигнала, полученного при суммировании сигнала, представленного наэпюре в с сигналом, представленным на эпюре д штрих-пунктирной линией.На фиг,З показан фронт импульсного сигнала ат какого-либо элемента поверхности объекта при сканировании его периодически расфокусируемым электронным зондом, где: Б - результирующий сигнал с объекта при воздействии,на него периодически расфокусируемым электронным зондом; Р сигнал с объекта при воздействии на него сфокусированным зондом; Ч сигнал с объекта при воздействии на него расфокусированного зонДа,Электронная пушка 1 имитирует пучок электронов, который формируется системой 2 в электронный зонд малого диаметра и фокусируется на поверхность объекта 3. Сканирование зонда...

Устройство для отклонения электронного пучка в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 684649

Опубликовано: 05.09.1979

Авторы: Казьмирук, Федоров, Мышляев

МПК: H01J 37/26

Метки: отклонения, пучка, микроскопе, электронном, электронного

...смеханизмом его перемещения 7, который может перемещаться при вращенииручки 8 относительно корпуса 9 устройства. Устройство расположено в20камере объектов 10 микроскопа между конденсорной 11 и объективной12 линзами. Объектодержатель 13устанавливают в рабочее положение спомощью штока 14. На отклоняющихкольцах 1 и 2 имеются две пары обомоток, сдвинутых на 90 , для отклонения электронного пучка в двухвзаимно перпеидикулярных направлениях. Кроме того, на кольце 1 име 30 ют с я две корректирующи х обмотки .Формула изобретения Составитель В.Гаврюшин Редактор Б.Федотов Техред М.Келемеш Корректор Т,СкворцоваЗаказ 5301/49 Тираж 923 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, А(-35, Раушская...

Способ приготовления объектов для их исследования в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 763733

Опубликовано: 15.09.1980

Авторы: Королев, Комисарчик

МПК: G01N 1/42

Метки: микроскопе, объектов, исследования, электронном, приготовления

...Ул. Проектная,4 среде, смешанной с высокомолекулярной заливочной средой, с постепенным полным замещением первой на последнюв приводит к качественной пропитке объекта, что дает возможность после полимеризации выявитъ на срезах структурные элементы объекта в неизменном виде, Кроме того, применение раствора четырехокиси осмия в низкомолекулярной гидрофобной среде приводит к Фиксации объекта и улучшению качества электронномикроскопического изображения.П р и м е р. Приготовление срезов.Бистро изолированный из организма исследуемый объект погружазся во фреон, охлажденный жидким азотом. Иэ Фреона объект переносился в жидкий азот, где хранился до его помещения в охлажденную до заданной температуры камеру вакуумной установки, Далее...

Способ детектирования сигналав pactpobom электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 830597

Опубликовано: 15.05.1981

Авторы: Антонюк, Доронин, Лукьянов, Иванников

МПК: H01J 37/26

Метки: микроскопе, детектирования, сигналав, pactpobom, электронном

...потенциалов.На чертеже изображена схема коллектора РЭМ, реализующего предлагаемый способ детектирования сигнала вторичных электронов.Коллектор состоит из насадка 1, входной сетки 2, пластины ИКУ 3, корпуса 4 и830597 Формула азобретения Составитель В. Гаврюшин а Техред А. Бойкас Корректор С. Шомак Тираж 784 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и о 1 крытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4Редактор М. ЦиткинЗаказ 2671/11 светопровода 5, на торце которого нанесенслой люминофора. На другом конце светопровода закреплен фотоэлектронный умножитель (ФЭУ).Коллектор работает следующим образом.Пучок вторичных электронов направляют на сетку 2,...

Устройство для разметки магнитнойленты при электронном монтаже видео-фонограмм

Загрузка...

Номер патента: 834757

Опубликовано: 30.05.1981

Авторы: Силов, Бухонин

МПК: G11B 27/02

Метки: монтаже, магнитнойленты, электронном, разметки, видео-фонограмм

...видеоконтрольного устройства и в Формирователь служебных сигналов для записи меток на магнитнуи 65 место монтажа на видеоконтрольном устройстве 2 .Недостатком данного устройства яв ляются высокие требования к стартстопным характеристикам видеомагнитофона, что приводит к усложнению его схе мы и, следовательно, ограничивает применение устройства. Существующие модели видеомагнитофонов не имеют таких стартстопных: характеристик, в связи с чем применение этого устройства в них невозможно.Цель изобретения - упрощение устройства и расширение его функциональных возможностей. ленту после выбора места электронной склейки,На чертеже представлена структурная схема предлагаемого устройства для разметки магнитной ленты приэлектронном монтаже...

Способ контроля и поиска неисправностей в электронном блоке

Загрузка...

Номер патента: 868652

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Безмельницына, Борисихин, Шехурдин

МПК: G01R 31/308, G01J 5/00

Метки: неисправностей, электронном, поиска, блоке

...реализующего предлспособ.Устройство содержит генератор 1входных воздействий, объект 2 контроля, блок 3 сканирования, приемникпреобразователь 4, регистратор 5.Способ реализуется следующим об 0 разом,еньшен а схема устагаеьый 4) СПОСОБ КОНТРОЛЯ И ПОИСКА НЕИСПРАВНОСТЕИ В ЭЛЕКТРОННОМ БЛОКЕ868652 Формула изобретения 0 Составитель В, ГусевТехред И, Астолош Корректор С. Шекмар Редактор С. Юско Заказ 8319/66 Тираж 735 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 На приемник-преобразователь 4 фокусируется поток инфракрасного излучения с поверхности контролируемого блока, с генератора 1 входных воздействий на внешние...

Способ измерения диаметра электронного зонда в растровом электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 884005

Опубликовано: 23.11.1981

Авторы: Степанов, Голубев, Силаев

МПК: H01J 37/28

Метки: электронного, электронном, растровом, диаметра, зонда, микроскопе

...4, камера 5 объектов, стол б объектов, кристалли детектор 8 вторичных электронов. В систему обработки информации входят ВКУ 9, измерительное устройство 10, и вычислительный блок 1. На фиг. 2 показано взаимное расположение граней кристалла 7 относительно электронного зонда 2 и направления выхода вторичных электронов 13. Кривые сигналов 14 - 1 б соответствуют различным диаметрам зонда, наименьшему из которых соответствует кривая 4.Устройство работает следующим образом.Электронный пучок, создаваемый электронной пушкой 2, формируется с помощью линзы 3 в электронный зонд малого диаметра на поверхности размещенного на столе объектов б объекта 7. Сканирование электронным зондом поверхности объекта осуществляется с помощью отклоняющей системы...

Способ получения изображений в растровом электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 911651

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Спивак, Сасов, Рау

МПК: H01J 37/28

Метки: электронном, микроскопе, растровом, изображений

...расфокусировкой электронного зойда путем наложения на ток фокусирующей системыдополнительного тока гармонической )5формы.Сущность способа заключается втом, что коррекция контрастно-частотной характеристики осуществляется во всех направлениях. Это дости" 20гается путей введения в сигнал прОизводных по полярной координате готображаемой, точки.Периодическая расфокусировка электрон;:ого зонда по гармоническому закону.оэначает, что площадь облучае-мого пятна на образце 7 ьгизменяется также по гармоническому закону счастотой Ш. Видеосигнал 1(г ) вслучае ь.злой модуляции можно разло"жить в ряд около среднего значенияразмера зонда110)=%Иго,1)1 р ДЯВИ, (4 - ЯВЙ 94а.1, атт.епри синхронном детектированиина частоте Ю будет вцделяться...

Способ формирования изображения поля объекта и его фрагмента в растровом электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 918995

Опубликовано: 07.04.1982

Автор: Бочаров

МПК: H01J 37/28

Метки: объекта, изображения, формирования, электронном, растровом, фрагмента, поля, микроскопе

...18 на выходе блока 10 управ-ф ления, сигнал 19 на выходе блока. 8 формирования амплитуды кадровой развертки, сигнал 20 на выходе блока 9 формирования амплитуды строчной развертки, видеосигнал 21 на выходе детектора 5 ЗО излучений, видеосигнал 22 на входе ЭЛТ 14, формирующий иэображение поля объекта, видеосигнал 23 на входе ЭЛТ 15. формирующий изображение фрагмента поля обмкта. 3Электронный зонд 2 с помощью отклоняющей системы 3 сканирует исследуемый объект 4.Сканирующие сигналы, подаваемые на,40 отклоняющую системы микроскопа и ЭЛТ, вырабатываются следующим образом.Пилообразный сигнал с генератора 6 , кадровой развертки (фиг. 2, эпюра 16) поступает на отклоняющую систему ЭЛТ 15, формирующей изображение фрагмента, на вход блока 10...

Устройство для обработки видеосигнала в растровом электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 940261

Опубликовано: 30.06.1982

Авторы: Кисель, Остапов, Павленко, Давиденко

МПК: H01J 37/26

Метки: микроскопе, растровом, видеосигнала, электронном

...схем расположена в области низких частот. формула изобретения Устройство для обработки видеосигнала в растровом электронном микроскопе, содепкащее последовательн о соединенные детектор, усилитель постоянного тока, блок преобразования видеосигнала и блоки отобрвкения информации медлэнной и быстрой разверток, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения точности обработки за счет увеличения атношения сигнал/помеха и повьгшения.стабильности яркости изображения при совмещении разверток, оно снабжено блоком сложения и блоком фиксации уровня видеосигнала, при этом блок сложения включен между детектором и усилителем ностоянного тока, а блок фиксации уровня видеосигнала включен между блоком преобразования и блоком отобрвкения...

Устройство автоматической фокусировки изображения в растровом электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 942189

Опубликовано: 07.07.1982

Авторы: Павленко, Давиденко, Кисель, Капличный, Веприк, Остапов

МПК: H01J 37/21

Метки: фокусировки, изображения, электронном, автоматической, микроскопе, растровом

...работуус тройс тва автоматической фокусировкиво всем диапазоне развертки растровогоизображения, получаемого в РЭМ,Использование предлагаемого устройства позволяет расширить ассортиментисследуемых объектов с более развитыми сложным рельефом, что обеспечиваетполучение информации, наиболее близкойк реальной,формула изобре тенияУстройство автоматической фокусировки изображения в растровом электроныом микроскопе, содержащее систему 3 94нить трудно, поэтому ограничиваются узким диапазоном работы развертки, длякоторого настроен усилитель.Бель изобретения - расширение диапазона рабочих режимов по длительнос- .ти развертки при исследовании объектовсо значительным изменением рельефа поверхности,Указанная цель достигается тем, чтов устройстве...