Скачать ZIP архив.

Текст

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советския Социалистическив Республик(22) Заявлено 20,11.81 (21) 3355509/18-25с присоединением заявки Мо(23) Приоритет -Опубликовано 15 Р 383. Бюллетень Мо 10Дата опубликования описания 15,0383 Р 11 М Кп з 6 01 й 23/207 Государственный комитет СССР по делая изобретений н отнрытий)Специальное конструтсторское бюро Ордена ТрудовоЪо -.Красного Знамени института кристаллографииим. А.В. Шубникова(54) РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР Изобретение относится к научному приборостроению и может быть использовано для рентгеноструктурныхисследований кристаллов.Известен координатный автоматический рентгеновский дифрактометр,включающий плоский двухкоординатныйдетектор, многопроволочную камеру,однокружный гониостат для установкиисследуемого кристалла в положенияотражения, источник рентгеновскогоизлучения с коллиматором и монохро.матором первичного пучкаИНаиболее близким техническим решением к изобретению является рентгеновский дифрактометр, включающийисточник рентгеновских лучей, плоский двухкоординатный детектор, установленный с возможностью перемещения относительно источника, гониометр с держателем образца, меха-,низм поворота источника относительно держателя образца 2),Недостаток известного устройствасостоит в резком ухудшении пространственного разрешения при отклонениирегистрируемых лучей от нормали кповерхности детектора. Угловое разрешение детектора .и телесный уголрегистрации дифракционной картины определяют максимальные параметрыэлементарной ячейки исследуемогокристалла и число отражений, которое можно измерить при одном полномповороте образца.Цель изобретения состоит в повышении разрешающей способности прирегистрации дифракционной картины.Поставленная цель достигается тем, .что рентгеновский дифрактометр, включающий источник рентгеновского излучения, плоский двухкоординатныйдетектор, установленный с возможностью перемещения относительно источника излучения, гониометр с держателем образца и механизм поворотаисточника излучения относительно держателя образца, снабжен .платформой,установленной с воэможностью поворота вокруг оси гониометра, на которой смонтирован источник излучения с воэможностью поворота вокругоси, перпендикулярной гониометрической оси и проходящей через обра- .25 зецНа чертеже изображен дифрактометр.Устройство включает источник рентгеновского излучения 1, плоский двух.координатный детектор 2, установленный с .возможностью перемещения от 1004834носительно источника излучения, гониометр 3 с держателем 4 кристалла5, устройство угловой установки источника излучения 6 относительнокристалла, платформу 7 для поворотаисточника вокруг вертикальной осигониометра и оси, перпендикулярнойей и прохо 1 ящей через центр гониометра, а также гелиевый буфер 8,размещенный между исследуемым кристаллом и двухкоординатным детектором 10Описанный дифрактометр работаетследующим образом,На кристалл 5, установленный нагониометре 3, направляют монохроматизированный и коллимированный пучок 15рентгеновских лучей от источникарентгеновского излучения 1, Возни"кающая двумерная дифракционная картина регистрируется с помощью двухкоординатного детектора 2. Юстиро"ванне кристалла производится поворотами держателя 4 с кристаллом вокруг трех независимых осей ч хг, Хгониометра. Измерение рентгеновскихотражателей происходит при непрерыв- дном сканировании держателя с кристаллом вокруг вертикальной осиФ .Выбор оптимальной геометрии съемкии достижение необходимого при исследовании разрешения осуществляетсяпутем поворотов источника рентгеновского излучения вокруг вертикальнойоси гониометра и оси, перпендикулярной ей и проходящей через центр гониометра с помощью устройства угловойустановки источника излучения 6 иплатформы 7. Для уменьшения поглощения рентгеновских лучей в воздухе,идущих от кристалла до детектора,используется гелиевый буфер 8,Предлагаемое устройство позволяет 40беэ дополнительных поворотов, накло-,нов и смещений двухкоординатного детектора измерить дифракционную картину с высоким разрешением.Повороты источника излучения обес печиваются с высокой точностью, чтопозволяет устранить ошибки в расчетеположений дифракционных отражений,связанных с погрешностями при перемещении детектора и тем самым повысить общую точность измерений интенсивностей.Кроме того,предложенный дифрактометр дает возможность испольэовать общий случаЯ наклонной геометрии съемки, при котором плоский детектор перпендикулярен экваториальной плоскости съемки и касается сферы Эвальда своей центральной точкой.Такая геометрия съемки позволяет по сравнению с методом перпендикулярного пучка сократить в пять раэ недоступную область обратного пространства исследуемого кристалла и существенно уменьшить угловую раходимость измеряемых отражений с большими значениями углов, что упрощает методику исследования, улучшает пространственное разрешение и, в конечном итоге, дает воэможность изучать монокристаллы с большими параметрами элементарной ячейки и с,более высоким разрешением, чем метод перпендикулярного пучка.Формула изобретенияРентгеновский дифрактометр, вклю"чающий источник рентгеновских лучей,плоский двухкоординатный детектор,установленный с возможностью перемещения относительно источника, гониометр с держателем образца, механизм поворота источника относительно держателя образца, о т л и ч а "ю щ и й с я тем, что, с целью повышения разрешающей способности прирегистрации дифракционной картины,он,снабжен платформой, установленной с возможностью поворота вокругоси гониометра, на которой смонтирован источник излучения с воэмож-.ностью поворота вокруг оси, перпендикулярной .гониометрической оси ипрохОдящей через образец.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. 4. Хцоп 9 е а 1. ффТЬе Е 1 есйго"ис Вйай 1 опагу Рсйцге МейЬод ЬогН 9 Ь-Брид Меавцгевепй оГ йег 1 сй 1 оппйецэ 1 С 1 еь лагоа Сгуэйа н 1 йЬ агреОпа Сеа". Асйа Сгущай. 1978, А,р. 289-296.2, Мокулеская Т.Д.,Кузев С.В,и др, Измерительная система длярентгено-структурных исследованийна основе многоканальных дифрактометров АРГУС. Препринт ИАЭ/15,м 1980 прототип).1004834 Составитель Е. СидохинТехред Т,Маточка Корректор Г. Решетн Эктор Л. Повхан 1870 Тираж 871Государственногелам изобретенийсква, Ж, Рауш но ППП "Патент", гУжгород, ул. Проектная, 4 Фи ВНИИПИ по д 113035, МПодпискомитета СССРи открытийсная наб д, 4

Смотреть

Заявка

3355509, 20.11.1981

СПЕЦИАЛЬНОЕ КОНСТРУКТОРСКОЕ БЮРО ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТА КРИСТАЛЛОГРАФИИ ИМ. А. В. ШУБНИКОВА

ХЕЙКЕР ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ, ПОПОВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ, ЗАНЕВСКИЙ ЮРИЙ ВАЦЛАВОВИЧ, ПЕШЕХОНОВ ВЛАДИМИР ДМИТРИЕВИЧ, ЧЕРНЕНКО СЕРГЕЙ ПАВЛОВИЧ, АНДРИАНОВА МАРИЯ ЕГОРОВНА, МИРЕНСКИЙ АНАТОЛИЙ ВЕНИАМИНОВИЧ, ГУСЕВ ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 23/207

Метки: рентгеновский, дифрактометр

Опубликовано: 15.03.1983

Код ссылки

<a href="http://patents.su/3-1004834-rentgenovskijj-difraktometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Рентгеновский дифрактометр</a>

Похожие патенты