Устройство для измерения коэффициента фотоэлектрической связи между чувствительными элементами многоэлементного фотоприемника

Номер патента: 1589223

Авторы: Тулубенский, Долганин

Скачать ZIP архив.

Текст

, ГОСУДАРС ПО ИЗОТ ЗОБРЕТЕНИЯ ОП ДЕТЕЛЬСТВ 3(21) 4373423/25-25 (22) 01.02.88 (4 б) 30,08.90, Бюл, У 32 (72) В,Н.Долганин и А.Г.Тулубенский (53) 535.242 (088.8) (56) Ме 1 ег К,Н., Рапеез А,В. 1.одЬас 18 гоипй 1 ат 8 еареггпге 1 пгагед аеазцтешепй тас 111 гу: Йеах 8 ц сопз 1.- детадоп - Арр 1. Орг 1 св. 1978, ч,17, У 22. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ СВЯЗИ МЕЖДУ ЧУВСТВИТЕЛЬНЫМИ ЭЛЕМЕНТАМИ МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО ФОТОПРИЕМНИКА (5) Изобретение относится к метрологии многоэлементных фотоприемников (МФП) и может быть использовано для измерения коэффициента фотоэлектрической связи между чувствительными элементами МФП. Изобретение позволяет повысить точность измерения и упростить процесс измерения благодарясозданию в плоскости площадок многоэлементного фотоприемника облученности с меньшим коэффициентом засветки площадок, соседних с облученной,а также благодаря возможности проведения всего двух юстировок интерференционной картины относительно пло"щадок МФП 5, создаваемой в их плоскости с помощью когерентного источника излучения 1, поворотного зер.кала 2 и двухщелевой диафрагмы 3 срасстоянием между центрами щелей, определяемым длиной волны источникаизлучения 1, расстоянием от двухщелевой диафрагмы 3 до плоскости фоточувствительных элементов МФП 5 и периодом расположения элементов МФП,(3) 1= 2( Ь,Тнт 2 Твфп 50 Ь Ьунт мнн11-2 м фс2 Кздс3Изобретение относится к метрологии многоэлементных фотоприемниКов(МФП) и может быть использовано дляизмерения коэффициента Фотоэлектрической связи (ФЭС) между чувствительными элементами МФП,Целью изобретения является повы -шение точности измерения,На фиг.1 представлена принципиальная схема устройства,цля иэмерейия коэффициента ФЭС между чувствительными элементами МФП, на Фиг.2двухщелевая диафрагма, имеющая размер щелей В и расстояние между центрами щелей д; на фиг.З - интерференционные картины в плоскости чувствительных элементов МФП при двух положениях поворотного зеркала.Устройство для определения коэфФициента ФЭС содержит источник 1 когерентного излучения, поворотноезеркало 2, расположенную под угломк нему двухщелевую диафрагму 3 идержатель 4, на котором закрепленИФП 5 (фиг.1) Устройство создает вплоскости чувствительных элементовМФП 5 распределение облученности 6с периодом Т,Устройство работает следующимобразом.Излучение от когерентного источника 1 с длиной волны , отражаясьот поворотного зеркала 2, попадает надвухщелевую дифрагму 3.Излучение, дифрагированное на щелях, образует в плоскости чувствительных элементов МФП 5 интерференционную картину, Период интерференционной картины Т, ранен удвоенномуинтпериоду расположения площадок МФП: и определяется длиной волны излучения , расстоянием Ь от двухщелевойдиафрагмы 3 до чувствительных элементов и расстоянием между центрамищелей (Фиг.2) в соответствии с соотношением Изменяя размер д, можно регулировать период интерференционной картины, что позволяет измерять коэффициент ФЭС у МФП 5 с различным периодом расположения элементов,Закон распределения облученности интерференционной картины в пределах чувствительных площадок МФП 5 близокк синусоидальному (с амплитудой, изменяющейся не более чем на 2 Х, и постоянной составляющей, практическисовпадающей по величине с амплитудой), если ширина щели Ь ( О, 12й/Х,где И - число измеряемых элементовМФП. В этом случае величина коэффициента засветки Кв пределах Н 1 0чувствительных элементов практически постоянна и близка к минимальновозможной для данной топологии чувствительных элементов МФП.Совмещение экстремумов интерференционной картины с центрами чувствительных элементов МФП производится путем изменения угла падения лучей от источника 1 излучения на двух-.щелевую диафрагму с помощью поворотного зеркала 2 (фиг.З). Перемещение1 интерференционной картины в плоскости МФП связано с углом поворота(р зеркала 2 соотношением Для устранения методической по.- грешности, возникающей при наличиисимметричных связей у облучеиногоэлемента МФП 5, коэффициент ФЭС определяют следующим образом, Первоначально путем поворота зеркала 2(фиг. 3) добиваются совмещения максимумов интерференционной картиныс центрами элементов МФП 5, например четных. Напряжения сигналов отэлементов Фиксируются в виде: Ц,для нечетных элементов иминмаксмаксОБдля четных элементов.40Затем путем поворота зеркала 2на угол Ч = Т ,(2 Ь максимумы интерференционной картины совмещаютс соседними нечетными элементамиМФП и сигналы от них Фиксируются ввиде Б, , П 3для ичетныхмаис максенн минэлементов и Б", Пдля четных элементов.Коэффициенты ФЗС определяют путем решения системы уравнений ц мин К, +К Кс, минК(Н 1) 11 миссзас1589223 где К,К.э"ф (.)коэффициенты фотоэлектрическойсвязи между 1 и 2,2 и 3 , ИиИ элементами соотвеТственно,коэффициент засветки,5Относительную погрешность. измерения коэффициента ФЭС между чувствительными элементами МФП при учете потока, попадающего на необлученную площадку, определяют по формуле фзс К м К ановлено зеркало с рота, при этом всвыполнен когерентвиде двухщелевой оянием д между цен еляемым из соотноополнительн зможностью по чник излучени во маска - в мы с расс лей, опре иафра ами щ ни УТффп где И длина волньчения;расстояниеплоскости фэлементов м сточни злуы от диафра оточувств ногоэлеме ельных ног фотоприемника; период располо ствительных эл Т точувия ентов о лементного фотопри ика. При реализации устройства точность измерения коэффициента ФЭС повышается так как глубина модуляциии облученности чувствительных элементов ИФП максимальна и, следовательно коэффициент засветки минимален.Формула изобретенияУстройство для измерения коэффициента фотоэлектрической связи между 2 чувствительными элементами многоэлементного фотоприемника, содержащее источник излучения, расположенные последовательно по ходу излучения маску с отверстиями .и держатель, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений, .между источником излучения и маской К определяется как отношениеЗаспотоков с неосвещенной и освещен-нои площадок.1589223 СоставителРедактор А,Лежнина Техред И ректор Л,Пилипенк раж 563 Подписно оизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 10 Заказ 2539 ВНИИПИ Госу венного комитет113035, Иосква к Як+1 Ф 08А.Белякидык по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССР

Смотреть

Заявка

4373423, 01.02.1988

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-3726

ДОЛГАНИН ЮРИЙ НИКИТОВИЧ, ТУЛУБЕНСКИЙ АЛЕКСЕЙ ГЕННАДИЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01J 1/04, G01R 31/26

Метки: многоэлементного, элементами, чувствительными, фотоэлектрической, коэффициента, связи, фотоприемника, между

Опубликовано: 30.08.1990

Код ссылки

<a href="http://patents.su/4-1589223-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-koehfficienta-fotoehlektricheskojj-svyazi-mezhdu-chuvstvitelnymi-ehlementami-mnogoehlementnogo-fotopriemnika.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения коэффициента фотоэлектрической связи между чувствительными элементами многоэлементного фотоприемника</a>

Похожие патенты