Способ определения долговечности низковольтных электрических конденсаторов постоянной емкости с керамическим диэлектриком 1 типа без их разрушения

Номер патента: 447765

Авторы: Бруштейн, Исаков, Гусев, Воловик, Пшеничный

Скачать ZIP архив.

Текст

ц 447765 Союз Советских Социалистических Республик(51) М. Кл. Н 01 д 3/О осударственныи комитетСовета Министров СССРпа делам изобретенийи открытий(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИЗКОВОЛЬТНЫХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ КОНДЕНСАТОРОВПОСТОЯННОЙ ЕМКОСТИ С КЕРАМИЧЕСКИМДИЭЛЕКТРИКОМ 1 ТИПА БЕЗ ИХ РАЗРУШЕНИЯ 2 Предмет изобретения Изобретение касается радиотехники.Известен способ определения долговечности низковольных электрических конденсаторов постоянной емкости с керамическим диэлектриком 1 типа, основанный на выдержке конденсаторов под напряжение постоянного тока. Однако этот способ является разрушающим, при этом время определения долговечности конденсаторов значительно.Для сокращения времени определения долговечности конденсаторов, конденсаторы нагревают до предельно допустимой рабочей температуры, подают на них напряжение звуковой частоты, измеряют тангенс угла потерь на этой частоте, обусловленной током проводимости диэлектрика, и по его величине определяют долговечность контролируемых образцов конденсаторов.Для определения долговечности конденсаторы нагревают до предельно допустимой установившейся температуры, затем подают на них напряжение звуковой частоты (50 - 100 гц) и производят измерение тангенса угла потерь, по величине которого определяют долговечность конденсаторов, пользуясь при этом предварительно полученной для данного конкретного типа конденсатора зависимостью между долговечностью и значением тангенса 5 угла потерь. Способ определения долговечности низко вольтных электрических конденсаторов постоянной емкости с керамическим диэлектриком 1 типа без их разрушения, основанный на выдержке конденсаторов под напряжением постоянного тока, о т л и ч а ю щ и й с я тем, 15 что, с целью сокращения времени определениядолговечности конденсаторов, последние нагревают до предельно допустимой рабочей температуры, подают на конденсаторы напряжение звуковой частоты, измеряют тангенс 20 угла потерь конденсаторов на этой частоте,обусловленный током проводимости,диэлектрика, и по его величине определяют долговечность контролируемых образцов конденсаторов.

Смотреть

Заявка

1654379, 10.05.1971

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Х-5425

ГУСЕВ ВЕНИАМИН НИКОЛАЕВИЧ, ГУСЕВ ВАЛЕРИЙ ВЕНИАМИНОВИЧ, ИСАКОВ НИКОЛАЙ МИХАЙЛОВИЧ, ВОЛОВИК МОРДУХ ЮДОВИЧ, ПШЕНИЧНЫЙ ИВАН СЕРГЕЕВИЧ, БРУШТЕЙН ВИКТОР ШЕВЕЛЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: H01G 3/09

Метки: разрушения, типа, емкости, диэлектриком, конденсаторов, низковольтных, керамическим, электрических, постоянной, долговечности

Опубликовано: 25.10.1974

Код ссылки

<a href="http://patents.su/1-447765-sposob-opredeleniya-dolgovechnosti-nizkovoltnykh-ehlektricheskikh-kondensatorov-postoyannojj-emkosti-s-keramicheskim-diehlektrikom-1-tipa-bez-ikh-razrusheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения долговечности низковольтных электрических конденсаторов постоянной емкости с керамическим диэлектриком 1 типа без их разрушения</a>

Похожие патенты